填充物位测量设备和填充物位确定方法

    公开(公告)号:CN109099991B

    公开(公告)日:2022-07-29

    申请号:CN201810642348.9

    申请日:2018-06-21

    IPC分类号: G01F23/284

    摘要: 本发明涉及用于根据反射计法进行填充物位测量的填充物位测量设备、填充物位确定方法、程序单元及计算机可读介质。所述填充物位测量设备包括控制电路,所述控制电路设计成用于改变频级的数量、各个频级之间的频率间隔、各个频级之间的持续时间、频带的宽度、最低频级的频率和/或最高频级的频率。由此能够优化操作顺序。

    反射微波屏障
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107505027A

    公开(公告)日:2017-12-22

    申请号:CN201710433513.5

    申请日:2017-06-09

    IPC分类号: G01F23/284

    摘要: 本发明涉及一种用于通过输出切换信号来监测至少一个工作区域(2)中的限位水平的反射微波屏障(1)。所述反射微波屏障(1)包括:用于连续地发射时间调制的微波信号(4)的微波发射器(3);配置在所述至少一个工作区域(2)的与所述微波发射器(3)的相同侧以接收所述微波信号(4)的反射(7)的微波接收器(5);和与所述微波接收器(5)通信以检测和监测所接收的微波信号(4)的反射(7)中的回波信号(11a~11c)的控制单元(10)。当所述回波信号(11a)的振幅上升或增大时,所述控制单元(10)适于计算回波信号(11a)的运行时间。此外,所述控制单元(10)适于利用所计算的运行时间来确定所述回波信号(11a)的原点(9)是否位于所述至少一个工作区域(2)内,并且适于仅在这种情况下输出切换信号。

    用于校正偏移的设备及方法

    公开(公告)号:CN104105952B

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201380008443.9

    申请日:2013-02-08

    IPC分类号: G01F23/284 G01S7/40

    摘要: 本发明涉及偏移确定设备(107)及方法,其用于通过在反射信号(C)的时间扩展采样值(421b,421c,421d,421e)的可预定的测量范围(407,Ⅰ)之外提供关断信号(TX_On)来校正偏移,其中,关断信号(TX_On)能够至少间歇地停用发送器装置(302),以生成反射信号(C)的时间扩展采样值(421b,421c,421d,421e)内的可预定的静止范围(408,Ⅱ),其中,通过对时间扩展采样值中的在静止范围(408,Ⅱ)内被确定的至少一个采样值(421b,421c,421d,421e)进行评估,确定反射信号(C)的时间扩展采样值(421b,421c,421d,421e)相对于标准值(403)的幅度偏移(210a,210b)处提供幅度偏移(406)的值。(406)的值,并且在偏移提供装置(208)的输出端