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    图像检测方法、装置、电子设备及存储介质
    1.
    发明授权
    图像检测方法、装置、电子设备及存储介质 有权

    公开(公告)号：CN113971738B

    公开(公告)日：2024-11-05

    申请号：CN202111262362.4

    申请日：2021-10-28

    申请人： 成都数之联科技股份有限公司

    发明人： 请求不公布姓名 ,  请求不公布姓名 ,  请求不公布姓名

    IPC分类号： G06V10/44 ,  G06V10/764 ,  G06V10/82 ,  G06N3/0455 ,  G06N3/08

    摘要： 本发明提供了一种图像检测方法、装置、电子设备及存储介质，涉及图像检测领域。在本发明中，首先获取原始图像，其中，原始图像包括待检测图像，待检测图像为至少包含四个顶点的多边形；然后，将原始图像输入预先训练的图像检测模型的特征提取网络，得到原始图像的特征图；再将特征图输入图像检测模型的坐标预测网络，得到待检测图像的顶点坐标，并根据顶点坐标，从原始图像中确定待检测图像；最后，根据顶点坐标，将待检测图像进行透视变换，得到目标图像。本发明消除了因拍摄角度造成的图像畸变对图像检测及识别的影响，不需要多次调整拍摄角度，进而提高了图像检测的效率。

    缺陷识别方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质
    2.
    发明授权
    缺陷识别方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 有权

    公开(公告)号：CN114627089B

    公开(公告)日：2024-11-01

    申请号：CN202210281601.9

    申请日：2022-03-21

    申请人： 成都数之联科技股份有限公司

    发明人： 请求不公布姓名 ,  请求不公布姓名

    IPC分类号： G06T7/00 ,  G06V10/774 ,  G06V10/74

    摘要： 本申请提供了一种缺陷识别方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质，涉及缺陷检测技术领域。通过获取待检测OLED面板的初始图片，将初始图片输入预先训练的缺陷识别模型以得到初步识别结果，初步识别结果包括缺陷的类型及缺陷的置信度；判断置信度大于对应缺陷类型所预设的置信度阈值的全部缺陷是否存在至少两个预设类型的第一缺陷；若存在至少两个第一缺陷，计算各第一缺陷与对应的缺陷模板的相似度，获取第一缺陷的目标缺陷类型，第一缺陷的目标缺陷类型为与第一缺陷的相似度最大的缺陷模板对应的缺陷类型，目标缺陷类型作为初始图片的输出结果。通过本实施例提供的缺陷识别方法，能够提高判图的准确度。

    一种电子器件选型推荐方法、系统、设备及存储介质
    3.
    发明公开
    一种电子器件选型推荐方法、系统、设备及存储介质 审中-实审

    公开(公告)号：CN118822142A

    公开(公告)日：2024-10-22

    申请号：CN202410773858.5

    申请日：2024-06-17

    申请人： 成都数之联科技股份有限公司

    发明人： 请求不公布姓名 ,  请求不公布姓名 ,  请求不公布姓名

    IPC分类号： G06Q10/0631 ,  G06F18/22

    摘要： 本发明提供一种电子器件选型推荐方法、系统、设备及存储介质，涉及电子器件选型推荐领域，所述方法流程为：获取不同类别电子器件的基本属性数据以及在不同应用场景中的历史选用数据，以构建训练样本集；基于训练样本集构建适应性指数模型，并且基于适应性指数模型计算不同类别电子器件在不同应用场景中的适应性指数；根据选型目标需求获取电子器件推荐候选集；根据不同类别电子器件在不同应用场景中的适应性指数对电子器件推荐候选集进行筛选处理，以得到电子器件选型推荐结果。本发明通过构建不同类别电子器件在不同应用场景下的适应性指数，能够度量不同类别电子器件对特定场景的适应情况，进而能够实现特定应用场景下的电子器件选型推荐。

    一种基于知识图谱的分词方法、系统、设备及存储介质
    4.
    发明公开
    一种基于知识图谱的分词方法、系统、设备及存储介质 审中-实审

    公开(公告)号：CN118821768A

    公开(公告)日：2024-10-22

    申请号：CN202410774308.5

    申请日：2024-06-17

    申请人： 成都数之联科技股份有限公司

    发明人： 请求不公布姓名 ,  请求不公布姓名

    IPC分类号： G06F40/289 ,  G06F40/242 ,  G06F16/36 ,  G06N5/02

    摘要： 本发明提供一种基于知识图谱的分词方法、系统、设备及存储介质，涉及知识图谱问答领域，所述方法流程为：首先对知识图谱数据进行分词解析，以得到图谱词典数据；然后基于图谱词典数据构建图谱自定义词典，并且根据图谱词典数据的数据变化情况对图谱自定义词典进行动态更新；再对查询语句信息进行词性分词，以得到初始的分词结果；最后基于初始的分词结果对图谱自定义词典进行词性匹配，以得到最终的分词结果。本发明通过对词性进行充分的分析，使得分词结果更加准确，能够更加准确进行查询语句的回答。

    一种工业缺陷目标检测方法、系统、设备及存储介质
    5.
    发明授权
    一种工业缺陷目标检测方法、系统、设备及存储介质 有权

    公开(公告)号：CN118365647B

    公开(公告)日：2024-09-20

    申请号：CN202410796537.7

    申请日：2024-06-20

    申请人： 成都数之联科技股份有限公司

    发明人： 请求不公布姓名 ,  请求不公布姓名 ,  请求不公布姓名

    IPC分类号： G06T7/00 ,  G06T7/13 ,  G06T7/11 ,  G06V10/764 ,  G06V10/774

    摘要： 本发明提供一种工业缺陷目标检测方法、系统、设备及存储介质，涉及缺陷检测技术领域，所述方法流程为：对工业产品图像进行区域划分和编码映射，以得到区域子图像；将区域子图像分别输入目标分类模型进行缺陷分类，以得到缺陷分类结果；基于缺陷分类结果进行边缘坐标检测和边缘坐标校验，以得到最终的缺陷检测结果。本发明采用区域划分的方式进行缺陷分类检测，充分利用了目标分类模型优秀的缺陷分类能力和在小尺寸图像上的速度优势，解决了现有技术对于尺寸较大图像检测速度慢的问题，同时在缺陷分类检测的基础上进行边缘坐标检测和边缘坐标校验，解决了现有技术对于长宽比率较大的工业缺陷目标容易出现漏检和误检的问题。

    一种多模块项目编译的优化方法、系统、设备及存储介质
    8.
    发明公开
    一种多模块项目编译的优化方法、系统、设备及存储介质 审中-实审

    公开(公告)号：CN118069151A

    公开(公告)日：2024-05-24

    申请号：CN202410371691.X

    申请日：2024-03-29

    申请人： 成都数之联科技股份有限公司

    发明人： 请求不公布姓名 ,  请求不公布姓名

    IPC分类号： G06F8/41

    摘要： 本发明提供一种多模块项目编译的优化方法、系统、设备及存储介质，涉及多模块项目编译优化领域，所述方法流程为：获取项目相关的字节输入流，并且对字节输入流进行读取；对于每一行字节输入流：如果字节输入流为模块行，则获取字节输入流对应的模块信息，以构建模块集合；如果字节输入流为依赖关系行，则获取字节输入流对应的依赖关系信息，以构建依赖关系集合；基于模块集合和依赖关系集合构建模块依赖关系图，基于模块依赖关系图对多模块项目进行编译优化。本发明通过对项目相关的模块信息以及依赖关系信息进行图形化设置，生成一个直观的模块依赖关系图，通过模块依赖关系图能够对多模块项目编译进行纠正或者补全，实现多模块编译优化。

    一种目标检测及模型训练方法、装置、设备、介质
    9.
    发明授权
    一种目标检测及模型训练方法、装置、设备、介质 有权 许可

    公开(公告)号：CN117710756B

    公开(公告)日：2024-04-26

    申请号：CN202410154752.7

    申请日：2024-02-04

    申请人： 成都数之联科技股份有限公司

    发明人： 请求不公布姓名 ,  请求不公布姓名 ,  请求不公布姓名

    IPC分类号： G06V10/764 ,  G06V10/82 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/08

    摘要： 本申请提供一种目标检测及模型训练方法、装置、设备、介质，涉及图像处理技术领域，用于解决目标检测的准确性较差的问题。该方法包括：获取待检测图像；将待检测图像输入训练后的目标检测模型，获得待检测图像的目标检测结果；训练后的目标检测模型根据筛选后的候选框与对应的真实标注框之间的误差，调整初始目标检测模型的参数后获得，筛选后的候选框根据第一动态阈值对多个候选框筛选获得，多个候选框是基于将带标签的样本图像输入初始目标检测模型并输出的检测结果中获得，第一动态阈值根据检测结果与对应的标签确定，标签包括真实标注框。该方法将第一动态阈值融入初始目标检测模型的训练过程，提高目标检测的准确性。