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公开(公告)号:CN111693839B
公开(公告)日:2021-09-07
申请号:CN202010554935.X
申请日:2020-06-17
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种分辨SiC MOSFET在体二极管重复浪涌电流下退化原因的方法,通过单次浪涌电流实验确定SiC MOSFET体二极管的单次浪涌电流能力,测量SiC MOSFET的静态特性和动态特性,进行重复浪涌电流试验,比较浪涌电流实验后SiC MOSFET的静态特性、动态特性以及提取的参数的退化,分辨器件的退化原因,确定SiC MOSFET的退化原因中是否包含双极退化,比较体二极管特性以或体二极管压降的变化,确定SiC MOSFET的退化原因中是否包含封装退化,是否包含栅氧退化,比较小电流下的转移特性或阈值电压的变化,实现了退化原因的有效解耦,有利于了解器件的失效机理。
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公开(公告)号:CN119446612A
公开(公告)日:2025-02-14
申请号:CN202411532352.1
申请日:2024-10-30
Applicant: 西安交通大学
IPC: G21F1/10
Abstract: 本发明公开了一种基于无溶剂钨基流体的中子、伽马复合屏蔽材料及其制备方法和应用,属于辐射防护技术领域。本发明公开的复合屏蔽材料,通过在纳米WO3粉末表面接枝硅烷偶联剂‑聚醚胺有机分子长链,制备得无溶剂钨基流体,降低了纳米WO3的表面能,改善纳米WO3粉末作为填料时的与热塑性聚氨酯基体之间的界面相容性,增加了纳米WO3粉末在基体中的分散度,减少纳米粒子的团聚现象,提高该复合屏蔽材料得屏蔽性能。
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公开(公告)号:CN111693839A
公开(公告)日:2020-09-22
申请号:CN202010554935.X
申请日:2020-06-17
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种分辨SiC MOSFET在体二极管重复浪涌电流下退化原因的方法,通过单次浪涌电流实验确定SiC MOSFET体二极管的单次浪涌电流能力,测量SiC MOSFET的静态特性和动态特性,进行重复浪涌电流试验,比较浪涌电流实验后SiC MOSFET的静态特性、动态特性以及提取的参数的退化,分辨器件的退化原因,确定SiC MOSFET的退化原因中是否包含双极退化,比较体二极管特性以或体二极管压降的变化,确定SiC MOSFET的退化原因中是否包含封装退化,是否包含栅氧退化,比较小电流下的转移特性或阈值电压的变化,实现了退化原因的有效解耦,有利于了解器件的失效机理。
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