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公开(公告)号：CN117878623A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202410113700.5
申请日：2024-01-26
申请人： 西安电子科技大学 , 陕西天翌科技股份有限公司
摘要： 一种低副瓣低剖面高增益平板天线阵列，包括由上至下依次连接的介质层、缝隙层、腔体层和馈电层；介质层位于天线上方完整覆盖天线；缝隙层中设有周期排布的领结形缝隙形状，领结形缝隙上方有长槽结构加载改善天线增益；腔体层内部具有矩形腔体，矩形腔体中有金属台阶、脊形结构与销钉结构加载，改善天线的阻抗匹配和增益，各腔体通过馈电层中的6级一分二功分器和一分六功分器级联馈电，使用不等幅功分器实现低副瓣性能；本发明实现了低副瓣高增益辐射，具有结构简单、性能稳定、易加工的优点。
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公开(公告)号：CN116169477A
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202310202526.7
申请日：2023-03-03
申请人： 西安电子科技大学
摘要： 一种基于接收‑发射结构的over‑2‑bit的宽带透射阵列单元、天线及其使用方法，阵列单元包括接收天线及发射天线，接收天线与发射天线间贯穿有金属通孔，阵列天线包括线极化馈源以及宽带透射阵列单元，线极化馈源位于透射阵列单元中心的上方；其使用方法为：将透射阵列单元的接收天线旋转180°，旋转前后产生1‑bit的0°以及180°两个量化相位；同时调节接收天线和发射天线的两侧枝节与矩形贴片连接的位置，实现了连续的0°‑90°的相移范围，即实现0°‑90°和180°‑270°的over‑2‑bit相移范围；本发明通过旋转接收天线与调节矩形贴片与两侧枝节连接的位置相结合的方式实现over‑2‑bit的相位调节，得到低剖面、低损耗且宽频带的透射阵天线，具有结构简单、宽频带、高口径效率的优点。
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公开(公告)号：CN117810686A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202410069115.X
申请日：2024-01-17
申请人： 西安电子科技大学
摘要： 一种双频双圆极化毫米波阵列天线，多层PCB结构，包括由下至上依次连接的馈电层、辐射层和阻抗匹配层；馈电层中存在共面波导到不对称基片集成同轴线(ASICL)的过渡结构，通过过渡金属盲孔实现共面波导与非对称基片集成同轴线馈电网络的过渡；馈电层与辐射层之间存在馈电结构，辐射贴片单元由非对称基片集成同轴线馈电网络以及连接两者的馈电金属盲孔进行馈电，馈电金属盲孔穿过辐射层与非对称基片集成同轴线馈电网络以及第二金属地层相连接，能量由共面波导进入，通过馈电层的引导进入辐射层；本发明实现了辐射单元的紧耦合阵列以及天线整体的高度集成化，所设计的天线具有低损耗，超宽带，低副瓣等优点。
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公开(公告)号：CN117335911A
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN202311267461.0
申请日：2023-09-28
申请人： 西安电子科技大学
IPC分类号： H04B17/391
摘要： 基于多端口散射矩阵的全极化方向回溯阵列散射特性的分析方法及其应用，方法包括：得到接收天线阵列的S参数矩阵SD和接收天线阵列的增益矩阵发射天线阵列的S参数矩阵阵SSp′；D和发射天线阵得到多端口散射参数矩阵中的分块矩阵列的增益矩阵 以及馈电网络的SB和Sc；得到方向S参数矩回溯阵列天线系统模型中接收阵列的接收信号A0；得到全极化方向回溯阵列天线系统模型中的再辐射信号B5，也就是基于多端口散射矩阵的全极化方向回溯阵列散射特性的分析结果；基于多端口散射矩阵的全极化方向回溯阵列散射特性的分析方法用于天线设计或天线测量；本发明具有测量结果准确、适用于任意极化电磁波入射、与实际工程应用场合偏差小的特点。
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公开(公告)号：CN113361069A
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN202110464960.3
申请日：2021-04-28
申请人： 西安电子科技大学
摘要： 本发明属于天线技术领域，公开了一种阵列天线方向图合成方法、系统、天线设计及测量方法，所述阵列天线方向图合成方法通过使用测量或仿真得到的馈电结构的S参数矩阵以及天线阵列的S参数矩阵，对激励天线的幅度相位进行修正，得到更接近实际的天线阵列方向图。本发明可以在天线设计或天线测量中得到应用，在天线设计中，将天线与馈电结构的仿真分开，在降低仿真复杂度的同时获得的结果相对直接使用理想幅度相位激励天线的方法要准确。在天线测量中，将天线整体测量拆分成馈电结构测量与天线单元测量两步，在避免了大规模阵列在测量方向图时可能会遇到的馈电结构搭设等问题的同时对结果准确性没有明显影响。
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公开(公告)号：CN113361069B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202110464960.3
申请日：2021-04-28
申请人： 西安电子科技大学
摘要： 本发明属于天线技术领域，公开了一种阵列天线方向图合成方法、系统、天线设计及测量方法，所述阵列天线方向图合成方法通过使用测量或仿真得到的馈电结构的S参数矩阵以及天线阵列的S参数矩阵，对激励天线的幅度相位进行修正，得到更接近实际的天线阵列方向图。本发明可以在天线设计或天线测量中得到应用，在天线设计中，将天线与馈电结构的仿真分开，在降低仿真复杂度的同时获得的结果相对直接使用理想幅度相位激励天线的方法要准确。在天线测量中，将天线整体测量拆分成馈电结构测量与天线单元测量两步，在避免了大规模阵列在测量方向图时可能会遇到的馈电结构搭设等问题的同时对结果准确性没有明显影响。
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