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公开(公告)号：CN103229039B
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201180058803.7
申请日：2011-10-06
Applicant: 霍尼韦尔阿斯卡公司
CPC classification number: G01N33/18 , G01N21/15 , G01N21/276 , G01N21/3577 , G01N21/552 , G01N21/8507 , G01N33/0029 , G01N2021/152
Abstract: 一种系统（100、300）包括信号源（126、326），该信号源提供用于测量液体样品的气体含量的第一信号。该系统还包括分析器（128、328），该分析器利用第二信号的测量结果来确定液体样品的气体含量，其中，第二信号基于第一信号。该系统还包括装置，该装置具有有壁结构（106、306），该有壁结构具有腔体（108、308）。该装置还包括活塞（110、310），该活塞把液体样品拉入腔体并把液体样品推出该腔体。该装置还包括至少一个测量窗口（130‑132、330），该至少一个测量窗口的至少一个内表面暴露在该腔体内。所述至少一个测量窗口从信号源接收第一信号并且向分析器提供第二信号。活塞还可以清洁至少一个内表面，并且活塞可以包括用于校准分析器的参考材料（116、316）。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104254759A
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：CN201380022580.8
申请日：2013-04-10
Applicant: 霍尼韦尔阿斯卡公司
CPC classification number: G01B21/042 , G01B7/107 , G01B11/0691 , G01N33/346
Abstract: 一种方法包括使用具有第一和第二传感器模块（202-204，302-304）的卡尺厚度传感器（200，300）来测量（508）材料片材（108）的卡尺厚度。所述方法还包括基于第一传感器模块中的第一传感器组件和第二传感器模块中的第二传感器组件之间的横向位移来调整（514）卡尺厚度测量值以生成所校正的卡尺厚度测量值。调整卡尺厚度测量值可以包括应用基于所测量的横向位移来调整卡尺厚度测量值的校正函数。所述校正函数可以通过在第一和第二传感器组件之间重复地创造不对准，使用卡尺厚度传感器测量已知距离，并识别已知距离的测量值和已知距离之间的误差来识别。
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公开(公告)号：CN104254759B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201380022580.8
申请日：2013-04-10
Applicant: 霍尼韦尔阿斯卡公司
Abstract: 一种方法包括使用具有第一和第二传感器模块（202‑204，302‑304）的卡尺厚度传感器（200，300）来测量（508）材料片材（108）的卡尺厚度。所述方法还包括基于第一传感器模块中的第一传感器组件和第二传感器模块中的第二传感器组件之间的横向位移来调整（514）卡尺厚度测量值以生成所校正的卡尺厚度测量值。调整卡尺厚度测量值可以包括应用基于所测量的横向位移来调整卡尺厚度测量值的校正函数。所述校正函数可以通过在第一和第二传感器组件之间重复地创造不对准，使用卡尺厚度传感器测量已知距离，并识别已知距离的测量值和已知距离之间的误差来识别。
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公开(公告)号：CN102171549B
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN200980138678.3
申请日：2009-07-31
Applicant: 霍尼韦尔阿斯卡公司
CPC classification number: D21F7/06 , D21F7/003 , D21G9/0009 , G01N21/3563 , G01N21/3586 , G01N21/86
Abstract: 一种用于在由制造系统（700）生产时的片材的性质的非接触表征的现场的基于时域频谱（TDS）的方法（200）。提供时域频谱系统（100）和用于系统（100）的校准数据。校准数据包括作为片材的含湿量的函数的、通过片材透射的功率或者从片材反射的功率的数据。将来自透射机（111）的THz或近THz辐射的至少一个脉冲引导至正由制造系统（700）处理的片材样本（130）上的样本位置处。由检测器（110）同步检测与来自样本位置的至少一个透射脉冲或反射脉冲相关联的透射辐射或反射辐射以获得样本数据。连同校准数据（207、208、209）一起处理作为重合数据的样本数据以确定选自片层厚度、基重和含湿量的片材样本（130）的至少一个性质并且通常是多个性质。
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公开(公告)号：CN103229039A
公开(公告)日：2013-07-31
申请号：CN201180058803.7
申请日：2011-10-06
Applicant: 霍尼韦尔阿斯卡公司
CPC classification number: G01N33/18 , G01N21/15 , G01N21/276 , G01N21/3577 , G01N21/552 , G01N21/8507 , G01N33/0029 , G01N2021/152
Abstract: 一种系统（100、300）包括信号源（126、326），该信号源提供用于测量液体样品的气体含量的第一信号。该系统还包括分析器（128、328），该分析器利用第二信号的测量结果来确定液体样品的气体含量，其中，第二信号基于第一信号。该系统还包括装置，该装置具有有壁结构（106、306），该有壁结构具有腔体（108、308）。该装置还包括活塞（110、310），该活塞把液体样品拉入腔体并把液体样品推出该腔体。该装置还包括至少一个测量窗口（130-132、330），该至少一个测量窗口的至少一个内表面暴露在该腔体内。所述至少一个测量窗口从信号源接收第一信号并且向分析器提供第二信号。活塞还可以清洁至少一个内表面，并且活塞可以包括用于校准分析器的参考材料（116、316）。
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公开(公告)号：CN102171549A
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN200980138678.3
申请日：2009-07-31
Applicant: 霍尼韦尔阿斯卡公司
CPC classification number: D21F7/06 , D21F7/003 , D21G9/0009 , G01N21/3563 , G01N21/3586 , G01N21/86
Abstract: 一种用于在由制造系统（700）生产时的片材的性质的非接触表征的现场的基于时域频谱（TDS）的方法（200）。提供时域频谱系统（100）和用于系统（100）的校准数据。校准数据包括作为片材的含湿量的函数的、通过片材透射的功率或者从片材反射的功率的数据。将来自透射机（111）的THz或近THz辐射的至少一个脉冲引导至正由制造系统（700）处理的片材样本（130）上的样本位置处。由检测器（110）同步检测与来自样本位置的至少一个透射脉冲或反射脉冲相关联的透射辐射或反射辐射以获得样本数据。连同校准数据（207、208、209）一起处理作为重合数据的样本数据以确定选自片层厚度、基重和含湿量的片材样本（130）的至少一个性质并且通常是多个性质。
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