一种边缘高应力硬脆半导体材料的掏圆加工方法

    公开(公告)号:CN118559900A

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202410951584.4

    申请日:2024-07-16

    IPC分类号: B28D5/04 B28D7/00 B28D7/04

    摘要: 本发明公开了一种边缘高应力硬脆半导体材料的掏圆加工方法,将待处理边缘高应力硬脆半导体材料晶体粘结在衬板上,衬板固定在固定块上,固定于金刚石单线切割机工作台上;从材料圆面靠近圆周弦的位置部分切除边缘应力区;固定块、晶体与衬板分离,晶体与衬板二次粘接,固定在金刚石曲线切割机工作台并让切割线对准入刀口,进行曲线切割,从垂直于单线切割切面的垂直平分线位置,沿着直径向圆心方向以圆形轨迹线,切除剩余应力区域;衬板与材料分离,完成边缘高应力硬脆半导体材料的掏圆。本发明利用金刚石单线切割机对边缘应力区进行部分切除,再利用金刚石曲线切割机将剩余边缘应力区全部切除,实现快速、低成本、低损耗切除,切割后的材料边缘完整无裂痕,粗糙度<50μm,加工废料可二次利用。