关于利用结构光的探头系统

    公开(公告)号:CN101726263B

    公开(公告)日:2012-07-18

    申请号:CN200910206533.4

    申请日:2009-10-10

    CPC classification number: G01B11/25 G01N21/954 G01N2021/9544 G06T7/521

    Abstract: 本发明名称为“关于利用结构光的探头系统”。一种探头系统包括成像器和检查光源。探头系统配置成在检查模式和测量模式中操作。在检查模式期间,启用检查光源。在测量模式期间,禁用检查光源,并投射结构光图案。探头系统还配置成捕获至少一个测量模式图像。在所述至少一个测量模式图像中,结构光图案被投射到物体上。探头系统配置成利用来自所述至少一个测量模式图像的像素值以确定所述物体的至少一个几何尺寸。还提供配置成检测多个图像的两个或更多图像的捕获之间探头与所述物体之间的相对移动的探头系统。

    轮廓测定设备及操作方法

    公开(公告)号:CN101349551A

    公开(公告)日:2009-01-21

    申请号:CN200710152668.8

    申请日:2007-07-20

    Abstract: 本发明提供了一种轮廓测定设备(12)。该轮廓测定设备(12)包括条纹投影装置(32),其被配置用以将条纹图样投影到对象(22)上;以及光学单元(34),其被配置用以捕获由对象(22)调制的失真条纹图样的图像。该轮廓测定设备(12)还包括信号处理单元(60),其被配置用以处理来自光学单元(34)的所捕获图像,以便从图像中滤除噪声,并获得与对象(22)的制造或修理相关的参数的实时估计。

    关于利用结构光的探头系统的系统方面

    公开(公告)号:CN101726263A

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200910206533.4

    申请日:2009-10-10

    CPC classification number: G01B11/25 G01N21/954 G01N2021/9544 G06T7/521

    Abstract: 本发明名称为“关于利用结构光的探头系统的系统方面”。一种探头系统包括成像器和检查光源。探头系统配置成在检查模式和测量模式中操作。在检查模式期间,启用检查光源。在测量模式期间,禁用检查光源,并投射结构光图案。探头系统还配置成捕获至少一个测量模式图像。在所述至少一个测量模式图像中,结构光图案被投射到物体上。探头系统配置成利用来自所述至少一个测量模式图像的像素值以确定所述物体的至少一个几何尺寸。还提供配置成检测多个图像的两个或更多图像的捕获之间探头与所述物体之间的相对移动的探头系统。

    测量物体形状的方法和装置

    公开(公告)号:CN1766522A

    公开(公告)日:2006-05-03

    申请号:CN200510108755.4

    申请日:2005-09-30

    Inventor: Q·胡 K·G·哈丁

    CPC classification number: G01B11/2527 G06T7/521

    Abstract: 按照本发明的一个方面,提供测量物体(12)形状的系统(10)。所述系统包括投影系统(14),用于将具有干涉条纹参考标记的干涉条纹图投影到物体(12)上。所述系统还包括图像处理系统(26),用于捕获由物体(12)所调制的干涉条纹图的图像(20)。图像处理系统(26)还可用于识别干涉条纹图的图像中的参考标记,根据参考标记来构建物体的形状。

    光学边折测量仪
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101029819B

    公开(公告)日:2010-09-29

    申请号:CN200610064202.8

    申请日:2006-11-15

    CPC classification number: G01B11/2513

    Abstract: 一种投射装置,将结构化光图案沿着第一光轴投射到表面。附于该投射装置的观察器接收该结构化光图案从该表面沿着第二光轴的反射,并数字化二维快照。这些光轴不平行,并且它们在该投射装置和该观察器的公共视场中相遇。连接到该观察器的计算机接收数字化快照,并分析它以便为表面建立数学模型,供显示和探查。该投射装置和附连的观察器设计成具有手柄和触发快照的触发按钮的手持单元。位于该单元上的引导端部在两个光轴旁边延伸至公共视场以定位该手持单元。

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