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公开(公告)号:CN117973037A
公开(公告)日:2024-05-03
申请号:CN202410139503.0
申请日:2024-01-31
申请人: 长春理工大学 , 长春理工大学中山研究院 , 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号: G06F30/20 , G01B21/00 , G01M11/00 , G06F30/10 , G06F17/10 , G06N7/01 , G06F111/10 , G06F111/08 , G06F119/02
摘要: 本发明提供了一种用于大型复杂光机系统装配的组合式测量基准设计方法,属于大型复杂光机系统装配组合式测量领域,方法包括:基于大型复杂光机系统装配的设计基准建立一级基准坐标系;基于一级基准坐标系建立二级基准;二级基准用于确定待装配部件与不同测量基板的相对位置关系;在小基板上确定多个三级基准点,以在小基板上建立三级基准;三级基准用于在小基板上装配局部零部件时进行配准;根据各二级基准点及各三级基准点的空间方向总偏差值确定各二级基准点及各三级基准点的测量权重;进而基于一级基准坐标系、二级基准及三级基准对大型复杂光机系统装配进行测量。本发明提高了大型复杂光机系统的装配精度。
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公开(公告)号:CN117973037B
公开(公告)日:2024-09-03
申请号:CN202410139503.0
申请日:2024-01-31
申请人: 长春理工大学 , 长春理工大学中山研究院 , 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号: G06F30/20 , G01B21/00 , G01M11/00 , G06F30/10 , G06F17/10 , G06N7/01 , G06F111/10 , G06F111/08 , G06F119/02
摘要: 本发明提供了一种用于大型复杂光机系统装配的组合式测量基准设计方法,属于大型复杂光机系统装配组合式测量领域,方法包括:基于大型复杂光机系统装配的设计基准建立一级基准坐标系;基于一级基准坐标系建立二级基准;二级基准用于确定待装配部件与不同测量基板的相对位置关系;在小基板上确定多个三级基准点,以在小基板上建立三级基准;三级基准用于在小基板上装配局部零部件时进行配准;根据各二级基准点及各三级基准点的空间方向总偏差值确定各二级基准点及各三级基准点的测量权重;进而基于一级基准坐标系、二级基准及三级基准对大型复杂光机系统装配进行测量。本发明提高了大型复杂光机系统的装配精度。
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