反向角度垂直梳齿微镜驱动结构、驱动微镜及其制备方法

    公开(公告)号:CN116300053A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310281000.2

    申请日:2023-03-21

    Abstract: 本发明公开了一种反向角度垂直梳齿微镜驱动结构、驱动微镜及其制备方法,反向角度垂直梳齿微镜驱动结构包括主体和盖合在主体上的盖板;盖板包括盖板基底,盖板基底下表面固定有错位激活凸台和倾角激活凸台;主体包括定子锚、定梳齿、动梳齿和主体基底,定梳齿延伸自定子锚,定子锚通过蛇形梁与主体基底连接;动梳齿与定梳齿互相交错,与定梳齿构成反向角度垂直梳齿微镜驱动结构;当盖板和主体组装时,错位激活凸台下压与定梳齿连接的部件,使定梳齿和动梳齿产生垂直高度差;定子锚被倾角激活凸台下压,使定梳齿翘起。其相较于AVC结构定梳齿与动梳齿重叠面积更大,能提供更大的吸引力,且微镜转动角度越大,优势越明显。

    一种基于静电激励电容检测的差分式硅谐振压力传感器

    公开(公告)号:CN116907694A

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202310889509.5

    申请日:2023-07-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于静电激励电容检测的差分式硅谐振压力传感器,属于微纳传感器技术领域,包括基底层、受拉谐振器和受压谐振器,所述基底层包括压力敏感膜与固定在压力敏感膜上的硅岛;所述受拉谐振器布置在压力敏感膜的受拉区域,所述受压谐振器布置在压力敏感膜的受压区域;所述拉谐振器与受压谐振器通过硅岛与压力敏感膜连接;所述受拉谐振器与受压谐振器结构相同。该压力传感器有效提升传感器的灵敏度,并降低了温度和封装应力对谐振器的影响,从而提高传感器的输出精度。

    用于高温环境温压集成芯片测试的温度校准装置和方法

    公开(公告)号:CN115752810A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211506399.1

    申请日:2022-11-28

    Abstract: 本发明公开了一种用于高温环境温压集成芯片测试的温度校准装置和方法,包括热电偶、固定装置和信号采集器;所述固定装置包括陶瓷板,所述陶瓷板上设置有限位凸台、第一焊盘和第二焊盘,所述限位凸台一端与热电偶的热电偶外壳端面相接触,所述限位凸台用于安装温压集成芯片,进行校准时,所述热电偶的热电偶温度探头和温压集成芯片相接触;所述温压集成芯片通过第一焊盘与第二焊盘连接,所述第二焊盘通过导线与信号采集器连接。该装置能在空气中耐受600℃及以上高温,并且可对600℃及以上高温环境进行温度校准,精准获取高温环境下温压集成芯片感压处的温度参数,实现对温度单元的温度校准以及对压力单元零压温度漂移的补偿。

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