一种DSP器件单粒子翻转效应检测方法

    公开(公告)号:CN103440185A

    公开(公告)日:2013-12-11

    申请号:CN201310308504.5

    申请日:2013-07-22

    Abstract: 本发明公开了一种DSP器件单粒子翻转效应检测方法。本发明分模块设计测试用例,在各模块不相互干扰的情况下减少测试用例,减少各模块单粒子翻转检测和中断检测混淆的同时,较全面的测试DSP器件内部各模块单粒子翻转,从而减少了单粒子翻转试验时间,节省了资源;采用固定向量检测方法,测试程序运行在DSP器件外部,内部程序RAM、内部数据RAM以及寄存器设置为固定向量,减少了程序设计引起的故障传递,每个接口输出通过0、1交替波形,避免了接口故障时的判断。

    一种DSP器件单粒子翻转效应检测方法

    公开(公告)号:CN103440185B

    公开(公告)日:2016-12-28

    申请号:CN201310308504.5

    申请日:2013-07-22

    Abstract: 本发明公开了一种DSP器件单粒子翻转效应检测方法。本发明分模块设计测试用例,在各模块不相互干扰的情况下减少测试用例,减少各模块单粒子翻转检测和中断检测混淆的同时,较全面的测试DSP器件内部各模块单粒子翻转,从而减少了单粒子翻转试验时间,节省了资源;采用固定向量检测方法,测试程序运行在DSP器件外部,内部程序RAM、内部数据RAM以及寄存器设置为固定向量,减少了程序设计引起的故障传递,每个接口输出通过0、1交替波形,避免了接口故障时的判断。

    一种基于SRAM型FPGA配置、刷新一体化装置

    公开(公告)号:CN201549234U

    公开(公告)日:2010-08-11

    申请号:CN200920110357.X

    申请日:2009-07-23

    Abstract: 一种基于SRAM型FPGA配置、刷新一体化装置,包括PROM读写模块、FPGA配置刷新模块、控制模块和电源模块,控制模块分别与PROM读写模块和FPGA配置刷新模块数据线连接,PROM读写模块和FPGA配置刷新模块通过数据线连接,电源模块分别与PROM读写模块、FPGA配置刷新模块和控制模块连接为其他模块提供电源。本实用新型将PROM读写模块、FPGA配置刷新模块、控制模块集成在一个芯片上,FPGA配置刷新模块实现了配置、刷新一体化,把配置和刷新结合在一起,同时完成配置、刷新功能;本实用新型把配置数据和刷新数据分区存放,利用FPGA配置片选信号实现配置数据或刷新数据的选择、利用相同的接口时序实现配置或刷新数据的读写,简化了电路逻辑,提高了配置、刷新接口电路的可靠性。

Patent Agency Ranking