公开(公告)号：CN117579944A

公开(公告)日：2024-02-20

申请号：CN202311529625.2

申请日：2023-11-15

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 陈涛 ,  符均 ,  陈希 ,  刘岱欣 ,  王一恒 ,  丁子硬

IPC: H04N23/76 ,  G06T5/80 ,  H04N23/71

Abstract: 本发明公开了一种基于饱和校正与细节增强的过曝光图像处理方法及系统，获得原始的过曝光图像数据Iin；对过曝光图像数据Iin进行空间光照估计及全局曝光校正处理，得到全局曝光校正结果图像RI；对全局校正结果图像RI区分不同通道饱和类型，依次进行单通道、双通道、三通道的饱和像素校正处理，得到校正后的图像IΩ；对校正后图像IΩ进行双边滤波处理，输出结果图像Iout。本发明通过对图像过曝光区域有着很好的处理效果，能够有效恢复饱和区域的细节信息，增强对比度，让处理后图像的视觉质量大幅提升，更贴近人眼视觉，同时对原有较暗背景信息保持较好，并没有进行过多干预。

公开(公告)号：CN117522763A

公开(公告)日：2024-02-06

申请号：CN202311527725.1

申请日：2023-11-15

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 符均 ,  陈涛 ,  陈希 ,  王一恒 ,  刘岱欣 ,  丁子硬

IPC: G06T5/94 ,  G06T7/00 ,  G06T7/90

Abstract: 本发明公开了一种基于图像显著特征的过曝光图像饱和像素检测方法及系统，获取待检测图像，对图像显著特征进行提取，获得图像灰度对比度特征值、空间邻域特征值、亮度颜色特征值；根据图像灰度对比度特征值、空间邻域特征值、亮度颜色特征值计算像素过曝光衡量指标Ψ；当像素过曝光衡量指标Ψ＞0.5时，图像中对应像素点为过曝光点；根据过曝光点数占图像总像素点数的比例判定图像是否为过曝光图像。本发明检测出的图像中的过曝光点呈现出明显的区域性，且过曝光区域更加紧凑，表现出较强的整体性。