回流炉键合结构、回流焊键合方案的确定方法及回流炉

    公开(公告)号:CN118629905A

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202410665410.1

    申请日:2024-05-27

    摘要: 本发明公开了一种回流炉键合结构、回流焊键合方案的确定方法及回流炉。该回流炉键合结构设置于炉腔内的冷却温区;回流炉键合结构包括:在垂直于炉腔长度的竖直方向上相对设置的上键合结构和下键合结构;按照预设真空度,上键合结构与第一键合件贴合并吸附,下键合结构与第二键合件贴合并吸附,且上键合结构和下键合结构在炉腔的长度方向上共同移动;其中,第一键合件与第二键合件在垂直于炉腔长度的竖直方向上通过焊料焊接形成键合件;上键合结构用于移动第一键合件与第二键合件之间的相对位置,且上键合结构和下键合结构还用于使焊料以预设冷却速率冷却。本发明实施例的技术方案可改善键合件之间的对位偏移以及键合件翘曲的问题。

    用于实现特征交叉计算的系统及人工智能芯片

    公开(公告)号:CN118332315B

    公开(公告)日:2024-08-20

    申请号:CN202410726086.X

    申请日:2024-06-06

    IPC分类号: G06F18/213 G06N20/00

    摘要: 本发明公开了一种用于实现特征交叉计算的系统及人工智能芯片。该系统包括任务拆解单元、稀疏任务处理单元和智能处理器组,其中:任务拆解单元,用于获取特征交叉任务,并在特征交叉任务中拆解出至少一个稀疏任务,并将各稀疏任务发送至稀疏任务处理单元;稀疏任务为基于对角线元素为0的三角矩阵进行特征交叉的任务;稀疏任务处理单元,用于在接收到的各稀疏任务中,分别识别出单个特征交叉计算任务,并将各单个特征交叉计算任务发送至智能处理器组中;智能处理器组,用于计算出与各稀疏任务对应的各单个特征交叉计算任务的交叉计算结果。本发明实施例的技术方案可以大大降低特征交叉计算的计算复杂度,有效减少对算力和带宽的需求。

    间接访问寄存器的测试方法、装置、设备及介质

    公开(公告)号:CN117709255B

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202410153866.X

    申请日:2024-02-04

    摘要: 本发明公开了一种间接访问寄存器的测试方法、装置、设备及介质。IP级测试方法包括:根据与目标间接访问寄存器匹配的前门访问路径和后门访问路径,建立前后门访问路径映射关系;根据前后门访问路径映射关系和前门读写方法,构建IP级测试激励对目标间接访问寄存器进行IP级测试。SoC级测试方法包括:根据与待测的系统级测试场景匹配的场景描述信息以及与目标间接访问寄存器对应的前后门访问路径映射关系,生成用于进行SoC级测试的激励文件,对所述目标间接访问寄存器进行SoC级测试。本发明实施例的技术方案实现了一种标准化的间接访问寄存器的测试方法,提高了间接访问寄存器的测试效率,降低了人力成本。

    一种基于ID保序电路的重映射方法、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117909263A

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202410088504.7

    申请日:2024-01-22

    IPC分类号: G06F13/10

    摘要: 本发明实施例公开了一种基于ID保序电路的重映射方法、设备及存储介质。ID保序电路包括主机及从机,主机通过上游ID向从机发送请求,使用从机下游ID进行响应,ID保序。该方法包括创建与各主机分别对应的重映射表,用于记录对应主机的ID重映射信息;创建与从机对应的下游状态表,用于记录各主机对下游ID的使用信息;当检测到第一主机通过第一ID向从机发送请求时,通过与第一主机对应的第一重映射表和下游状态表确定第一ID的使用状态;根据第一ID的使用状态,确定第一ID的重映射策略,根据重映射策略发送请求,并更新第一重映射表和下游状态表,通过状态表和重映射表,可使各主机均能使用从机全部ID,降低重映射资源占用。

    间接访问寄存器的测试方法、装置、设备及介质

    公开(公告)号:CN117709255A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202410153866.X

    申请日:2024-02-04

    摘要: 本发明公开了一种间接访问寄存器的测试方法、装置、设备及介质。IP级测试方法包括:根据与目标间接访问寄存器匹配的前门访问路径和后门访问路径,建立前后门访问路径映射关系;根据前后门访问路径映射关系和前门读写方法,构建IP级测试激励对目标间接访问寄存器进行IP级测试。SoC级测试方法包括:根据与待测的系统级测试场景匹配的场景描述信息以及与目标间接访问寄存器对应的前后门访问路径映射关系,生成用于进行SoC级测试的激励文件,对所述目标间接访问寄存器进行SoC级测试。本发明实施例的技术方案实现了一种标准化的间接访问寄存器的测试方法,提高了间接访问寄存器的测试效率,降低了人力成本。

    一种AI模型计算核调度方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117271098A

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN202311550267.3

    申请日:2023-11-21

    IPC分类号: G06F9/48 G06N20/00 G06F9/50

    摘要: 本发明公开了一种AI模型计算核调度方法、装置、设备及存储介质,包括:获取AI模型对应的计算图,利用预先训练好的算子选择模型,确定计算图中每个算子对应的备选实现方式;根据每个算子对应的备选实现方式生成多个计算核拓扑图;依次获取一个计算核拓扑图作为当前拓扑图,采用递归检索算法依据当前拓扑图在不同核任务调度策略下所需执行时间,确定与当前拓扑图匹配的备选调度策略;对全部的计算核拓扑图进行处理后,对比各计算核拓扑图匹配的备选调度策略,确定与AI模型匹配的目标调度策略。本发明实施例的技术方案可以生成kernel级全局视角的调度策略,提高硬件加速卡资源的利用率以及AI模型的执行效率。

    一种嵌入表访问方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117076720A

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN202311345266.5

    申请日:2023-10-18

    摘要: 本发明公开了一种嵌入表访问方法、装置、电子设备及存储介质,包括:获取嵌入表对应的多个查询任务,确定各查询任务对应的初始负载单元,并将各查询任务分配至对应的初始负载单元;所述嵌入表为多个AI加速卡根据预设片间互联协议,构造的虚拟存储空间;各AI加速卡采用统一寻址方式进行数据访问;通过各初始负载单元确定对应查询任务的哈希值,并根据哈希值确定各查询任务对应的目标负载单元;将各查询任务分配至对应的目标负载单元,通过各目标负载单元执行对应的查询任务,得到与多个查询任务匹配的嵌入表访问结果。本发明实施例的技术方案可以提升搜广推场景下大规模嵌入表的访存性能。

    一种大语言模型训练方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117057411A

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN202311308790.5

    申请日:2023-10-11

    IPC分类号: G06N3/088 G06N3/045

    摘要: 本发明公开了一种大语言模型训练方法、装置、设备及存储介质。应用于调度系统,包括:获取与大语言模型训练所关联的执行流;将执行流中的训练任务按照类型进行划分获取任务分组;将各任务分组按照类型分别发送至匹配的任务执行单元,以使各任务执行单元对计算任务和通信任务并行执行。通过执行流将训练任务下发给调度系统,每个执行流中包括同一批次训练数据的训练任务,通过调度系统将训练任务按照类型划分成计算任务和通信任务并发送至匹配的任务执行单元,最后通过不同类型的任务执行单元接收调度系统发来的任务,各自并行执行,实现了通信任务与计算任务之间的相互掩盖,避免了在通信过程中计算资源的等待,提高了模型训练的效率。

    一种芯片老化测试电路
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116699372A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202310988128.2

    申请日:2023-08-08

    发明人: 韩晶 梁世金 荆泉

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本发明实施例公开了一种芯片老化测试电路。该芯片老化测试电路包括:老化输入控制模块,用于输出控制数据;选择模块,与老化输入控制模块电连接,用于选择输出的数据;伪随机数生成模块,与选择模块电连接,用于生成伪随机数;移位器,与伪随机数生成模块电连接,用于对伪随机数进行移位处理;老化测试沿检测模块,与老化输入控制模块电连接,并通过芯片中的扫描链与移位器电连接;用于检测扫描链上的数据是否发生翻转,以对芯片进行老化测试。本发明实施例提供的芯片老化测试电路,能够保证测试的可靠性。