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公开(公告)号：CN119478209A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411497179.6
申请日：2024-10-24
Applicant: 重庆大学
IPC: G06T17/00
Abstract: 本发明公开一种基于双视角图像的位错晶体学三维表征方法，利用透射电镜获取样品在不同角度下的两张位错图像；将位错图像进行图像配准，对配准后的位错图像进行二值化和单像素化处理，获得位错线；构建预设坐标系，获取位错线在预设坐标系的空间坐标和三维图像；原位倾转样品使其任一晶带轴平行于电子束入射方向，获取样品的参考取向参量和倾转参量，根据参考取向参量和倾转参量获得预设坐标系到晶体坐标系的转换参量；根据位错线在预设坐标系下的空间坐标以及转换参量，获得位错线在晶体坐标系的空间坐标和三维图像。本发明基于双视角图像三维重构方法和关联晶体学分析技术实现晶体坐标系下位错几何特征和晶体学特征的高效三维定量集成表征。
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