在基于物理气相沉积的超薄氮化铝薄膜中实现空前的结晶质量的系统和方法

    公开(公告)号:CN115956135A

    公开(公告)日:2023-04-11

    申请号:CN202180052285.1

    申请日:2021-10-04

    IPC分类号: C23C14/35

    摘要: 本发明提供一种用于将超薄薄膜沉积到晶片上的方法。该方法包括以下步骤。提供溅射室,其中,该溅射室由晶片处理设备和磁控管共同限定。晶片被放置到晶片处理设备的晶片卡盘上。将该晶片卡盘移动至与磁控管相距第一距离处。将气体引入到溅射室中,使得气体分离成等离子体,其中,该等离子体包括气体离子。当带有晶片的晶片卡盘处于与磁控管相距第一距离处时,向磁控管的至少一个溅射靶材施加第一负电势。将该晶片卡盘移动至与磁控管相距第二距离处。当带有晶片的晶片卡盘处于与磁控管相距第二距离处时,向磁控管的至少一个溅射靶材施加第二负电势。在对磁控管的至少一个溅射靶材施加第二负电势后,将晶片从晶片卡盘移除。