公开(公告)号：CN115715367A

公开(公告)日：2023-02-24

申请号：CN202180027328.0

申请日：2021-03-31

申请人： 赛峰集团 ,  国家科学研究中心 ,  巴黎工业物理化学学校

发明人： 塞西尔·布鲁特 ,  贝诺特·杰拉尔丁 ,  亚历山大·奥布里 ,  阿诺·德罗德 ,  克莱尔·普拉达

IPC分类号： G01N29/04

摘要： 本发明涉及用于对多晶材料制成的机械部件进行无损检测的装置，所述装置包括：‑超声探头(1)，所述超声探头包括换能器的二维阵列，所述换能器能够以不同激励角度发射和接收信号，以及‑处理模块(2)，所述处理模块适于控制换能器的发射和接收，处理换能器接收到的信号以便以探头的发射和接收波矢量构成的两个平面波平面来表达超声探头接收到的信号，并由此推导出代表机械部件的纤维结构的三维取向的信息。

公开(公告)号：CN118525196A

公开(公告)日：2024-08-20

申请号：CN202280082563.2

申请日：2022-11-15

申请人： 赛峰集团

发明人： 贝诺特·杰拉尔丁 ,  克莱门特·雷马查 ,  加蒂安·克莱门特

IPC分类号： G01N21/55 ,  G01N21/84

摘要： 该确定方法包括：对于多个照明位置(110n)中的每一个照明位置：对表面(102)进行非准直照明，以及在所有照明位置(110n)的同一采集点(114)处，采集称为原始图像的图像；对于每个照明位置(110n)和原始图像的每个像素(Pm)，确定晶体切面的可能取向(θn,m、#imgabs0#)，认为光从所考虑的照明位置(110n)传播到采集位置(114)，并且在晶体切面上发生镜面反射；根据原始图像和与原始图像的像素(Pm)相关联的可能取向(θn,m、#imgabs1#)，构建反射率分布图(PR)；以及根据反射率分布图(PR)，确定切面的实际取向(θr、#imgabs2#)。