公开(公告)号：CN103440185A

公开(公告)日：2013-12-11

申请号：CN201310308504.5

申请日：2013-07-22

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 江桂芳 ,  张大宇 ,  龚科 ,  王健

IPC: G06F11/22

Abstract: 本发明公开了一种DSP器件单粒子翻转效应检测方法。本发明分模块设计测试用例，在各模块不相互干扰的情况下减少测试用例，减少各模块单粒子翻转检测和中断检测混淆的同时，较全面的测试DSP器件内部各模块单粒子翻转，从而减少了单粒子翻转试验时间，节省了资源；采用固定向量检测方法，测试程序运行在DSP器件外部，内部程序RAM、内部数据RAM以及寄存器设置为固定向量，减少了程序设计引起的故障传递，每个接口输出通过0、1交替波形，避免了接口故障时的判断。

公开(公告)号：CN103440185B

公开(公告)日：2016-12-28

申请号：CN201310308504.5

申请日：2013-07-22

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 江桂芳 ,  张大宇 ,  龚科 ,  王健

IPC: G06F11/22

Abstract: 本发明公开了一种DSP器件单粒子翻转效应检测方法。本发明分模块设计测试用例，在各模块不相互干扰的情况下减少测试用例，减少各模块单粒子翻转检测和中断检测混淆的同时，较全面的测试DSP器件内部各模块单粒子翻转，从而减少了单粒子翻转试验时间，节省了资源；采用固定向量检测方法，测试程序运行在DSP器件外部，内部程序RAM、内部数据RAM以及寄存器设置为固定向量，减少了程序设计引起的故障传递，每个接口输出通过0、1交替波形，避免了接口故障时的判断。