公开(公告)号：CN120009884A

公开(公告)日：2025-05-16

申请号：CN202510088130.3

申请日：2025-01-20

Applicant: 顺德职业技术学院

Inventor： 曾乐天 ,  李景照 ,  毛淇 ,  邹运怀 ,  李亚军

IPC: G01S13/90 ,  G01S7/35 ,  G06F18/15 ,  G06F18/2131

Abstract: 本发明涉及一种基于FiNUFFT的地平面成像斜视极坐标格式算法，机载聚束SAR在相对于地平面高度为H处以速度v做匀速直线运动，形成沿SE方向的合成孔径，以合成孔径的中点A在地平面的投影O为原点建立空间直角坐标系O‑XYZ，假设雷达发射线性调频信号，对距离脉压后的回波信号公式作距离向傅里叶变换(DFT)，并进行方位向Dechirp，采用FiNUFFT实现SSPI的距离向插值，得到聚焦于(x，y)处的点目标成像结果，SSPI的方位向插值和方位FFT采用FiNUFFT实现。本方法显著提升了算法的处理效率，有效地解决了sinc插值速度缓慢及成像效果易受插值误差影响的问题。

公开(公告)号：CN119147535A

公开(公告)日：2024-12-17

申请号：CN202411618197.5

申请日：2024-11-13

Applicant: 顺德职业技术学院

Inventor： 毛淇 ,  刘竞博 ,  曾乐天 ,  李景照

IPC: G01N21/88 ,  G01N25/72 ,  G01B15/00 ,  G01B15/04 ,  G01N23/2251

Abstract: 本发明公开了基于缺陷芯片的覆盖式轨迹检测装置及其检测方法，涉及芯片检测技术领域，包括：支撑座，以及装配在所述支撑座上并呈对称设置的两组芯片检测装置；每组所述芯片检测装置包括盘式螺旋机构，所述盘式螺旋机构的底部设置有切换模组，所述切换模组上设置有芯片检测头；当所述盘式螺旋机构运行时，带动所述芯片检测头以涡状线轨迹递进运行，使得所述芯片检测头以寻边寻点的范围性检测方式覆盖芯片的轮廓；所述芯片检测头包括转轴，以及周向分布在转轴上的光检测头、热红外检测头以及SEM检测头。本发明通过盘式螺旋机构的运动特性，带动芯片检测头进行检测，检测轨迹采用涡状线轨迹递进运行，覆盖性广，检测效率高。

公开(公告)号：CN119575379A

公开(公告)日：2025-03-07

申请号：CN202411718013.2

申请日：2024-11-26

Applicant: 顺德职业技术学院

Inventor： 曾乐天 ,  李景照 ,  毛淇 ,  邹运怀

IPC: G01S13/90 ,  G01S13/931

Abstract: 本发明公开了一种基于FiNUFFT的改进Omega‑K成像方法，先假设在tm时刻，位于x轴上A(vtm，0)点的车载FMCW SAR与场景中任意点目标P(Rssinθs+x，Rscosθs+y)之间的瞬时斜距为R(tm；x，y)，经过Dechirp处理、残余视频相位补偿后的中频回波信号用式(1)表示，对式(1)作方位向快速傅里叶变换(FFT)后进行匹配滤波，再采用FiNUFFT对公式进行距离向重采样操作、方位向残余相位补偿、方位IFFT，获得最终的成像结果。本发明采用FiNUFFT代替Stolt插值以及后续的距离向IFFT处理，无需对数据进行距离向的升采样操作，同时规避了耗时的Stolt插值及其可能带来的误差对成像质量的负面影响，从而在保证成像质量的前提上，显著提升了算法的处理速度。

公开(公告)号：CN119147535B

公开(公告)日：2025-01-10

申请号：CN202411618197.5

申请日：2024-11-13

Applicant: 顺德职业技术学院

Inventor： 毛淇 ,  刘竞博 ,  曾乐天 ,  李景照

IPC: G01N21/88 ,  G01N25/72 ,  G01B15/00 ,  G01B15/04 ,  G01N23/2251

Abstract: 本发明公开了基于缺陷芯片的覆盖式轨迹检测装置及其检测方法，涉及芯片检测技术领域，包括：支撑座，以及装配在所述支撑座上并呈对称设置的两组芯片检测装置；每组所述芯片检测装置包括盘式螺旋机构，所述盘式螺旋机构的底部设置有切换模组，所述切换模组上设置有芯片检测头；当所述盘式螺旋机构运行时，带动所述芯片检测头以涡状线轨迹递进运行，使得所述芯片检测头以寻边寻点的范围性检测方式覆盖芯片的轮廓；所述芯片检测头包括转轴，以及周向分布在转轴上的光检测头、热红外检测头以及SEM检测头。本发明通过盘式螺旋机构的运动特性，带动芯片检测头进行检测，检测轨迹采用涡状线轨迹递进运行，覆盖性广，检测效率高。

公开(公告)号：CN118840480A

公开(公告)日：2024-10-25

申请号：CN202410830845.7

申请日：2024-06-25

Applicant: 顺德职业技术学院

Inventor： 曾乐天 ,  邹运怀 ,  李景照 ,  毛淇

IPC: G06T17/00 ,  G06T5/10

Abstract: 本发明公开了一种基于FiNUFFT的毫米波近场隐匿目标三维成像快速算法系统，包括近场三维成像模型，其特征在于：通过二维平面阵列扫描获取近场三维图像，以坐标系XOY表示发射及接收天线的位置坐标，在目标回波数据采集的过程中，波束照射成像区域的三维目标，天线沿着矩形平面天线阵列均匀运动；根据测量的回波数据SS(X，Y，KR)，重构场景中目标的三维散射函数σ(x，y，z)；其间，对三维空间谱数据进行插值处理，使用FiNUFFT代替Stolt插值及Kz轴的逆傅里叶变换，实现Kz的非均匀采样到均匀采样的变换，得到SS(KX，KY，Z′)，对SS(KX，KY，Z′)分别进行沿X方向和Y方向的逆快速傅里叶变换，从而获得场景目标的三维成像结果σ(x，y，z)。本发明为毫米波近场隐匿目标的三维成像提供了一种更为高效、精确的解决方案。