用于对量子计数的X射线探测器进行能量校准的方法

    公开(公告)号:CN103323872B

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201310087107.X

    申请日:2013-03-19

    申请人: 西门子公司

    IPC分类号: G01T1/24

    CPC分类号: G01T7/005 G01T1/2985

    摘要: 本发明涉及一种用于对在X射线设备中的量子计数的X射线探测器进行能量校准的方法。在该方法中如下地在第一X射线源(1)和第一X射线探测器(2)之间定位用于产生X射线荧光辐射的标靶(6)并且利用第一X射线源(1)的X射线辐射辐照该标靶:使得通过第一X射线源(1)的X射线辐射产生X射线荧光辐射,该X射线荧光辐射从所述标靶(6)出发击中第二X射线探测器(4)。然后利用所述标靶(6)的X射线荧光辐射实施第二X射线探测器(4)的能量校准。以相同的方式借助第二X射线源(3)的X射线辐射进行第一X射线探测器(2)的能量校准。通过所建议的方法可以在系统接近的条件下以小的开销校准双源CT-X射线设备的X射线探测器。

    用于对量子计数的X射线探测器进行能量校准的方法

    公开(公告)号:CN103323872A

    公开(公告)日:2013-09-25

    申请号:CN201310087107.X

    申请日:2013-03-19

    申请人: 西门子公司

    IPC分类号: G01T1/24

    CPC分类号: G01T7/005 G01T1/2985

    摘要: 本发明涉及一种用于对在X射线设备中的量子计数的X射线探测器进行能量校准的方法。在该方法中如下地在第一X射线源(1)和第一X射线探测器(2)之间定位用于产生X射线荧光辐射的标靶(6)并且利用第一X射线源(1)的X射线辐射辐照该标靶:使得通过第一X射线源(1)的X射线辐射产生X射线荧光辐射,该X射线荧光辐射从所述标靶(6)出发击中第二X射线探测器(4)。然后利用所述标靶(6)的X射线荧光辐射实施第二X射线探测器(4)的能量校准。以相同的方式借助第二X射线源(3)的X射线辐射进行第一X射线探测器(2)的能量校准。通过所建议的方法可以在系统接近的条件下以小的开销校准双源CT-X射线设备的X射线探测器。

    X射线探测器和方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104414676B

    公开(公告)日:2018-09-21

    申请号:CN201410455154.X

    申请日:2014-09-09

    申请人: 西门子公司

    发明人: M.艾肯西尔

    IPC分类号: A61B6/03

    摘要: 本发明涉及一种用于探测X射线辐射的X射线探测器,具有:平面的阴极;被划分成多个像素元素的阳极;和布置在阴极与阳极之间的直接转换器,用于将辐射转换成电荷,其中,围绕像素元素或像素元素的组布置了至少两个保护环或保护环结构,在该保护环或保护环结构上施加电势,其中,在至少两个保护环的至少两个不同的环上或保护环结构的部分上施加不同的电势。

    X射线探测器和方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104414676A

    公开(公告)日:2015-03-18

    申请号:CN201410455154.X

    申请日:2014-09-09

    申请人: 西门子公司

    发明人: M.艾肯西尔

    IPC分类号: A61B6/03

    摘要: 本发明涉及一种用于探测X射线辐射的X射线探测器,具有:平面的阴极;被划分成多个像素元素的阳极;和布置在阴极与阳极之间的直接转换器,用于将辐射转换成电荷,其中,围绕像素元素或像素元素的组布置了至少两个保护环或保护环结构,在该保护环或保护环结构上施加电势,其中,在至少两个保护环的至少两个不同的环上或保护环结构的部分上施加不同的电势。