一种千分尺校对用量杆检定装置及量杆检定方法

    公开(公告)号:CN114543610A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202111673504.6

    申请日:2021-12-31

    IPC分类号: G01B3/18

    摘要: 本发明涉及一种千分尺校对用量杆检定装置及量杆检定方法;解决现有技术中光学计或测长机的操作复杂;并且没有针对被测量杆夹具的问题;检定装置包括装夹组件以及测量组件;装夹组件包括底座、第一安装座、第二安装座、弧形压板以及水平调节组件和垂直调节组件;第一安装座与第二安装座均开设有安装孔,第一安装座、第二安装座顶端均开设有V型槽,V型槽上端设置有弧形压板,水平调节组件与第一安装座连接,垂直调节组件与第二安装座连接,测量组件包括传感器支架、调节组件以及从上往下依次安装在传感器支架上的第一传感器与第二传感器;传感器支架与调节组件连接;本发明还提出了被测量杆的检定方法。

    一种千分尺校对用量杆检定装置及量杆检定方法

    公开(公告)号:CN114543610B

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202111673504.6

    申请日:2021-12-31

    IPC分类号: G01B3/18

    摘要: 本发明涉及一种千分尺校对用量杆检定装置及量杆检定方法;解决现有技术中光学计或测长机的操作复杂;并且没有针对被测量杆夹具的问题;检定装置包括装夹组件以及测量组件;装夹组件包括底座、第一安装座、第二安装座、弧形压板以及水平调节组件和垂直调节组件;第一安装座与第二安装座均开设有安装孔,第一安装座、第二安装座顶端均开设有V型槽,V型槽上端设置有弧形压板,水平调节组件与第一安装座连接,垂直调节组件与第二安装座连接,测量组件包括传感器支架、调节组件以及从上往下依次安装在传感器支架上的第一传感器与第二传感器;传感器支架与调节组件连接;本发明还提出了被测量杆的检定方法。