用于系统内确定性测试的X掩码
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118661106A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202180105422.3

    申请日:2021-12-07

    IPC分类号: G01R31/3185

    摘要: 一种电路包括:包括扫描单元的扫描链,所述扫描链被配置为移入测试向量中,将所述测试向量应用于所述电路,捕获所述电路的测试响应,并移出所述测试响应;解压缩器,其被配置为将压缩的测试向量解压缩为测试向量;以及测试响应压缩器,其被配置为压缩所述测试响应,所述测试响应压缩器包括:第一X掩码电路,其被配置为基于第一掩码信息对所述测试响应中的一些X位进行掩码,所述第一掩码信息保持不变,同时将对每个所述测试向量的测试响移出,所述第一掩码信息对于至少两个所述测试向量是不同的;和第二X掩码电路,其被配置为基于第二掩码信息对所述测试响应中的其余X位进行掩码。

    用于测试电路的通用压缩器架构
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114667455A

    公开(公告)日:2022-06-24

    申请号:CN201980101990.9

    申请日:2019-09-06

    IPC分类号: G01R31/3185

    摘要: 一种电路,包括:插置在扫描链的输出端和测试响应压缩器的输入端之间的扫描门控装置。该扫描门控装置将扫描链划分成扫描链组。每个扫描门控装置基于第一信号以启用模式或以禁用模式操作。以启用模式操作的扫描门控装置基于第二信号阻断、仅在一些时钟周期处阻断、或不阻断由相关联的扫描链组中的扫描链捕获的并从该扫描链输出的测试模式的测试响应的一部分。以禁用模式操作的扫描门控装置不阻断、或基于第三信号阻断或不阻断由相关联的扫描链组的每一者中的所有扫描链捕获的并从所述所有扫描链输出的测试响应的一部分。