分析用阈值生成装置以及分析用阈值生成方法

    公开(公告)号:CN112219107A

    公开(公告)日:2021-01-12

    申请号:CN201980037369.0

    申请日:2019-05-21

    Abstract: 分析用阈值生成装置(100)具备针对受光电平信号(JS)中包含的脉冲的脉冲宽度生成一对阈值或者针对脉冲的脉冲振幅生成一对阈值的阈值运算部(41)。分析用阈值生成装置(100)具备基于阈值运算部(41)生成的一对阈值和脉冲计数部(34)输出的计数值而生成用于分析的一对阈值的阈值校正部(46)。每当脉冲计数部(34)对脉冲进行计数时,阈值运算部(41)重复生成改变一对阈值中的至少一个阈值的新的一对阈值,直到达到预定值为止。

    分析方法以及分析装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109154608B

    公开(公告)日:2021-11-09

    申请号:CN201780026892.4

    申请日:2017-04-28

    Abstract: 分析方法对由树脂材料形成的分析用基板(1)照射激光,所述分析用基板具有捕捉有检测对象物质(11)和微粒子(20)的反应区域(10),所述微粒子(20)是用于标识检测对象物质(11)的金属化合物(步骤S2)。分析方法提取接受来自分析用基板(1)的反射光生成的信号电平作为基板信号电平(DL)(步骤S4)。分析方法接受来自反应区域(10)的反射光并生成受光电平信号(JS)(步骤S6)。分析方法提取反应区域(10)中比来自分析用基板(1)的反射光的受光电平高的信号电平的受光电平信号(JS)作为微粒子检测信号(KS)(步骤S7)。分析方法基于提取的微粒子检测信号(KS)来检测微粒子(20)(步骤S8)。

    光盘装置、光盘旋转位置检测方法以及光盘

    公开(公告)号:CN111243630B

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN201911146938.3

    申请日:2019-11-21

    Abstract: 本发明涉及光盘装置、光盘旋转位置检测方法以及光盘。本发明的课题是提供能够检测光盘的旋转方向的基准位置的光盘装置。本发明的解决手段是光盘装置(1)包括光盘旋转驱动部(3)、光传感器(5)以及控制电路(6)。光盘旋转驱动部(3)使形成有旋转基准标记(20)的光盘(10)旋转。旋转基准标记(20)具有在光盘(10)的半径方向上宽度不同的形状。光传感器(5)检测旋转基准标记(20)。控制电路(6)控制光盘旋转驱动部(3)以及光传感器(5),并在光盘(10)旋转的状态下从光传感器(5)的输出信号中提取旋转基准标记(20)的检测信号作为脉冲波形,并基于脉冲波形来确定光盘(10)的旋转基准位置。

    分析用阈值生成装置以及分析用阈值生成方法

    公开(公告)号:CN112219107B

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN201980037369.0

    申请日:2019-05-21

    Abstract: 分析用阈值生成装置(100)具备针对受光电平信号(JS)中包含的脉冲的脉冲宽度生成一对阈值或者针对脉冲的脉冲振幅生成一对阈值的阈值运算部(41)。分析用阈值生成装置(100)具备基于阈值运算部(41)生成的一对阈值和脉冲计数部(34)输出的计数值而生成用于分析的一对阈值的阈值校正部(46)。每当脉冲计数部(34)对脉冲进行计数时,阈值运算部(41)重复生成改变一对阈值中的至少一个阈值的新的一对阈值,直到达到预定值为止。

    光盘装置、光盘旋转位置检测方法以及光盘

    公开(公告)号:CN111243630A

    公开(公告)日:2020-06-05

    申请号:CN201911146938.3

    申请日:2019-11-21

    Abstract: 本发明涉及光盘装置、光盘旋转位置检测方法以及光盘。本发明的课题是提供能够检测光盘的旋转方向的基准位置的光盘装置。本发明的解决手段是光盘装置(1)包括光盘旋转驱动部(3)、光传感器(5)以及控制电路(6)。光盘旋转驱动部(3)使形成有旋转基准标记(20)的光盘(10)旋转。旋转基准标记(20)具有在光盘(10)的半径方向上宽度不同的形状。光传感器(5)检测旋转基准标记(20)。控制电路(6)控制光盘旋转驱动部(3)以及光传感器(5),并在光盘(10)旋转的状态下从光传感器(5)的输出信号中提取旋转基准标记(20)的检测信号作为脉冲波形,并基于脉冲波形来确定光盘(10)的旋转基准位置。

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