半导体制冷设备的系统调试方法

    公开(公告)号:CN114963630B

    公开(公告)日:2023-06-16

    申请号:CN202110210452.2

    申请日:2021-02-25

    Abstract: 本发明涉及半导体制冷设备的系统调试方法,包括:初始实验数据获取步骤,通过对半导体制冷设备进行多次随机试验获取初始实验数据,初始实验数据中的输入数据形成初始族群;适应度计算步骤,基于实验数据计算族群中每个个体的适应度;下一代族群获取步骤,若根据族群中所有个体的适应度判定不满足停止条件时,依据概率对族群进行遗传操作并得到下一代族群;新实验数据获取步骤,通过实际试验测试得到与下一代族群中的每个个体对应的输出数据,以形成新实验数据;返回并循环执行适应度计算步骤、下一代族群获取步骤和新实验数据获取步骤直至满足停止条件。本申请的系统调试方法测试结果更加靠谱,准确率较高。

    半导体制冷设备的系统调试方法

    公开(公告)号:CN114963630A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202110210452.2

    申请日:2021-02-25

    Abstract: 本发明涉及半导体制冷设备的系统调试方法,包括:初始实验数据获取步骤,通过对半导体制冷设备进行多次随机试验获取初始实验数据,初始实验数据中的输入数据形成初始族群;适应度计算步骤,基于实验数据计算族群中每个个体的适应度;下一代族群获取步骤,若根据族群中所有个体的适应度判定不满足停止条件时,依据概率对族群进行遗传操作并得到下一代族群;新实验数据获取步骤,通过实际试验测试得到与下一代族群中的每个个体对应的输出数据,以形成新实验数据;返回并循环执行适应度计算步骤、下一代族群获取步骤和新实验数据获取步骤直至满足停止条件。本申请的系统调试方法测试结果更加靠谱,准确率较高。

    半导体制冷设备的系统调试方法

    公开(公告)号:CN114909819A

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN202110182329.4

    申请日:2021-02-08

    Abstract: 本发明涉及半导体制冷设备的系统调试方法,半导体制冷设备具有多个用于表征其性能的输出参数,本发明的系统调试方法包括:通过多次随机试验获取初始实验数据;针对每个输出参数分别采用线性拟合方法和树形拟合方法进行拟合,以得到对应于每个输出参数的线性模型和树形模型;根据设定的拟合指标分别针对每个输出参数均选择一种拟合效果最好的最优模型;根据多个输出参数的最优模型和修正后的贪心策略选择目标输入数据集;对目标输入数据集进行实际试验测试。本发明的系统调试方法基于贪心搜索和机器学习拟合算法同时对多个输出参数进行优化,不需要调试人员手动调试,自动化程度较高,调试效率较高,调试结果精确度较高。

    半导体制冷设备及其控制方法

    公开(公告)号:CN114739078B

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202110018886.2

    申请日:2021-01-07

    Abstract: 本发明涉及半导体制冷设备及其控制方法,半导体制冷设备具有储物间室、以及用于为储物间室提供冷量的两个半导体制冷片,控制方法包括:当两个半导体制冷片均处于没有发生故障的正常状态时,控制半导体制冷设备以正常模式运行;当仅有一个半导体制冷片发生故障时,控制半导体制冷设备以故障模式运行。在正常模式下,两个半导体制冷片同时以正常制冷模式为储物间室提供冷量;在故障模式下,发生故障的故障半导体制冷片停止运行、另一个未发生故障的正常半导体制冷片以故障制冷模式运行;在故障制冷模式下,正常半导体制冷片的设定供电电压高于其在正常制冷模式下的设定供电电压。本申请硬件成本低、无资源浪费、安全可靠。

    半导体制冷设备及其控制方法

    公开(公告)号:CN114739077B

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202110018873.5

    申请日:2021-01-07

    Abstract: 本发明涉及半导体制冷设备及其控制方法。半导体制冷设备包括储物间室,其控制方法包括:获取储物间室的设定温度、半导体制冷设备所处的环境温度、以及半导体制冷片的冷端温度和热端温度;计算设定温度与冷端温度之间的温度差;根据温度差、环境温度、冷端温度和热端温度确定半导体制冷设备的冷端风机和热端风机的目标占空比;控制冷端风机和热端风机运行按照各自的目标占空比运行。本申请通过调节冷端风机和热端风机的目标占空比,使其转速与实际需求相匹配,更加全面地考虑了影响半导体制冷片制冷效果的几乎所有因素,因此,能够对半导体制冷设备进行更加精确地控温,减小控制误差,提高了用户的使用体验。

    半导体制冷设备及其控制方法

    公开(公告)号:CN114739077A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202110018873.5

    申请日:2021-01-07

    Abstract: 本发明涉及半导体制冷设备及其控制方法。半导体制冷设备包括储物间室,其控制方法包括:获取储物间室的设定温度、半导体制冷设备所处的环境温度、以及半导体制冷片的冷端温度和热端温度;计算设定温度与冷端温度之间的温度差;根据温度差、环境温度、冷端温度和热端温度确定半导体制冷设备的冷端风机和热端风机的目标占空比;控制冷端风机和热端风机运行按照各自的目标占空比运行。本申请通过调节冷端风机和热端风机的目标占空比,使其转速与实际需求相匹配,更加全面地考虑了影响半导体制冷片制冷效果的几乎所有因素,因此,能够对半导体制冷设备进行更加精确地控温,减小控制误差,提高了用户的使用体验。

    半导体制冷设备的系统调试方法

    公开(公告)号:CN114909819B

    公开(公告)日:2023-06-16

    申请号:CN202110182329.4

    申请日:2021-02-08

    Abstract: 本发明涉及半导体制冷设备的系统调试方法,半导体制冷设备具有多个用于表征其性能的输出参数,本发明的系统调试方法包括:通过多次随机试验获取初始实验数据;针对每个输出参数分别采用线性拟合方法和树形拟合方法进行拟合,以得到对应于每个输出参数的线性模型和树形模型;根据设定的拟合指标分别针对每个输出参数均选择一种拟合效果最好的最优模型;根据多个输出参数的最优模型和修正后的贪心策略选择目标输入数据集;对目标输入数据集进行实际试验测试。本发明的系统调试方法基于贪心搜索和机器学习拟合算法同时对多个输出参数进行优化,不需要调试人员手动调试,自动化程度较高,调试效率较高,调试结果精确度较高。

    冰箱控制板的自动测试设备
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115113600A

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202110295772.2

    申请日:2021-03-19

    Abstract: 本发明提供了一种冰箱控制板的自动测试设备,其包括:检测主机,其具有第一接口以及第二接口;信号输出装置,与第一接口以及被测控制板分别连接,并配置成根据第一接口下发的测试指令生成测试信号,并将测试信号提供至被测控制板相应的输入接口;数据采集装置,与第二接口以及被测控制板分别连接,并配置成采集被测控制板对测试信号的响应动作信号,并通过第二接口向检测主机提供,并且检测主机,还配置成获取测试方案,按照测试方案生成测试指令并通过第一接口向信号输出装置提供,并将通过第二接口获取到的响应动作信号转换为对应的执行结果。本发明的方案可以自动完成冰箱控制板全面功能测试,提高了测试效率,缩短了测试周期。

    半导体制冷设备及其控制方法

    公开(公告)号:CN114739076A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202110018865.0

    申请日:2021-01-07

    Abstract: 本发明涉及半导体制冷设备及其控制方法。半导体制冷设备包括储物间室,其控制方法包括:获取储物间室的设定温度、半导体制冷设备所处的环境温度、以及半导体制冷片的冷端温度和热端温度;计算设定温度与冷端温度之间的温度差;根据温度差、环境温度、冷端温度和热端温度确定半导体制冷片的设定供电电压;按照设定供电电压为半导体制冷片供电。本申请不但考虑了设定温度和半导体制冷片的冷端温度之间的温度差,而且还同时考虑了半导体制冷片的热端温度和环境温度,全面地覆盖了影响半导体制冷片制冷效率的几乎所有因素,因此,能够对半导体制冷设备进行更加精确地控温,减小控制误差,提高了用户的使用体验。

    半导体制冷设备及其控制方法

    公开(公告)号:CN114739078A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202110018886.2

    申请日:2021-01-07

    Abstract: 本发明涉及半导体制冷设备及其控制方法,半导体制冷设备具有储物间室、以及用于为储物间室提供冷量的两个半导体制冷片,控制方法包括:当两个半导体制冷片均处于没有发生故障的正常状态时,控制半导体制冷设备以正常模式运行;当仅有一个半导体制冷片发生故障时,控制半导体制冷设备以故障模式运行。在正常模式下,两个半导体制冷片同时以正常制冷模式为储物间室提供冷量;在故障模式下,发生故障的故障半导体制冷片停止运行、另一个未发生故障的正常半导体制冷片以故障制冷模式运行;在故障制冷模式下,正常半导体制冷片的设定供电电压高于其在正常制冷模式下的设定供电电压。本申请硬件成本低、无资源浪费、安全可靠。

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