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公开(公告)号:CN120015191A
公开(公告)日:2025-05-16
申请号:CN202510069845.4
申请日:2025-01-16
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种薄膜热电偶敏感材料体系的第一性原理筛选方法及系统,获取候选材料的晶体结构,从数据库中获取标准晶体模型,根据实际选材要求进行模型调整;将调整后的模型转换为POSCAR晶体文件,通过结构优化收敛后进行自洽计算,随后进行电子结构计算,得到晶体的电子结构和能带数据;将得到的电子结构和能带数据进行处理,基于形变势理论得到敏感材料的有效质量、形变势能、弹性常数,计算得到材料的载流子迁移率;将得到的电子结构、能带数据、材料的载流子迁移率进行热电计算,得到敏感材料的塞贝克系数与电导率,筛选出具有高热电性能的材料作为薄膜热电偶的敏感材料。解决材料选型存在的实验周期长、实验成本高、实验存在误差的问题。