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公开(公告)号：CN101726263B
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN200910206533.4
申请日：2009-10-10
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/25 , G01N21/954 , G01N2021/9544 , G06T7/521
Abstract: 本发明名称为“关于利用结构光的探头系统”。一种探头系统包括成像器和检查光源。探头系统配置成在检查模式和测量模式中操作。在检查模式期间，启用检查光源。在测量模式期间，禁用检查光源，并投射结构光图案。探头系统还配置成捕获至少一个测量模式图像。在所述至少一个测量模式图像中，结构光图案被投射到物体上。探头系统配置成利用来自所述至少一个测量模式图像的像素值以确定所述物体的至少一个几何尺寸。还提供配置成检测多个图像的两个或更多图像的捕获之间探头与所述物体之间的相对移动的探头系统。
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公开(公告)号：CN101349551A
公开(公告)日：2009-01-21
申请号：CN200710152668.8
申请日：2007-07-20
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本发明提供了一种轮廓测定设备(12)。该轮廓测定设备(12)包括条纹投影装置(32)，其被配置用以将条纹图样投影到对象(22)上；以及光学单元(34)，其被配置用以捕获由对象(22)调制的失真条纹图样的图像。该轮廓测定设备(12)还包括信号处理单元(60)，其被配置用以处理来自光学单元(34)的所捕获图像，以便从图像中滤除噪声，并获得与对象(22)的制造或修理相关的参数的实时估计。
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公开(公告)号：CN1955718B
公开(公告)日：2011-10-19
申请号：CN200610163581.6
申请日：2006-10-24
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/2513
Abstract: 一种用于产生用在光测量系统(10)中的掩模(52)的方法(100)，该光测量系统包括用于把光投射到物体(12)表面上的光源(22)，和用于接收从该物体表面反射回来的光的成像系统。该方法包括确定(102)待检查物体的轮廓，和基于所确定轮廓产生(104)掩模，其中该掩模包括在其内部延伸的开口(172)，从光源处看来该开口的轮廓与物体的轮廓基本匹配。
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公开(公告)号：CN1955723B
公开(公告)日：2011-08-03
申请号：CN200610143649.4
申请日：2006-10-24
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/2513 , F01D5/005 , G01B5/205 , G06T7/521
Abstract: 一种用于生成与光测量系统(10)一起使用的光罩(50、52)的方法(72)，光测量系统(10)包括用于将光投射到物体(12)上的光源(22)，和用于接收从物体反射的光的成像传感器(24)。该方法包括确定(74)要检查的物体的轮廓(56)，并且基于所确定的物体轮廓生成(86)电子光罩。电子光罩具有电子开口(62、68)，电子开口(62、68)具有定义为从光源和成像传感器其中之一的视角来看基本上与所确定的物体轮廓匹配的轮廓(64、70)。
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公开(公告)号：CN101726263A
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200910206533.4
申请日：2009-10-10
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/25 , G01N21/954 , G01N2021/9544 , G06T7/521
Abstract: 本发明名称为“关于利用结构光的探头系统的系统方面”。一种探头系统包括成像器和检查光源。探头系统配置成在检查模式和测量模式中操作。在检查模式期间，启用检查光源。在测量模式期间，禁用检查光源，并投射结构光图案。探头系统还配置成捕获至少一个测量模式图像。在所述至少一个测量模式图像中，结构光图案被投射到物体上。探头系统配置成利用来自所述至少一个测量模式图像的像素值以确定所述物体的至少一个几何尺寸。还提供配置成检测多个图像的两个或更多图像的捕获之间探头与所述物体之间的相对移动的探头系统。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1955718A
公开(公告)日：2007-05-02
申请号：CN200610163581.6
申请日：2006-10-24
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/2513
Abstract: 一种用于产生用在光测量系统(10)中的掩模(52)的方法(100)，该光测量系统包括用于把光投射到物体(12)表面上的光源(22)，和用于接收从该物体表面反射回来的光的成像系统。该方法包括确定(102)待检查物体的轮廓，和基于所确定轮廓产生(104)掩模，其中该掩模包括在其内部延伸的开口(172)，从光源处看来该开口的轮廓与物体的轮廓基本匹配。
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公开(公告)号：CN1766522A
公开(公告)日：2006-05-03
申请号：CN200510108755.4
申请日：2005-09-30
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/25
CPC classification number: G01B11/2527 , G06T7/521
Abstract: 按照本发明的一个方面，提供测量物体(12)形状的系统(10)。所述系统包括投影系统(14)，用于将具有干涉条纹参考标记的干涉条纹图投影到物体(12)上。所述系统还包括图像处理系统(26)，用于捕获由物体(12)所调制的干涉条纹图的图像(20)。图像处理系统(26)还可用于识别干涉条纹图的图像中的参考标记，根据参考标记来构建物体的形状。
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公开(公告)号：CN1955719B
公开(公告)日：2011-06-08
申请号：CN200610163907.5
申请日：2006-10-24
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/2513
Abstract: 用于检验物体的方法和装置;一种用于检验物体(12)的方法(38)包括：从液晶显示(LCD)装置和硅基液晶(LCOS)装置的至少一个中发射(40)光；相移(42)从LCD装置和LCOS装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影(44)到物体的表面上；利用成像传感器(24)接收(46)从物体表面反射的光；以及分析(50)由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。
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公开(公告)号：CN1603836B
公开(公告)日：2011-02-09
申请号：CN200410085199.9
申请日：2004-09-30
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B21/085
Abstract: 一种重构部件(20)的内部表面几何形状(10)的方法，包括：配准部件的厚度图(30)与部件(20)的外部表面数据(40)。厚度图具有一系列厚度数据(32)。使用厚度图(30)和外部表面数据(40)产生内部表面数据(12)，以便重构内部表面几何形状。
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公开(公告)号：CN101029819B
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN200610064202.8
申请日：2006-11-15
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/2513
Abstract: 一种投射装置，将结构化光图案沿着第一光轴投射到表面。附于该投射装置的观察器接收该结构化光图案从该表面沿着第二光轴的反射，并数字化二维快照。这些光轴不平行，并且它们在该投射装置和该观察器的公共视场中相遇。连接到该观察器的计算机接收数字化快照，并分析它以便为表面建立数学模型，供显示和探查。该投射装置和附连的观察器设计成具有手柄和触发快照的触发按钮的手持单元。位于该单元上的引导端部在两个光轴旁边延伸至公共视场以定位该手持单元。
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