带有合像零位指示器的倾角仪及其测角方法

    公开(公告)号:CN117824593A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202311673074.7

    申请日:2023-12-07

    发明人: 朱敬华 王平 丁国

    摘要: 本发明提供一种带有合像零位指示器的倾角仪及其测角方法,解决现有倾角仪因条式零位指示器对零精度差导致仪器测量精度差的技术问题。该倾角仪包括合像零位指示器,合像零位指示器包括舱体、舱盖、位于舱体内的安装架、隔板、标准水泡和两个反射镜组件,舱体两个相对的侧壁上设有旋紧螺钉和腰型孔,安装架通过旋紧螺钉、与腰型孔配合的定位螺钉悬接在舱体上,舱体底部设有第一透光孔和与安装架连接的调节组件,两个反射镜组件对称设置在隔板上的第二透光孔处,舱盖上设置有具有放大镜的观察窗、两个第四透光孔,两路光线依次通过第一透光孔、标准水泡、第二透光孔入射至两个反射镜组件,反射镜组件将影像合像至放大镜。

    一种螺纹中径测量装置及其装配方法、使用方法

    公开(公告)号:CN116839452A

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202310448205.5

    申请日:2023-04-24

    IPC分类号: G01B5/08

    摘要: 本发明涉及一种螺纹中径测量装置及其装配方法、使用方法;解决手持方法引入温度误差,放置的理论位置需反复调整,费时费力、效率及准确度低的问题;装置包括第一导柱、支撑架、第一连接柱、第二连接柱、第一定位件、第二定位件、第三定位件、第一定位尺、第二定位尺、第一量针、第二量针和第三量针;支撑架安装在第一导柱上;第一连接柱和第二连接柱并排安装在支撑架上;第一定位件安装在第一连接柱上;第二定位件和第三定位安装在第二连接柱上;第一量针、第二量针以及第三量针分别安装在第一定位件、第二定位件和第三定位件上;第一定位尺设置在第一定位件一侧,第二定位尺设置在第二定位件和第三定位件一侧;还提出装置的装配及使用方法。

    一种千分尺校对用量杆检定装置及量杆检定方法

    公开(公告)号:CN114543610B

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202111673504.6

    申请日:2021-12-31

    IPC分类号: G01B3/18

    摘要: 本发明涉及一种千分尺校对用量杆检定装置及量杆检定方法;解决现有技术中光学计或测长机的操作复杂;并且没有针对被测量杆夹具的问题;检定装置包括装夹组件以及测量组件;装夹组件包括底座、第一安装座、第二安装座、弧形压板以及水平调节组件和垂直调节组件;第一安装座与第二安装座均开设有安装孔,第一安装座、第二安装座顶端均开设有V型槽,V型槽上端设置有弧形压板,水平调节组件与第一安装座连接,垂直调节组件与第二安装座连接,测量组件包括传感器支架、调节组件以及从上往下依次安装在传感器支架上的第一传感器与第二传感器;传感器支架与调节组件连接;本发明还提出了被测量杆的检定方法。

    用于量块修理的可调式多功能组合夹持器及量块修理方法

    公开(公告)号:CN116512123A

    公开(公告)日:2023-08-01

    申请号:CN202310463087.5

    申请日:2023-04-26

    IPC分类号: B24B41/06 G01B3/30 B24B1/00

    摘要: 本发明涉及用于量块修理的可调式多功能组合夹持器及量块修理方法,为解决现有量块修理技术因量块工作面小导致研磨时稳定性差,进而导致表面粗糙度下降、以及量块两个工作面间的平行度较差的技术问题,该夹持器包括夹持本体以及固定组件,夹持本体包括支撑组件以及环状柱体,支撑组件上设置有通孔,通孔的内径与待修量块的外径相适配,支撑组件下端面设置有多个工作脚,工作脚的研磨面与环状柱体的轴线垂直,环状柱体设置在支撑组件上端面,且环状柱体与通孔的轴线重合,环状柱体的内径与待修量块的外径相适配;固定组件包括至少两个锁紧螺钉,锁紧螺钉设置在环状柱体上,用于固定待修量块。基于该夹持器还公开了量块修理方法。

    基于PLC的光栅尺数据采集系统及方法

    公开(公告)号:CN112415944A

    公开(公告)日:2021-02-26

    申请号:CN202011347598.3

    申请日:2020-11-26

    IPC分类号: G05B19/05

    摘要: 本发明涉及一种光栅尺数据采集系统及方法,具体涉及一种基于PLC的光栅尺数据采集系统及方法。解决现有通过计算机专用板卡实现数据采集存在的成本高以及采用专用数显表实现数据采集存在的频率过高数据易丢失及功能单一的技术问题。包括PLC、触摸屏及开关电源;PLC自带高速计数器;光栅尺输出信号与高速计数器的采集端口连接;PLC用于将光栅尺输出信号处理后上传至触摸屏;上述触摸屏用于接收PLC输出信号并进行人机交互;PLC内存储数据处理程序,PLC对光栅尺输出信号进行处理,将光栅尺的脉冲信号转换为实际长度。本发明采用PLC高速计数器计数功能读取光栅尺信号,通过编程实现数据处理,无需采用计算机就可完成,可直接将数据上传触摸屏实现人机交互。

    一种标准间隙样板
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112393665A

    公开(公告)日:2021-02-23

    申请号:CN202011353099.5

    申请日:2020-11-26

    IPC分类号: G01B5/14 G01B11/14

    摘要: 本发明属于精密测量技术领域,涉及一种标准间隙样板。解决现有标准间隙使用不方便,不便携带及检定效率低的问题。包括主箱体,位于主箱体内的定位块、刀口尺、定位板和n个量块,及位于主箱体外的光源;定位块固定在主箱体底部;n个量块沿定位块的长度方向均布且固定在定位块顶部;位于首尾两端的两个量块高度尺寸相等,其余量块的高度尺寸不等且均小于首尾两端两个量块的高度尺寸;刀口尺通过定位板固定在主箱体内且刀口尺的工作棱边与首尾两端的两个量块的顶部接触;在刀口尺的工作棱边与其余量块的顶部之间形成不同尺寸的标准间隙;主箱体相对两侧分别设有透光板,光源发出的光束透过一侧透光板到达标准间隙,另一侧透光板作为观察窗。

    一种基于LabVIEW和串口通讯的传感器数据采集方法及系统

    公开(公告)号:CN110727217A

    公开(公告)日:2020-01-24

    申请号:CN201910902019.8

    申请日:2019-09-23

    发明人: 丁国

    IPC分类号: G05B19/042

    摘要: 本发明属于计量测试技术领域,具体涉及一种基于LabVIEW和串口通讯的传感器数据采集方法及系统,解决现有位移传感器校准数据采集方法存在的时间长、效率低、易出错或成本高、开发周期长等问题。在不改变现有手动校准装置的条件下,通过数字多用表中的RS232串口实现与计算机中LabVIEW数据采集软件进行数据传输采集,并进行计算线性精度计算及不确定度分析,避免了手工输入数据的各种不足,同时,也无需购置新设备,节约了成本。

    扫描探针显微镜微管球探针及其制备方法、应用

    公开(公告)号:CN118759222A

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202410971541.2

    申请日:2024-07-19

    IPC分类号: G01Q70/00 G01B11/14

    摘要: 本发明公开的扫描探针显微镜微管球探针及其制备方法、应用,其中制备方法具体按照以下步骤实施:步骤1,选取玻璃微管,通过热拉成型形成锥形毛细玻璃管;步骤2,对毛细玻璃管进行微管切割形成微管轴;步骤3,将热固性树脂涂覆于微管轴尖端,微管轴将热固性树脂吸附至微管轴内部;步骤4,向填充热固性树脂的微管轴的一端粘接玻璃微球,然后进行加热固化,形成扫描探针显微镜微管球探针。制备的扫描探针显微镜微管球探针在狭窄间隙宽度测量中进行应用。本发明通过制备得到的探针可以用于小于100μm的间隙宽度测量。

    一种螺纹深度规示值检具及其使用方法

    公开(公告)号:CN117906472A

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202311752711.X

    申请日:2023-12-19

    IPC分类号: G01B5/18 G01B3/28 G01B21/04

    摘要: 本发明涉及检测器具,具体涉及一种螺纹深度规示值检具及其使用方法,解决现有检测器具在测量螺纹深度规的零值误差与示值误差时,检测器具对人员如何正确操作技术水平要求较高,并且检测器具体积庞大,不便于现场测量的技术问题。本发明的检具包括底座、螺纹滑块以及数显传感器,底座为U型结构,包括两个相互平行的第一水平板和第二水平板,两水平板端部设置有竖直板,位于竖直板顶端的第一水平板沿水平方向开设有用于安装螺纹滑块的滑块安装槽,螺纹滑块滑动装配在滑块安装槽内,并且沿竖直方向贯穿设置有螺纹孔,数显传感器的传感器本体安装在竖直板内侧壁上,传感器本体上连接有测量头,测量头设置在螺纹孔中。

    一种倒角卡尺示值检具及其使用方法

    公开(公告)号:CN117824469A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202311752721.3

    申请日:2023-12-19

    IPC分类号: G01B5/24

    摘要: 本发明涉及检测器具,具体涉及一种倒角卡尺示值检具及其使用方法,解决现有检测器具在测量倒角卡尺示值误差时,采用的倒角标准块测量法,其测量时间长,效率低,并且倒角标准块制造过程繁琐、加工成本较大的技术问题,本发明的检具包括基座、测量滑块、限位件、数显测微尺,长方体结构的基座顶面设置有基座导轨,数显测微尺安装于基座顶面左端,长方体结构的测量滑块通过其上开设的导轨安装孔安装在基座导轨上,测量滑块宽度与基座相同,并且测量滑块左端面与数显测微尺连接,右端面抵接在限位件上,使得基座的右端面与测量滑块的右端面位于同一竖直平面内。