公开(公告)号：CN110806506A

公开(公告)日：2020-02-18

申请号：CN201911012542.X

申请日：2019-10-23

申请人： 西安交通大学

发明人： 赵小龙 ,  贺永宁 ,  胡扬波 ,  叶鸣 ,  曹智

IPC分类号： G01R27/02 ,  G01R23/16 ,  G01R27/28

摘要： 本发明公开了一种用于射频频段电接触元件的接触阻抗测量系统及方法，其采用单频信号激励待测接触元件，利用调零单元将反射信号中由其他结构产生的响应扣除以提高测量灵敏度，通过测量调零单元输出信号的幅度和相位，计算待测接触元件的接触阻抗。本发明提取的电接触元件的接触阻抗能够用于射频系统阻抗失配、无源互调和辐射杂散干扰等问题的仿真设计以及评估不同接触元件电连接质量的优劣，从而指导射频系统设计。

公开(公告)号：CN110806506B

公开(公告)日：2020-10-27

申请号：CN201911012542.X

申请日：2019-10-23

申请人： 西安交通大学

发明人： 赵小龙 ,  贺永宁 ,  胡扬波 ,  叶鸣 ,  曹智

IPC分类号： G01R27/02 ,  G01R23/16 ,  G01R27/28

摘要： 本发明公开了一种用于射频频段电接触元件的接触阻抗测量系统及方法，其采用单频信号激励待测接触元件，利用调零单元将反射信号中由其他结构产生的响应扣除以提高测量灵敏度，通过测量调零单元输出信号的幅度和相位，计算待测接触元件的接触阻抗。本发明提取的电接触元件的接触阻抗能够用于射频系统阻抗失配、无源互调和辐射杂散干扰等问题的仿真设计以及评估不同接触元件电连接质量的优劣，从而指导射频系统设计。