用于冰箱显示系统异常监测的方法及装置、电子设备、存储介质

    公开(公告)号:CN118688526A

    公开(公告)日:2024-09-24

    申请号:CN202310285681.X

    申请日:2023-03-22

    Inventor: 李娟 马廷 徐晶晶

    Abstract: 本申请涉及智能冰箱技术领域,公开一种用于冰箱显示系统异常监测的方法,包括:与云端服务器建立通讯连接,并与冰箱显示系统建立串口连接。云端服务器中预先配置有异常监测策略,异常监测策略包括异常类型及其对应的异常处置措施。响应于预设的异常监测指令对预设串口进行异常监测,获得异常监测情况。根据异常监测策略对异常监测情况进行实时处理。这样,通过分别与云端服务器和冰箱显示系统建立通讯连接,由于云端服务器中预先配置有异常监测策略,根据异常监测策略能够在监测到发生异常的情况下及时进行处理,提高了对于冰箱显示系统进行异常监测时的实时性。本申请还公开一种用于冰箱显示系统异常监测的装置及电子设备、存储介质。

    冰箱及其控制方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119289593A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202310841186.2

    申请日:2023-07-10

    Abstract: 本发明属于冰箱领域,具体提供了一种冰箱及其控制方法。本发明的控制方法包括:获取所述冰箱的气调装置在当前补液周期内工作的累计时长,并记作第一累计时长;如果所述第一累计时长达到了第一时间阈值,判断所述冰箱的补液容器是否需要补液;如果需要补液,发出补液提示信息;如果不需要补液,控制所述冰箱的补液泵转动预设时长。本发明的冰箱在补液容器需要补液时,能够发出补液提示信息,提醒用户对补液容器补液,从而有效地避免了用户忘记给补液容器补液,确保了冰箱的气调功能。

    冰箱进入特殊控制模式的方法、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117704705A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311829789.7

    申请日:2023-12-28

    Abstract: 本发明揭示了一种冰箱进入特殊控制模式的方法、电子设备及存储介质,包括当接收调节挡位旋钮至最低档以及开关门按键的信号时,响应于挡位旋钮的变化信号,判断是否进入特殊控制模式;当在设定时间内,多次接收到挡位旋钮从最低档调节至最高档的信号,且调节信号的次数满足设定的最小旋转次数时,向制冷系统发送控温指令,以进入所述调节次数对应的特殊控制模式。本发明通过在普通程序模式下使用特殊控制逻辑进入特殊控制模式,为机械式冰箱出厂检测以及售后检测提供了便携性的控制方法。且本发明提供的特殊控制逻辑通过构建双重验证,有效避免了冰箱在实际使用过程中因用户误触而进入特殊控制模式的情况发生。

    用于进行跨链交互的方法及装置、电子设备、存储介质

    公开(公告)号:CN116628093A

    公开(公告)日:2023-08-22

    申请号:CN202310638813.2

    申请日:2023-05-31

    Abstract: 本申请涉及数据交互技术领域,公开一种用于进行跨链交互的方法,包括:利用链卡建立平行链与预设的跨链平台之间的连接,并利用链卡对平行链进行监测。链卡为用于进行跨链交互的软件组件。在监测到平行链发起跨链交易请求的情况下,获取跨链交易请求对应的应用类型。利用链卡和预设的跨链平台根据应用类型进行平行链之间的跨链交互。这样,通过链卡打通平行链与跨链平台之间的联系,针对不同的应用类型都能够通过链卡和预设的跨链平台实现跨链操作,无需转变不同的接口调用方法、数据上链结构、数据解析方式、通信协议等。使得跨链操作更为便捷,从而提高跨链交互的效率。本申请还公开一种用于进行跨链交互的装置及电子设备、存储介质。

    用于评估芯片软错误率的方法、装置及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN117849579A

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202311725973.7

    申请日:2023-12-15

    Abstract: 本申请涉及芯片评估技术领域,公开一种用于评估芯片软错误率的方法。该方法包括将待测芯片存储器所在的位置确定为目标测试位置;控制激光诱导辐射装置按照目标辐照策略对目标测试位置施加辐射应力;在确定加速测试参数已预置的情况下,对待测芯片进行加速测试,以获得单位时间内待测芯片的软错误发生次数;根据单位时间内待测芯片的软错误发生次数,计算待测芯片的软错误率。本申请通过采用激光诱导辐射取代传统加速器或反应堆等中子源产生的高能辐射粒子,并通过加速试验模型诱导软错误,实现测试过程简单化和测试装置小型化,在缩短测试时间的同时有效降低了测试成本。本申请还公开一种用于评估芯片软错误率的装置及计算机可读存储介质。

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