一种光子计数探测器能量响应测试方法

    公开(公告)号:CN118857479A

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202410921865.5

    申请日:2024-07-10

    IPC分类号: G01J11/00 G01T1/17 G01T7/00

    摘要: 本发明涉及光电子器件的技术领域,公开了一种光子计数探测器能量响应测试方法,应用于光脉冲发生设备,具体包括以下步骤:S101:接收MCU模块所发出的光脉冲发生请求,所述光脉冲发生请求携带有所需发出的光脉冲请求的属性特征;S102:识别光脉冲请求的属性特征并发送至执行命令至光电倍增管执行光脉冲属性特征以生成当前所需的光脉冲信号,并将光脉冲信号发送至放大器进行信号放大,把光电倍增管阳极回路输出的光电子脉冲及其他的噪声脉冲线性放大。本发明保证了所制成红外成像器件的反应速度,实现对所需测试的脉冲信号在光子上转换器上进行补偿响应特性的快速实时检测,为光子脉冲信号后期大规模推广使用奠定了基础。

    基于光电流响应的CdZnTe探测器计数率测试方法及装置

    公开(公告)号:CN116088031A

    公开(公告)日:2023-05-09

    申请号:CN202211731669.9

    申请日:2022-12-30

    IPC分类号: G01T7/00

    摘要: 本发明提供了基于一种光电流响应的CdZnTe探测器计数率测试方法及装置,其方法包括:获取CdZnTe探测器在X射线处于不同管电流下的计数率变化曲线;进行预设管电流步进并获取CdZnTe探测器在不同采集时间下的光电流台阶曲线中,并进行均值与拟合处理,得到管电流与光电流的关联关系;基于管电流与光电流的关联关系以及不同的探测器工作偏压下判断光电流台阶曲线的稳定性,基于稳定性确定CdZnTe探测器是否处于极化状态;CdZnTe探测器在非极化状态时,基于计数率变化曲线对CdZnTe探测器进行计数率测试。本发明通过对比计数率曲线和光电流响应曲线,可以快速判断探测器是否在非极化状态,在最终某一管电压下的计数率拟合曲线中,可以准确地测评高计数率CdZnTe探测器在某一X射线剂量下的计数率。

    一种骨密度仪用的X射线探测器

    公开(公告)号:CN113229833A

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN202110596086.9

    申请日:2021-05-29

    IPC分类号: A61B6/00 G01T7/00

    摘要: 本发明涉及一种骨密度仪用的X射线探测器,包括占探测器阳极表面中间区域大部分的密排矩形中间电极;占探测器阳极表面边缘区域大部分、尺寸为所述矩形电极2/3的矩形边缘电极;填充最外围电极到探测器边缘之间盈余部分的表面环电极;占探测器侧面面积3/5、由阳极向阴极扩展的侧面环电极;阳极平面内各类电极间具有相等的分隔间距;阴极平面与探测器边缘相距同所述分隔间距相等的完整电极。本发明制备的X射线探测器可以提高边缘电极成像性能,探测效率高、能谱性能优异,可以满足骨密度仪对X射线探测器高效率、高分辨率的要求。