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公开(公告)号：CN209570528U
公开(公告)日：2019-11-01
申请号：CN201822128961.7
申请日：2018-12-18
申请人： 株式会社理学
发明人： 井上稔
IPC分类号： G01N23/223
摘要： 本实用新型提供一种无需在试料架与用于荧光X射线分析装置的夹具之间转移试料的用于荧光X射线分析装置的夹具。用于荧光X射线分析装置的夹具，为与荧光X射线分析装置共用在中央处具有供试料配置的凹部或者孔的X射线衍射装置的试料架的夹具，具备：基座部件，其具有与所述试料架的下表面抵接的第一上表面、和以在与所述第一上表面之间具有高低差的方式而形成的第二上表面；以及环，其具有所述试料架的外侧侧面以及设置有所述高低差的区域的外侧侧面与内侧侧面抵接的圆筒部、和被设置在所述圆筒部的下端部并与所述第二上表面抵接的法兰，并且在与所述试料架以及所述基座部件之间夹入对所述试料的表面进行覆盖的薄膜。
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公开(公告)号：CN221899091U
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202420132578.1
申请日：2024-01-19
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/2204 , G01N23/223
摘要： 本实用新型提供一种样品支架，其使样品的更换作业简便，并且不会在X射线荧光分析装置的内部散开。一种X射线荧光分析用的样品支架，具有：筒状体，其具有设置在上端面一部分上的孔，并且下端开口；接盘，其配置在所述筒状体的内侧，用于载置样品；弹性体，其向上方对所述接盘施力；以及支撑部件，其由树脂形成，具有在端部设有爪部且通过按压向内侧弹性变形的弓部，并且与所述弹性体的下端接触，其中，所述筒状体形成有用于所述爪部嵌合的嵌合部和所述弓部的一部分向外侧露出的露出部。
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公开(公告)号：CN113631913B
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202080024801.5
申请日：2020-01-08
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/20016 , G01N23/20025 , G01N23/201
摘要： 本发明的透射式小角度散射装置配备有包括旋转臂(11)的测角器(10)。旋转臂(11)在以铅垂方向的配置状态作为原点，围绕从该原点沿水平方向延伸的θ轴自由转动。并且，将X射线照射单元(20)搭载于旋转臂(1)的下侧端部，并且，将二维X射线检测器搭载于旋转臂(11)的上侧端部。
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公开(公告)号：CN114166879B
公开(公告)日：2023-09-26
申请号：CN202110952996.6
申请日：2021-08-19
申请人： 株式会社理学
发明人： 井上稔
IPC分类号： G01N23/223
摘要： 本发明提供一种制作荧光X射线分析装置用玻璃珠的方法。在本发明中，使用硼酸锂系助熔剂来制作经时劣化小的玻璃珠。在该制作荧光X射线分析装置用玻璃珠的方法中，将测定对象的材料与碱土类金属的氧化物一起熔解于硼酸锂系助熔剂来制作玻璃珠。
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公开(公告)号：CN116698892A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202310190251.X
申请日：2023-03-02
申请人： 株式会社理学
发明人： 虎谷秀穗
IPC分类号： G01N23/207 , G06T7/00
摘要： 提供一种混合物的衍射图案分析装置，即使在仅一部分成分的衍射图案是已知的情况下，也能够算出这些成分的衍射图案的强度比。混合物的衍射图案分析装置使用包含与表示目标成分并且能根据形状参数进行形状变更的已知的目标图案相关的项、以及与表示剩余组的未知图案相关的项的拟合图案。在对所述形状参数赋予给定的值并且将所述未知图案设定为初始图案的状态下，使所述拟合图案与所述观测图案拟合。之后，通过变更所述未知图案，来使所述拟合图案与所述观测图案拟合。使用多个所述形状参数执行上述拟合，选择与任意一个形状参数相关的计算结果。
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公开(公告)号：CN109891589B
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN201780066527.6
申请日：2017-07-05
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： H01L27/146 , G01T7/00 , H01L27/144 , H04N5/30 , H04N23/30 , H04N25/30
摘要： 本发明提供一种检测器，能够通过计数电路的设计在相邻的读出芯片的边缘附近确保像素配置的空间。检测器是检测放射线的二维混合像素阵列型的检测器，具备：检测部，通过各像素(115)对入射到区域内的放射线进行检测；以及多个读出芯片(120)，包含与每个像素(115)连接的计数电路(121)，沿着检测面上的固定方向，计数电路(121)的设定间距比像素(115)的设定间距小，像素和与像素对应的计数电路彼此所占据的区域至少部分地重叠，在重叠的区域内进行连接。
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公开(公告)号：CN110726742B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN201910510399.0
申请日：2019-06-13
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/20008 , G01T1/36 , G01N23/20
摘要： 本发明提供一种X射线分析装置及其光轴的调整方法，能够每当进行使用分析器的测量时不进行光轴调整，缩短测量时间、降低测量成本。X射线分析装置包括：样品台，用于支持样品；N维检测器(N是整数1或2)；以及分析器，包括1或多个分析器晶体，所述N维检测器的检测面具有第一检测区域和与所述第一检测区域分离配置并且与所述第一检测区域区分检测的第二检测区域，所述样品产生的衍射X射线所行进的多条光路包括直接到达所述第一检测区域的第一光路和经由所述1或多个分析器晶体而到达的第二光路，所述N维检测器根据所述第一检测区域的X射线检测进行所述第一光路的测量，根据所述第二检测区域的X射线检测进行所述第二光路的测量。
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公开(公告)号：CN115880386A
公开(公告)日：2023-03-31
申请号：CN202211203256.3
申请日：2022-09-29
申请人： 株式会社理学
发明人： 太田卓见
摘要： 提供能够降低用于对CT图像的重构中的由运动引起的伪像进行校正的成本的校正装置、校正系统、校正方法以及记录介质。一种校正装置，对CT图像测定中的由运动引起的伪像进行校正，具备：投影像取得部，其取得360°扫描的投影像；运动量算出部，其设定包含参数的运动模型，使用所述参数算出运动量；相对运动量算出部，其从所述投影像的某个投影数据及其对向数据算出所述投影数据的相对运动量；固定点方程式创建部，其创建包含所述运动量和所述相对运动量的固定点方程式；运动推定部，其通过自洽地求解所述固定点方程式来决定所述运动模型的所述参数；以及校正部，其使用所述运动量对所述投影像进行校正。
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公开(公告)号：CN109425626B
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN201810996814.3
申请日：2018-08-29
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/207
摘要： 目的是能够在视觉上明确且准确地识别德拜环的周向上的X射线信息与2θ角度位置的对应关系。本发明提供一种X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，X射线衍射测量是向试样照射X射线并用X射线检测器检测由该试样衍射的X射线的测量，基于X射线检测器的输出数据，在坐标内，显示2θ－I分布图，从而形成一维衍射分布图，坐标在正交坐标轴的一个取2θ角度值，在正交坐标轴的另一个取X射线强度值；基于X射线检测器的输出数据，将由试样衍射的X射线在各2θ角度形成的多个德拜环的周向上的X射线强度数据在各2θ角度值以直线状显示，从而形成二维衍射图案；二维衍射图案和一维衍射分布图以两者的2θ角度值相互一致的方式排列显示。
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公开(公告)号：CN109416330B
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN201780042408.7
申请日：2017-07-14
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/2251 , G01N23/201
摘要： 该混合检查系统是包括第一检查设备(1)和第二检查设备(2)的检查系统，其中第一检查设备(1)基于通过用X射线照射样本(11)获得的X射线测量数据来检查样本(11)，并且第二检查设备(2)通过使用不采用X射线的测量技术来检查样本(11)。由第一检查设备(1)获得的X射线测量数据或X射线测量数据的分析结果被输出到第二检查设备(2)。此外，第二检查设备(2)利用从第一检查设备(1)输入的X射线测量数据或X射线测量数据的分析结果来分析样本(11)的结构。
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