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公开(公告)号：CN105659830B
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：CN201010051421.9
申请日：2010-11-15
申请人： 西安应用光学研究所
摘要： 本发明公开了一种常温面源黑体有效发射率的均匀性校准方法，属于红外光学计量测试领域。该方法通过镓熔融点黑体的熔融温度、铟凝固点黑体的凝固温度来校准变温标准黑体，从而获得变温标准黑体在常温范围内的有效发射率-温度关系曲线，据此再用变温标准黑体校准并测量常温面源黑体的有效发射率，进而通过移动精密二维平台来校准面源黑体在常温下各点的有效发射率及其均匀性。本方法在完成对变温标准黑体有效发射率量值溯源的基础上，实现了对大面积常温面源黑体各点有效发射率的标定，能准确地解释待标常温面源黑体的温度与有效发射率之间的相关性。本发明具有校准省时、校准数据准确而可靠的特点。
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公开(公告)号：CN111986171B
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202010822606.9
申请日：2020-08-14
申请人： 西安应用光学研究所
摘要： 本发明公开了一种用于红外线阵探测器的异常元检测方法，包括以下步骤：1：从输入图像序列中的每一行，选取采样点；2：将每个采样点的灰度值，与其上下邻近行的像素分别取差值，并将所有差值的绝对值取和，得到该行与上下邻近行的灰度阶跃值；3：设置灰度阶跃阈值，将所有行遍历统计得到的灰度阶跃值，与灰度阶跃阈值进行比较，超出灰度阶跃阈值的像元作为准异常元；4：在准异常元中，按照灰度阶跃值大小排序列表，并在列表中取规定个数的准异常元，作为最终异常元。本发明通过实时的图像分析和数据分析，不仅解决了盲元检测，而且针对随机出现的闪元，算法容易实现，能够实现自动实时检测，极大地提高了热像仪的调试效率、适应性和(56)对比文件CN 110887563 A,2020.03.17JP H0537969 A,1993.02.12CN 103076156 A,2013.05.01Patrick P. K. Chan.Face LivenessDetection Using a Flash Against 2DSpoofing Attack《.IEEE Transactions onInformation Forensics and Security (Volume: 13, Issue: 2, February 2018)》.2017,全文.刘高睿.红外线列探测器闪元噪声分析与抑制方法《.红外与毫米波学报》.2018,全文.陈大川.红外焦平面阵列盲元检测及补偿算法《.激光与红外》.2008,全文.
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公开(公告)号：CN103308185B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201310214842.2
申请日：2013-05-31
申请人： 西安应用光学研究所
摘要： 本发明公开了一种用于四杆靶标扫描的红外辐射计，属于红外光学计量与光电检测领域。该红外辐射计在传统红外辐射计的基础上增加了一个单向缩小镜，该单项缩小镜是由焦距之比为1：n的两个柱面镜组构成的望远系统,并将柱面镜组的柱高方向设置为测量光路的弧矢方向，由此可以实现把子午方向的视场缩小n倍，而弧矢方向的视场不变的功能。本发明提供的红外辐射计能够一次成像完成一个高宽比为n：1的靶孔或靶孔间的实体间隙部分的探测，不仅提高了测量效率，还能避免数据拼接导致的标定精度下降的问题。
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公开(公告)号：CN103777659A
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201410001961.4
申请日：2014-01-01
申请人： 西安应用光学研究所
IPC分类号： G05D23/20
摘要： 本发明公开了一种常温点源黑体，属于光学计量领域。其技术特点是：由半导体制冷片和散热片组成的多个环形驱动器沿轴向安装在多棱柱状黑体腔体的外侧壁上，以实现对常温点源黑体的温度控制；在黑体腔体侧壁上的三个不同的轴向位置上均布置温度传感器，使黑体腔体内部的整体温度能够得到准确控制；在机箱的前后端面分别设置弧形进气口和散热风扇，以便与机箱内的空隙一起构成空气循环通道，从而保证了黑体腔体内部温度的均匀性，并使本发明的发射率达到0.998。本发明很好地解决了外场试验和快速测量场合所需要的高发射率黑体辐射源的问题；同时具有体积小、质量轻、升降温速度快、便于携带的优点。
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公开(公告)号：CN103743489A
公开(公告)日：2014-04-23
申请号：CN201410001199.X
申请日：2014-01-01
申请人： 西安应用光学研究所
IPC分类号： G01J5/00
摘要： 本发明公开了一种基于标准面源黑体的红外辐射计比例常数标定方法，属于红外光学辐射领域。该标定方法针对目前红外辐射计斩波器喷涂高发射率黑漆和带有四个温度探头的特点，在斩波器温度与内置控温参考黑体温度相等时采集信号，避免斩波器的附加辐射进入探测器，此外，还要求在采集信号时，环境温度、壳体内部温度与斩波器温度相等，使得环境、壳体与斩波器之间的辐射动态平衡，这样就可以消除斩波器、壳体内部以及环境等附加辐射的影响。另外，该标定方法还在常用环境温度范围内进行了多个温度点的标定，弥补了传统方法中以一个温度点标定而代替多个温度点进行标定的以点带面的不足之处。与传统方法相比，这种红外辐射计比例常数标定方法的精度更高。
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公开(公告)号：CN117968861A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202311668946.0
申请日：2023-12-07
申请人： 西安应用光学研究所
摘要： 本发明公开了一种基于双光路动态耦合实时调制测试系统的红外辐射测试方法，属于红外辐射计量技术领域。本方法采用凝固点黑体调节测试系统辐射信号输入的双光路通道平衡，采用反射式斩波器使信号动态耦合，实现双路红外辐射的实时调制比对，环境温度变化、探测器非线性响应、光学系统的衰减等干扰相同，测量主光路一致，透射式光学系统设计减少了光学元件数量，尽可能地降低了测量时的系统误差，满足(50～1000)℃中温黑体的高准确度计量测试需求。主要用途包括校准并测量中温黑体的有效发射率、均匀性、稳定度等性能参数。本方法的光路有更少的光学元件、更低的调试难度、校准数据有更高的准确度。
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公开(公告)号：CN103743489B
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201410001199.X
申请日：2014-01-01
申请人： 西安应用光学研究所
IPC分类号： G01J5/00
摘要： 本发明公开了一种基于标准面源黑体的红外辐射计比例常数标定方法，属于红外光学辐射领域。该标定方法针对目前红外辐射计斩波器喷涂高发射率黑漆和带有四个温度探头的特点，在斩波器温度与内置控温参考黑体温度相等时采集信号，避免斩波器的附加辐射进入探测器，此外，还要求在采集信号时，环境温度、壳体内部温度与斩波器温度相等，使得环境、壳体与斩波器之间的辐射动态平衡，这样就可以消除斩波器、壳体内部以及环境等附加辐射的影响。另外，该标定方法还在常用环境温度范围内进行了多个温度点的标定，弥补了传统方法中以一个温度点标定而代替多个温度点进行标定的以点带面的不足之处。与传统方法相比，这种红外辐射计比例常数标定方法的精度更高。
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公开(公告)号：CN117707258A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311668941.8
申请日：2023-12-07
申请人： 西安应用光学研究所
IPC分类号： G05D23/24
摘要： 本发明属于红外光学计量测试技术领域，主要涉及一种控制电热型黑体温度稳定方法，具体为一种基于铂电阻或热电偶测温的电热型黑体温度复合控制方法，在黑体温度控制结构中插入设定目标温度滤波环节，采用微分先行温控方法，发明了温升段散热补偿常量与智能积分控制组合代替常规积分控制方法，这种多模式组合控制方法，解决了黑体温升超调引起温度振荡导致的温度控制稳定性差的技术难题，也平滑了黑体启动时的温控量饱和对温控仪的冲击。
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公开(公告)号：CN111986171A
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN202010822606.9
申请日：2020-08-14
申请人： 西安应用光学研究所
IPC分类号： G06T7/00
摘要： 本发明公开了一种用于红外线阵探测器的异常元检测方法，包括以下步骤：1：从输入图像序列中的每一行，选取采样点；2：将每个采样点的灰度值，与其上下邻近行的像素分别取差值，并将所有差值的绝对值取和，得到该行与上下邻近行的灰度阶跃值；3：设置灰度阶跃阈值，将所有行遍历统计得到的灰度阶跃值，与灰度阶跃阈值进行比较，超出灰度阶跃阈值的像元作为准异常元；4：在准异常元中，按照灰度阶跃值大小排序列表，并在列表中取规定个数的准异常元，作为最终异常元。本发明通过实时的图像分析和数据分析，不仅解决了盲元检测，而且针对随机出现的闪元，算法容易实现，能够实现自动实时检测，极大地提高了热像仪的调试效率、适应性和产品质量。
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公开(公告)号：CN103777659B
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201410001961.4
申请日：2014-01-01
申请人： 西安应用光学研究所
IPC分类号： G05D23/20
摘要： 本发明公开了一种常温点源黑体，属于光学计量领域。其技术特点是：由半导体制冷片和散热片组成的多个环形驱动器沿轴向安装在多棱柱状黑体腔体的外侧壁上，以实现对常温点源黑体的温度控制；在黑体腔体侧壁上的三个不同的轴向位置上均布置温度传感器，使黑体腔体内部的整体温度能够得到准确控制；在机箱的前后端面分别设置弧形进气口和散热风扇，以便与机箱内的空隙一起构成空气循环通道，从而保证了黑体腔体内部温度的均匀性，并使本发明的发射率达到0.998。本发明很好地解决了外场试验和快速测量场合所需要的高发射率黑体辐射源的问题；同时具有体积小、质量轻、升降温速度快、便于携带的优点。
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