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公开(公告)号:CN118733378A
公开(公告)日:2024-10-01
申请号:CN202410707430.0
申请日:2024-06-03
申请人: 西安电子科技大学
IPC分类号: G06F11/30 , G06F11/10 , G06F30/343
摘要: 本发明公开了一种基于网表文件信号引出的FPGA内部批量信号监测方法及系统,主要解决现有FPGA内部批量信号难以通过I/O接口直接向外传输,在辐照条件下出现单粒子翻转不能被及时观测到的问题。其实现步骤是:网表文件信号引出模块解读FPGA网表文件层次,修改网表内容,新建一例多位信号,将批量关键信号所涉及的网表资源的状态信息引入到新建的多位信号的每一位上;关键信号组帧模块用于对多位信号逐位进行组帧编码并对PS端实时传输数据帧;PS端观测模块用于解析数据帧,监测批量关键信号状态。本发明实现了监测FPGA内部批量信号运行状态,对辐照条件下SEU效应的自适应防护决策提供了技术基础。
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公开(公告)号:CN115776340A
公开(公告)日:2023-03-10
申请号:CN202111036475.2
申请日:2021-09-06
申请人: 西安电子科技大学
IPC分类号: H04B10/516 , H04B10/548 , H04B10/572 , H04B10/118 , H04B10/2507 , H04B10/70
摘要: 本发明公开了一种星上微波光子柔性转发方法,该方法涉及微波技术领域和光通信技术领域。所述方法如说明书附图图1所示,包括激光器LD,耦合器OC,偏振复用的马赫曾德尔调制器PDM‑MZM、偏压控制器BC、波分复用器WDM、N*N微机电系统MEMS全光交换机、相位调制器PM、掺铒光纤放大器EDFA、偏振控制器PC、起偏器Pol、光电探测器PD、电带通滤波器EBPF。射频信号通过载波光梳复制多份,经过光耦合器和波分复用器两级复用后分为多路信道,与另一个偏振态调制的本振信号合路在光交换模块中实现多转发器的光交换,偏振复用后拍频滤波耦合发射,实现柔性转发。本发明克服了双光梳信道化方案中信道化数量少,颗粒度大的问题,在卫星通信、雷达领域均有潜在的应用价值。
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公开(公告)号:CN108573236B
公开(公告)日:2021-06-25
申请号:CN201810363724.0
申请日:2018-04-22
申请人: 西安电子科技大学
摘要: 本发明提出一种基于离散分数布朗随机场的云天背景下红外弱小目标检测方法,首先使用形态学和高斯滤波对红外图像进行预处理;其次对预处理后的结果,计算多尺度Hurst指数图;然后通过比较不同尺度下的Hurst指数,并进行图像的反转和显著性增强,得到最终的Hurst指数图;之后利用改进的类间方差来进一步去除噪声,增强目标显著性;最后在图中找到灰度值最大的点即为红外弱小目标所在位置。本发明利用Hurst参数能表征同一图像区域的自相似性(即灰度表面的均匀程度)的特性,结合多尺度,提高了检测鲁棒性。
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公开(公告)号:CN104572103B
公开(公告)日:2017-07-11
申请号:CN201510009091.X
申请日:2015-01-08
申请人: 西安空间无线电技术研究所 , 西安电子科技大学
摘要: 本发明提供了一种基于分布函数的最坏执行时间WCET快速估计方法,通过对DSP工程目标代码(out文件)进行反汇编获得反汇编文件F;分析反汇编文件F,获取划分的各个基本块,得到程序的基本块集合B;辨识基本块集合B中各基本块之间的关系,构建程序流图C;计算每个基本块的执行时间T;将基本块执行时间T和基本块执行次数Ts作为权值得到加权的程序流图Cw;分析加权的程序流图Cw,获得总权值最大的路径,将最大的总权值作为程序最坏执行时间WCET。解决了现有技术中需运行程序得到测试样本的弊端和人工干预过多的问题以及传统PERT技术中贝塔分布参数估计方法的不合理性问题。
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公开(公告)号:CN104598352B
公开(公告)日:2017-01-11
申请号:CN201510012002.7
申请日:2015-01-08
申请人: 西安空间无线电技术研究所 , 西安电子科技大学
IPC分类号: G06F11/26
摘要: 本发明具体提供了一种用于SRAM型FPGA的快速可靠性评估方法,包括步骤:1)将待处理的VHD源程序按照VHDL硬件语言的设计规则所确定的模块划分准则划分成L个模块;2)结合硬件设计工具ISE,对该L个模块依次进行综合、映射、布局布线及生成XDL文件操作;3)用概率分析法,粗算得到各模块的软错误率并将其添加到粗算集合C1;4)对C1采用最大类间方差算法OSTU选取阈值δ;将软错误率大于δ的模块添加到细算集合C2中;5)对细算集合C2中各模块分别采用蒙特卡洛法进行软错误率SER的精确计算,并将结果从大到小保存于防护集合S中。本发明在保证计算精度的同时,能够尽可能的减少在SRAM型FPGA的可靠性评估过程中的计算时间。
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公开(公告)号:CN114416436A
公开(公告)日:2022-04-29
申请号:CN202111411909.2
申请日:2021-11-25
申请人: 西安电子科技大学
IPC分类号: G06F11/18
摘要: 本发明涉及一种基于SoC芯片面向单粒子翻转效应的可靠性方法,属于芯片电路中可靠性工作的一种方法,其主要技术要点是其可靠性方法包括PL、APU、RPU三个应用单元。所述PL用于执行检测PL内发生软错误的任务;所述APU包含四个处理器内核,采用APU检错机制和APU恢复机制,用于执行PL内发生的软错误识别任务;所述RPU包含两个处理器内核,采用RPU检错机制和RPU恢复机制,用于执行针对识别到软错误生成PL防护加固技术的任务。主要用于在单粒子翻转效应发生的时候防护SoC芯片,减少因软错误的发生,而造成SoC芯片系统中断或运行结果错误,保证SoC芯片能够以更高的安全等级执行给定的任务。
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公开(公告)号:CN112798943B
公开(公告)日:2022-03-08
申请号:CN202110058182.8
申请日:2021-01-16
申请人: 西安电子科技大学
IPC分类号: G01R31/3181 , G01R31/3185
摘要: 本发明公开了一种基于标准输入输出验证的实时FPGA错误检测方法,其包括以下步骤:一、获取FPGA端各个检测对象模块A中交织伴随电路A`的关键数据信息;二、根据步骤一获取的数据信息计算得到交织伴随电路的处理时间信息、输入数据以及输出数据;步骤三、将步骤一和步骤二得到的数据信息分别导入协处理器端,并对FPGA端各个交织伴随电路状态进行实时监测;四、监测到错误后,依据错误检测方法统计各个交织伴随电路的错误信息并指示检测对象电路中的错误模块。本方法通过协处理器端实时监测硬件平台信息,经实验验证后,可准确检测待测模块电路中是否发生SEU效应,完全适用于FPGA设备中SEU效应的实际探测需求。
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公开(公告)号:CN112798943A
公开(公告)日:2021-05-14
申请号:CN202110058182.8
申请日:2021-01-16
申请人: 西安电子科技大学
IPC分类号: G01R31/3181 , G01R31/3185
摘要: 本发明公开了一种基于标准输入输出验证的实时FPGA错误检测方法,其包括以下步骤:一、获取FPGA端各个检测对象模块A中交织伴随电路A`的关键数据信息;二、根据步骤一获取的数据信息计算得到交织伴随电路的处理时间信息、输入数据以及输出数据;步骤三、将步骤一和步骤二得到的数据信息分别导入协处理器端,并对FPGA端各个交织伴随电路状态进行实时监测;四、监测到错误后,依据错误检测方法统计各个交织伴随电路的错误信息并指示检测对象电路中的错误模块。本方法通过协处理器端实时监测硬件平台信息,经实验验证后,可准确检测待测模块电路中是否发生SEU效应,完全适用于FPGA设备中SEU效应的实际探测需求。
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公开(公告)号:CN104572103A
公开(公告)日:2015-04-29
申请号:CN201510009091.X
申请日:2015-01-08
申请人: 西安空间无线电技术研究所 , 西安电子科技大学
摘要: 本发明提供了一种基于分布函数的WCET快速估计方法,通过对DSP工程目标代码(out文件)进行反汇编获得反汇编文件F;分析反汇编文件F,获取划分的各个基本块,得到程序的基本块集合B;辨识基本块集合B中各基本块之间的关系,构建程序流图C;计算每个基本块的执行时间T;将基本块执行时间T和基本块执行次数Ts作为权值得到加权的程序流图Cw;分析加权的程序流图Cw,获得总权值最大的路径,将最大的总权值作为程序最坏执行时间WCET。解决了现有技术中需运行程序得到测试样本的弊端和人工干预过多的问题以及传统PERT技术中贝塔分布参数估计方法的不合理性问题。
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