一种限域介电击穿固态纳米孔器件的制备方法及其产品和应用

    公开(公告)号:CN113548641A

    公开(公告)日:2021-10-26

    申请号:CN202110850805.5

    申请日:2021-07-27

    IPC分类号: B81C1/00 B81B1/00 G01N27/26

    摘要: 本发明涉及一种限域介电击穿固态纳米孔器件的制备方法及其产品和应用,属于纳米孔器件制备技术领域。本发明公开了一种限域介电击穿固态纳米孔器件的制备方法,该方法是基于聚焦离子束双面刻蚀沟道减薄薄膜的方法和限域介电击穿固态纳米孔器件制造方法,可以有效的限制电介质击穿法制备纳米孔的位置和数量;同时相比普通薄膜打薄技术对材料的损伤较小以及较高的材料稳定性,可以用于研究各种体材料形成的极薄的纳米孔传感性能;另外也可以了解不同化合物材料叠加在一起制备的超薄稳定纳米孔的传感性能,具有很大的应用发展潜力。

    一种基于微流控的纳米孔分离或检测结构

    公开(公告)号:CN108579831B

    公开(公告)日:2020-09-04

    申请号:CN201810458936.7

    申请日:2018-05-15

    IPC分类号: B01L3/00

    摘要: 本发明提供一种基于微流控的纳米孔分离或检测结构,从下至上依次包括底层、中间层、上层,所述底层与中间层之间、中间层与上层之间均设有纳米孔芯片,所述底层、中间层、上层内均设有连通所述纳米孔芯片表面的微流道,所述上层设有电极接口,所述微流道与所述电极接口连通。本发明具有易于安装和可自行组合的特点,可封装现有单个纳米孔芯片或纳米孔阵列芯片,将纳米孔检测、分离技术与微流控技术结合,进而减少实验中纳米孔安装的时间,可实现纳米孔芯片的高通量,多级串联应用。该芯片可以通过两种底层微流道类型和两种上层流道类型,组合出四种类型的单级到多级的芯片,能满足固态纳米孔的大部分封装要求。

    一种基于DLP技术和压缩感知理论的超灵敏光谱检测方法及系统

    公开(公告)号:CN106323471B

    公开(公告)日:2019-03-08

    申请号:CN201610850533.8

    申请日:2016-09-26

    IPC分类号: G01J3/44

    摘要: 本发明涉及一种基于DLP技术和压缩感知理论的超灵敏光谱检测方法及系统,该检测方法以DLP分光技术和压缩感知理论为核心,采用单点探测器,结合DLP分光技术,采用压缩感知理论即可以实现超灵敏的光谱检测。该超灵敏度的光谱检测系统包括:滤光片/滤光系统1、第一透镜2、狭缝3、准直/聚焦镜4、光栅5、DMD器件6、单点探测器7、电控系统及软件8、第二透镜9;其灵敏度可以显著提高,成本成倍降低。该系统可以广泛应用于采用光栅分光的光谱仪系统,如拉曼光谱仪、红外光谱仪、荧光光谱仪、SPR光谱仪等。