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公开(公告)号：CN115784599B
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202211520707.6
申请日：2022-11-29
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司 , 湖北光谷实验室
IPC: C03B37/012 , G02B6/06 , C03B37/027
Abstract: 本发明属于光纤技术领域，公开了一种低串扰的传像光纤及其制备方法。本发明首先制备多种类型的芯丝，不同类型的芯丝具有不同的数值孔径且具有相同的外径；然后以多种类型的芯丝填充石英玻璃管，填充时使任一芯丝的数值孔径与相邻芯丝的数值孔径不同；之后对填充后的石英玻璃管进行熔缩拉丝得到传像光纤。本发明制备得到的传像光纤包括若干具有相同外径的纤芯，任一纤芯的数值孔径与相邻纤芯的数值孔径不同，能够减少纤芯间的耦合，降低串扰。相对于降低传像光纤纤芯串扰的其他方案，本发明能够降低制备难度和成本。
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公开(公告)号：CN117347009A
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN202311292885.2
申请日：2023-09-28
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司 , 湖北光谷实验室
IPC: G01M11/00 , G01M11/02 , G01B11/08 , G01B11/255
Abstract: 本发明提供一种光纤微弯工装、微弯测试系统及方法，包括桶体、粘附层以及底部光纤，所述粘附层设置在所述桶体的外表面，所述底部光纤粘贴在所述粘附层上，所述底部光纤包括多种不同外径光纤，且每所述不同外径光纤均呈一定的绕线角度和绕线间隔缠绕在所述桶体外侧，且多种所述不同外径光纤均呈一定的宽度粘贴在所述桶体表面形成不同微弯区域。本发明不仅可以提高光纤微弯测试结果的准确性，并且在需要评估光纤多种微弯尺寸的情况时，还可以有效避免多次测试、耗时费力的情况，同时还能改善测试重复性带来的误差较大导致测试结果不准的情况。
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公开(公告)号：CN115784599A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211520707.6
申请日：2022-11-29
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司 , 湖北光谷实验室
IPC: C03B37/012 , G02B6/06 , C03B37/027
Abstract: 本发明属于光纤技术领域，公开了一种低串扰的传像光纤及其制备方法。本发明首先制备多种类型的芯丝，不同类型的芯丝具有不同的数值孔径且具有相同的外径；然后以多种类型的芯丝填充石英玻璃管，填充时使任一芯丝的数值孔径与相邻芯丝的数值孔径不同；之后对填充后的石英玻璃管进行熔缩拉丝得到传像光纤。本发明制备得到的传像光纤包括若干具有相同外径的纤芯，任一纤芯的数值孔径与相邻纤芯的数值孔径不同，能够减少纤芯间的耦合，降低串扰。相对于降低传像光纤纤芯串扰的其他方案，本发明能够降低制备难度和成本。
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公开(公告)号：CN218212429U
公开(公告)日：2023-01-03
申请号：CN202222163381.8
申请日：2022-08-17
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司 , 湖北光谷实验室
Abstract: 本实用新型属于光纤测试技术领域，公开了一种液体环境中光纤静态疲劳的测试装置。本实用新型包括液体盛放容器、光纤静态疲劳测试组件和监控组件；固定在光纤静态疲劳测试组件上的光纤样品浸没在液体盛放容器内的液体环境中；监控组件与光纤静态疲劳测试组件连接。本实用新型能够解决现有技术无法测试液体环境中光纤静态疲劳参数的问题，能够为评估液体环境对光纤的实际可靠性的影响提供测试数据支撑。
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公开(公告)号：CN119439382A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411029445.2
申请日：2024-07-30
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
Abstract: 本发明属于光通信技术领域，公开了一种光纤的热熔接方法、光波导适配器。本发明对实芯光纤和空芯光纤分别进行斜角切割，使实芯光纤具有第一斜切角度，空芯光纤具有第二斜切角度，第一斜切角度小于第二斜切角度；然后将具有第一斜切角度的实芯光纤与具有第二斜切角度的空芯光纤进行热熔接。本发明通过不等角的光纤熔接形式，实现了低熔接损耗与低回波损耗的兼得，同时本发明还是一种非镀膜式的熔接方法，操作流程更为简单，更加便于室外现场施工，还能降低对熔接设备的要求。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115373076A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202211007146.X
申请日：2022-08-22
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
Abstract: 本发明属于光纤技术领域，公开了一种光纤模场匹配器及其制备方法。本发明包括第一单模光纤、第二单模光纤和多模光纤，第一单模光纤为截止波长低于1260nm且经扩芯处理的单模光纤，第一单模光纤的一端与第二单模光纤的一端熔接，第一单模光纤的另一端与多模光纤的一端熔接，第一单模光纤的一端的模场直径与第二单模光纤的模场直径相匹配，第一单模光纤的另一端的模场直径与多模光纤的基模的模场直径相匹配。采用本发明提供的光纤模场匹配器能够实现多模光纤传输单模光模块信号，并实现对光纤模式的限制。本发明提供的制备方法不需要拉锥光纤，简单、高效。
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公开(公告)号：CN111122321B
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN201911362060.7
申请日：2019-12-26
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种光纤外涂覆层原位模量测试方法，包括以下步骤：(1)用握持部件将待测双层涂覆层的光纤一端以预设的预紧力握持预设长度从而固定，所述光纤其余部分为游离端；(2)在握持部分外侧形成环形涂覆层缺口，所述环形缺口暴露玻璃层；(3)将游离端沿光纤轴向施加剥离力，使得所述光纤玻璃纤芯与被握持部分的光纤外涂覆层分离，获得带有光纤外涂覆层的握持部件；(4)将光纤外涂覆层分离，获得光纤外涂覆层原位模量测试样品；(5)进行杨氏模量测试，获得所述待测光纤的涂覆层原位模量。本发明对于成品光纤的真实光纤外涂覆层样品，实现了直接测试光纤外护层的拉伸模量的测试，能够取代之前薄膜制备的间接测试方法。
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公开(公告)号：CN115303685B
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202210802530.2
申请日：2022-07-07
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
Abstract: 本发明属于性能测试技术领域，公开了一种试样存储装置、试样性能测试系统及测试方法。本发明利用能随转动单元转动的存储单元装载试样并将试样移动至指定区域，并通过位置检测单元进行检测，能够极大地减少取样点数量，提高取样准确性。本发明通过控制装置控制试样存储装置的转动以及试样自动移动至取样点，控制机器人装置按预设的路径进行移动，控制抓取装置移动至试样存储装置的指定区域抓取试样并将试样移动至装夹装置的试样固定位置，控制装夹装置自动夹紧或松开试样，控制性能测试装置自动对试样进行测试，本发明能够实现试样性能测试的全自动，有效提高测试效率。
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公开(公告)号：CN110174242B
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN201910435604.1
申请日：2019-05-23
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种光时域反射仪消除激光器波长漂移误差的装置和方法，参考光纤通过真空封装后置入参考光纤盒，将参考光纤盒连入光时域反射仪出光口前，使用台式脉冲激光器作为光时域反射仪光源，进行波长扫描，测量不同波长下，参考光纤的衰减系数，绘制为参考曲线，加入参考光纤盒的光时域反射仪测量出的光纤链路反射曲线，取参考光纤对应的数据，计算出参考光纤的衰减。校正测量得到的被测光纤的衰减值，消除激光器波长漂移引入的误差。本发明光时域反射仪消除激光器波长漂移误差的装置和方法解决了光纤光缆OTDR测量过程中，激光器工作不稳定导致的系统测量误差。
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公开(公告)号：CN105204110B
公开(公告)日：2018-06-12
申请号：CN201510731033.8
申请日：2015-10-31
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种具有较低差分模群时延的少模光纤，包括有芯层和包层，其特征在于所述芯层的相对折射率差Δ1为0.24％～0.36％，R1为9～12μm，包覆在芯层外的包层由内至外依次包括内包层、下陷包层和外包层，所述的内包层相对折射率差Δ2为‑0.02～0.02％，R2为13.6～18μm；所述的下陷包层分为两层，第一下陷包层R3为16～30μm，R3‑R2≥2μm，其相对折射率差以α型折射率分布从R2处的Δ2逐渐变小至R3处的Δ3，Δ3为‑0.8～‑0.4％，第二下陷包层相对折射率差为Δ3，半径R4为18.6～30μm，且R4≥R3，0.5≤(R3‑R2)/(R4‑R2)≤1，所述的外包层为纯石英玻璃层。本发明具有更小的DGD和较大的MFD，同时还保留了较好的抗弯曲性能。
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