压敏导管校正系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102160820A

    公开(公告)日:2011-08-24

    申请号:CN201010623268.2

    申请日:2010-12-23

    IPC分类号: A61B19/00 A61B5/06

    摘要: 本发明提供了一种校正设备,所述校正设备包括固定装置,所述固定装置被连接为接纳探针,使得所述探针的远端头压到所述固定装置内的某点上,并根据施加到所述远端头上的压力产生第一测量值,所述第一测量值指示所述远端头相对于所述探针远端的变形。本发明还提供了一种感测装置,所述感测装置被连接到所述固定装置上,并被配置成产生有关所述远端头施加到所述点上的机械力的第二测量值。本发明还提供了一种校正处理器,所述校正处理器被配置成接收来自所述探针的所述第一测量值和来自所述感测装置的所述第二测量值,并根据所述第一测量值和所述第二测量值计算一个或多个校正系数,以用于评价作为所述第一测量值的函数的所述压力。

    压敏导管校正系统
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102160820B

    公开(公告)日:2014-12-24

    申请号:CN201010623268.2

    申请日:2010-12-23

    IPC分类号: A61B19/00 A61B5/06

    摘要: 本发明提供了一种校正设备,所述校正设备包括固定装置,所述固定装置被连接为接纳探针,使得所述探针的远端头压到所述固定装置内的某点上,并根据施加到所述远端头上的压力产生第一测量值,所述第一测量值指示所述远端头相对于所述探针远端的变形。本发明还提供了一种感测装置,所述感测装置被连接到所述固定装置上,并被配置成产生有关所述远端头施加到所述点上的机械力的第二测量值。本发明还提供了一种校正处理器,所述校正处理器被配置成接收来自所述探针的所述第一测量值和来自所述感测装置的所述第二测量值,并根据所述第一测量值和所述第二测量值计算一个或多个校正系数,以用于评价作为所述第一测量值的函数的所述压力。

    基于致动器的压敏导管校正系统

    公开(公告)号:CN102119871B

    公开(公告)日:2014-12-10

    申请号:CN201010614857.4

    申请日:2010-12-20

    IPC分类号: A61B19/00 A61B5/06

    摘要: 本发明提供了一种校正设备,所述校正设备包括耦合以固定医用探针远端的固定装置。致动器被配置为压在所述探针的所述远端顶端上,并向所述远端顶端施加具有各自大小和相对于所述远端的各自角度的多个力向量,从而使所述远端顶端相对于所述远端变形。感测装置被配置为测量所述致动器施加的所述力向量的大小。校正处理器被配置为从所述探针接收指示所述远端顶端在所述力向量作用下的所述变形的第一测量值,从所述感测装置接收指示所述力向量大小的第二测量值,并根据所述角度、所述第一测量值和所述第二测量值计算用于评估由所述第一测量值决定的所述力向量的校正系数。

    基于致动器的压敏导管校正系统

    公开(公告)号:CN102119871A

    公开(公告)日:2011-07-13

    申请号:CN201010614857.4

    申请日:2010-12-20

    IPC分类号: A61B19/00 A61B5/06

    摘要: 本发明提供了一种校正设备,所述校正设备包括耦合以固定医用探针远端的固定装置。致动器被配置为压在所述探针的所述远端顶端上,并向所述远端顶端施加具有各自大小和相对于所述远端的各自角度的多个力向量,从而使所述远端顶端相对于所述远端变形。感测装置被配置为测量所述致动器施加的所述力向量的大小。校正处理器被配置为从所述探针接收指示所述远端顶端在所述力向量作用下的所述变形的第一测量值,从所述感测装置接收指示所述力向量大小的第二测量值,并根据所述角度、所述第一测量值和所述第二测量值计算用于评估由所述第一测量值决定的所述力向量的校正系数。