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公开(公告)号：CN118822961B
公开(公告)日：2024-12-20
申请号：CN202410805685.0
申请日：2024-06-21
Applicant: 重庆大学
IPC: G06T7/00 , G01N23/04 , G01N23/20 , G01N23/2202 , G01N23/2204 , G01N1/28 , G01N23/22 , G01N23/00 , G06V20/69 , G06V10/75 , G06V10/82
Abstract: 本发明公开了一种基于深度学习的位错柏氏矢量智能分析方法，包括如下步骤：通过透射电镜获取样品的若干位错图像，标注获得位错信息，并建立数据集训练深度学习网络模型，以获得位错识别模型；通过透射电镜获取样品系列衍射矢量下的位错图像集合，通过位错识别模型获取位错图像集合的位错信息，结合各衍射矢量下的倾转角度对位错信息进行校准，得到校准后的位错信息；根据校准后的位错信息，获得各衍射矢量下的位错可见性信息，从而分析获得位错柏氏矢量。本发明提供的基于深度学习的位错柏氏矢量智能分析方法，能够实现位错的快速智能识别和标注，并且通过对各衍射矢量的位错信息进行校准，提高了柏氏矢量分析的精度和效率。
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公开(公告)号：CN117740630A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202311771605.6
申请日：2023-12-21
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种基于透射电镜的晶粒三维表征方法，首先通过透射电镜获取样品的晶粒系列倾转角度下的图像，重构晶粒的三维图像，并获得样品坐标系下晶粒的界面信息，然后倾转样品使其分别处于三个非共线晶带轴方向并获得倾转参量，根据三个非共线晶带轴的取向信息获得参考取向参量，并根据倾转参量和参考取向参量获得样品坐标系到样品的晶体坐标系的转换参量，进一步根据样品坐标系下晶粒的界面信息和转换参量获得在样品的晶体坐标系下晶粒的界面信息，对三维图像进行赋色，进而在三维图像中展示出晶粒界面的晶体学取向特征。本发明基于透射电镜三维重构技术和关联晶体学分析方法实现晶粒几何特征和晶体学特征的三维定量集成表征。
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公开(公告)号：CN115261752B
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202210855127.6
申请日：2022-07-20
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种高强2024铝合金加工工艺及高强2024铝合金，涉及铝合金技术领域，其技术方案要点是：将固溶与峰时效处理后的样品在室温下进行冷轧变形，下压量为A；将S1中的样品放置在110‑130℃退火t时间后在室温下进行轧制，累计下压量为B；将S2中的样品放置在110‑130℃退火2t时间后在室温下进行轧制，累计下压量为C；将S3中的样品放置在110‑130℃退火4t时间后在室温下进行轧制，累计下压量为D；将S4中的样品放置在110‑130℃退火8t时间后在室温进行轧制，最后总下压量为E。本发明中的2024铝合金在室温时为层状界面组织，并且拥有较高的位错密度，具有842MPa的抗拉强度。
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公开(公告)号：CN112505071A
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN202011604046.6
申请日：2020-12-29
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种基于透射电镜的位错三维定量表征方法及系统，首先通过透射电镜获取样品的位错多个不同角度的图像，根据获得的图像构建在预设坐标系下描述的、包含位错的几何信息的三维图像，然后获取透射电镜对样品成像时样品在预设坐标系的参考取向参量，并根据参考取向参量获得预设坐标系到样品的晶体坐标系的转换参量，进一步根据位错在预设坐标系下的三维图像以及转换参量，获得位错在样品的晶体坐标系下描述的三维图像。本发明通过基于关联晶体学分析实现样品坐标系和晶体坐标系之间的转换，能够实现在晶体坐标系中位错几何特征和晶体学特征的高精度定量集成表征。
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公开(公告)号：CN119478209A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411497179.6
申请日：2024-10-24
Applicant: 重庆大学
IPC: G06T17/00
Abstract: 本发明公开一种基于双视角图像的位错晶体学三维表征方法，利用透射电镜获取样品在不同角度下的两张位错图像；将位错图像进行图像配准，对配准后的位错图像进行二值化和单像素化处理，获得位错线；构建预设坐标系，获取位错线在预设坐标系的空间坐标和三维图像；原位倾转样品使其任一晶带轴平行于电子束入射方向，获取样品的参考取向参量和倾转参量，根据参考取向参量和倾转参量获得预设坐标系到晶体坐标系的转换参量；根据位错线在预设坐标系下的空间坐标以及转换参量，获得位错线在晶体坐标系的空间坐标和三维图像。本发明基于双视角图像三维重构方法和关联晶体学分析技术实现晶体坐标系下位错几何特征和晶体学特征的高效三维定量集成表征。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117740630B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202311771605.6
申请日：2023-12-21
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种基于透射电镜的晶粒三维表征方法，首先通过透射电镜获取样品的晶粒系列倾转角度下的图像，重构晶粒的三维图像，并获得样品坐标系下晶粒的界面信息，然后倾转样品使其分别处于三个非共线晶带轴方向并获得倾转参量，根据三个非共线晶带轴的取向信息获得参考取向参量，并根据倾转参量和参考取向参量获得样品坐标系到样品的晶体坐标系的转换参量，进一步根据样品坐标系下晶粒的界面信息和转换参量获得在样品的晶体坐标系下晶粒的界面信息，对三维图像进行赋色，进而在三维图像中展示出晶粒界面的晶体学取向特征。本发明基于透射电镜三维重构技术和关联晶体学分析方法实现晶粒几何特征和晶体学特征的三维定量集成表征。
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公开(公告)号：CN112505071B
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN202011604046.6
申请日：2020-12-29
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种基于透射电镜的位错三维定量表征方法及系统，首先通过透射电镜获取样品的位错多个不同角度的图像，根据获得的图像构建在预设坐标系下描述的、包含位错的几何信息的三维图像，然后获取透射电镜对样品成像时样品在预设坐标系的参考取向参量，并根据参考取向参量获得预设坐标系到样品的晶体坐标系的转换参量，进一步根据位错在预设坐标系下的三维图像以及转换参量，获得位错在样品的晶体坐标系下描述的三维图像。本发明通过基于关联晶体学分析实现样品坐标系和晶体坐标系之间的转换，能够实现在晶体坐标系中位错几何特征和晶体学特征的高精度定量集成表征。
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公开(公告)号：CN115261752A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210855127.6
申请日：2022-07-20
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种高强2024铝合金加工工艺及高强2024铝合金，涉及铝合金技术领域，其技术方案要点是：将固溶与峰时效处理后的样品在室温下进行冷轧变形，下压量为A；将S1中的样品放置在110‑130℃退火t时间后在室温下进行轧制，累计下压量为B；将S2中的样品放置在110‑130℃退火2t时间后在室温下进行轧制，累计下压量为C；将S3中的样品放置在110‑130℃退火4t时间后在室温下进行轧制，累计下压量为D；将S4中的样品放置在110‑130℃退火8t时间后在室温进行轧制，最后总下压量为E。本发明中的2024铝合金在室温时为层状界面组织，并且拥有较高的位错密度，具有842MPa的抗拉强度。
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公开(公告)号：CN113506366A
公开(公告)日：2021-10-15
申请号：CN202110901900.3
申请日：2021-08-06
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种位错特征的三维图示化表示方法，通过透射电镜获取样品中位错不同角度下的图像，并进行三维重构获得位错在晶体坐标系下描述的三维图像，根据位错的三维图像获得位错的线方向。然后根据位错的线方向和位错的柏氏矢量获得位错的组分信息，根据位错的线方向获得位错与预设晶面的空间关系，并在位错的三维图像中展示位错组分信息的空间分布和位错与预设晶面的空间关系。本发明实现了在位错的三维图像中表征位错特征，能够精确、直观地表征两类位错特征，为位错相关基础科学问题研究提供了技术基础。
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公开(公告)号：CN106825100A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710084610.8
申请日：2017-02-16
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种新型高强高塑性IF钢的制备方法，所述新型高强高塑性IF钢的制备方法是在原始材料中引入非均匀性，通过选取合适热处理条件调节成为具有自相似的从介观尺度到微观尺度均具有非均匀特征的层状组织，从而实现高强度高塑性的性能匹配。本发明提供的新型高强高塑性IF钢的制备方法，与其他剧烈塑形变形工艺不同，能够生产大尺度样品，从而具有实际应用价值；在保证延伸率的同时，提高强度至少一倍。
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