训练模型的方法、装置、存储介质以及电子设备

    公开(公告)号:CN116188940A

    公开(公告)日:2023-05-30

    申请号:CN202310028098.0

    申请日:2023-01-09

    摘要: 本申请公开了一种训练模型的方法、装置、存储介质以及电子设备。其中,该方法包括:获取第一目标检测算法模型以及历史时段第一印刷电路板缺陷部位的第一尺寸以及预设阈值,确定聚类后的第一尺寸中的最小值与预设阈值的差值;在差值小于零的情况下,在第一目标检测算法模型中的YOLO层增设第二数量的第二预测模块得到第二目标检测算法模型;获取已标注好的多个第二印刷电路板图像,基于多个第二印刷电路板图像对第二目标检测算法模型进行模型训练及测试得到第三目标检测算法模型。本申请解决了由于深度学习算法中的深层卷积会使微小目标感受野不断变大,多次下采样后目标特征图减小造成的印刷电路板缺陷的漏检,识别结果准确性较差的技术问题。