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发明公开
用于非易失性存储器的冗余系统有权转让

公开(公告)号：CN106463177A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201580011531.3

申请日：2015-01-22

申请人： 赛鼎矽公司

发明人： 沃德克·库尔贾诺韦茨 , 穆拉德·阿布达特

IPC分类号： G11C17/18 , G11C29/04

摘要： 描述了一种用于非易失性存储器(NVM)的冗余方案。该冗余方案提供用于在非易失性存储器中使用缺陷单元以提高成品率的手段。算法基于当在单元组中检测到缺陷单元时，针对将要被编程至单元组的数据将编程数据反相。缺陷单元被偏置为逻辑状态“1”或“0”，其被有效地预设以存储其偏置逻辑状态。待被存储在缺陷单元中的、具有与该单元的偏置逻辑状态互补的逻辑状态的数据位导致编程数据被反相并且被编程。反相状态位被编程，以指示编程数据的反相后的状态。在读取期间，反相状态位使得已存储的数据将被重新反相为其原始的编程数据状态。