软性元件挠曲特性的检测方法及其系统

    公开(公告)号:CN101581573B

    公开(公告)日:2012-06-27

    申请号:CN200810099009.7

    申请日:2008-05-12

    摘要: 本发明公开了一种软性元件挠曲特性的检测方法及其系统,该方法包含步骤:(a)提供夹持单元、观测单元、特性检测单元以及计算机,该计算机内输入有一预设曲率半径;(b)夹持单元设有两个夹臂夹持一软性元件,计算机控制该夹持单元进行作动以挠曲该软件元件;(c)观测单元撷取该软性元件的侧面轮廓并回传至计算机,计算机再据以计算该软性元件的挠曲半径;以及(d)计算机比较该软性元件的挠曲半径与预设曲率,判断该挠曲半径的误差值是否在容许误差范围内;若是,则控制该特性检测单元移动至该软性元件附近,准备进行特性检测;若否,则以回授控制方式回到步骤(b),以及(e)获得一挠曲曲率-元件特性对应表。

    具防止热对流机制的辐射标准装置

    公开(公告)号:CN101451887A

    公开(公告)日:2009-06-10

    申请号:CN200710199057.9

    申请日:2007-12-07

    发明人: 温博浚 柯心怡

    IPC分类号: G01J5/02 G01J5/52

    摘要: 本发明涉及一种具防止热对流机制的辐射标准装置,其主要包括有一黑体炉以及一气压调整单元。该黑体炉具有一炉穴,该气压调整单元与该黑体炉相连接,该气压调整单元可根据该炉穴与外部环境的温度差异调节炉穴开口的压力。本发明利用该气压调整单元控制炉穴出口处的气压变化,以阻绝黑体辐射源的炉体内部与外部环境的热对流,进而提供一个稳定的辐射标准源以供校正与测试服务。

    光学测量装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103091014A

    公开(公告)日:2013-05-08

    申请号:CN201210421089.X

    申请日:2012-10-29

    发明人: 温博浚 陈彦良

    IPC分类号: G01L1/25

    摘要: 一种光学测量装置,用以测量待测样本。光学测量装置包括扁平化面光源模块、第一偏振片、第二偏振片、液晶盒及图像感测器。扁平化面光源模块用以提供面光源。面光源用以发出检测光。第一偏振片配置于检测光的传递路径上。第二偏振片配置于检测光的传递路径上。第一偏振片配置于面光源与第二偏振片之间,且待测样本适于配置于第一偏振片与第二偏振片之间。液晶盒配置于检测光的传递路径上,且位于第一偏振片与第二偏振片之间。图像感测器配置于检测光的传递路径上,以感测检测光。第二偏振片配置于液晶盒与图像感测器之间。

    具防止热对流机制的辐射标准装置

    公开(公告)号:CN101451887B

    公开(公告)日:2010-11-03

    申请号:CN200710199057.9

    申请日:2007-12-07

    发明人: 温博浚 柯心怡

    IPC分类号: G01J5/02 G01J5/52

    摘要: 本发明涉及一种具防止热对流机制的辐射标准装置,其主要包括有一黑体炉以及一气压调整单元。该黑体炉具有一炉穴,该气压调整单元与该黑体炉相连接,该气压调整单元可根据该炉穴与外部环境的温度差异调节炉穴开口的压力。本发明利用该气压调整单元控制炉穴出口处的气压变化,以阻绝黑体辐射源的炉体内部与外部环境的热对流,进而提供一个稳定的辐射标准源以供校正与测试服务。

    光学测量装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103091014B

    公开(公告)日:2015-01-21

    申请号:CN201210421089.X

    申请日:2012-10-29

    发明人: 温博浚 陈彦良

    IPC分类号: G01L1/25

    摘要: 一种光学测量装置,用以测量待测样本。光学测量装置包括扁平化面光源模块、第一偏振片、第二偏振片、液晶盒及图像感测器。扁平化面光源模块用以提供面光源。面光源用以发出检测光。第一偏振片配置于检测光的传递路径上。第二偏振片配置于检测光的传递路径上。第一偏振片配置于面光源与第二偏振片之间,且待测样本适于配置于第一偏振片与第二偏振片之间。液晶盒配置于检测光的传递路径上,且位于第一偏振片与第二偏振片之间。图像感测器配置于检测光的传递路径上,以感测检测光。第二偏振片配置于液晶盒与图像感测器之间。

    零阿贝误差测量系统及其方法

    公开(公告)号:CN1991333B

    公开(公告)日:2010-11-10

    申请号:CN200510137450.6

    申请日:2005-12-30

    IPC分类号: G01Q10/00

    摘要: 一种零阿贝误差测量系统,其包括移动平台、检测装置以及第一与第二三维光学尺。移动平台是用以载置待测量样本。检测装置用以检测待测量样本,并测量待测量样本的待测点相对于移动平台的垂直高度。第一与第二三维光学尺分别设置在移动平台上且隔着待测量样本彼此相对,其中第一与第二三维光学尺可垂直该移动平台进行高度微调,使第一与第二三维光学尺相对于移动平台的垂直高度与待测点的垂直高度相等,以进行待测量样本的测量。

    软性组件的挠曲装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101685055A

    公开(公告)日:2010-03-31

    申请号:CN200810211479.8

    申请日:2008-09-26

    摘要: 一种软性组件的挠曲装置,包含:一驱动单元;一主旋转轴,连接至该驱动单元且被该驱动单元带动旋转;一第一旋转单元与一第二旋转单元,分别与该主旋转轴连接并被该主旋转轴带动旋转,该第一旋转单元的旋转方向与该第二旋转单元的旋转方向相反;以及分别与该第一旋转单元及该第二旋转单元连接且用于夹持该软性组件的一第一夹臂与一第二夹臂,该第一夹臂与第二夹臂以相同的角速度于相同圆形轨道上反向旋转。

    软性元件挠曲特性的检测方法及其系统

    公开(公告)号:CN101581573A

    公开(公告)日:2009-11-18

    申请号:CN200810099009.7

    申请日:2008-05-12

    摘要: 本发明公开了一种软性元件挠曲特性的检测方法及其系统,该方法包含步骤:(a)提供一夹持单元、一观测单元、一特性检测单元以及一控制单元,该夹持单元、观测单元及特性检测单元与该控制单元电性连接,该控制单元储存有一预设曲率半径;(b)夹持单元夹持一软性元件并挠曲之;(c)观测单元撷取该软性元件的侧面轮廓并回传至控制单元,控制单元再据以计算该软性元件的挠曲曲率;以及(d)控制单元判断该软性元件的挠曲曲率是否与预设曲率相同;若是,则停止作动该夹持单元并以特性检测单元检测该软性元件的元件特性;若否,则回到步骤(b)。

    零阿贝误差测量系统及其方法

    公开(公告)号:CN1991333A

    公开(公告)日:2007-07-04

    申请号:CN200510137450.6

    申请日:2005-12-30

    IPC分类号: G01N13/10 G12B21/20 G01B11/14

    摘要: 一种零阿贝误差测量系统,其包括移动平台、检测装置以及第一与第二三维光学尺。移动平台是用以载置待测量样本。检测装置用以检测待测量样本,并测量待测量样本的待测点相对于移动平台的垂直高度。第一与第二三维光学尺分别设置在移动平台上且隔着待测量样本彼此相对,其中第一与第二三维光学尺可垂直该移动平台进行高度微调,使第一与第二三维光学尺相对于移动平台的垂直高度与待测点的垂直高度相等,以进行待测量样本的测量。