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公开(公告)号：CN221899091U
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202420132578.1
申请日：2024-01-19
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/2204 , G01N23/223
摘要： 本实用新型提供一种样品支架，其使样品的更换作业简便，并且不会在X射线荧光分析装置的内部散开。一种X射线荧光分析用的样品支架，具有：筒状体，其具有设置在上端面一部分上的孔，并且下端开口；接盘，其配置在所述筒状体的内侧，用于载置样品；弹性体，其向上方对所述接盘施力；以及支撑部件，其由树脂形成，具有在端部设有爪部且通过按压向内侧弹性变形的弓部，并且与所述弹性体的下端接触，其中，所述筒状体形成有用于所述爪部嵌合的嵌合部和所述弓部的一部分向外侧露出的露出部。
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公开(公告)号：CN107923859B
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201680049794.8
申请日：2016-08-26
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207
摘要： 本发明的荧光X射线分析装置所具有的定量分析条件设定机构(13)针对多个标准试样(14)进行定性分析，根据其结果，设定在定量分析条件下的分析对象试样(1)的测定线的峰测定角度，并且将经过定性分析的多个标准试样(14)的峰形合成，求出单一的假想外形，根据假想外形和预定的峰形的半值宽度，设定在定量分析条件下的分析对象试样(1)的测定线的背景测定角度。
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公开(公告)号：CN107209132A
公开(公告)日：2017-09-26
申请号：CN201680006771.9
申请日：2016-08-26
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207
CPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207 , G01N23/2076 , G01N23/2209 , G01N2223/076
摘要： 本发明的扫描型的荧光X射线分析装置包括定量分析条件设定机构(13)，该机构根据标准试样(14)的定性分析结果和半定量分析结果，针对预先确定的试样组成元素以外的新检测元素，根据荧光X射线相对分析对象元素的分析值的吸收激励影响度、与干扰线相对分析对象元素的分析线的重叠影响度，判断是否应作为分析对象元素来追加。
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公开(公告)号：CN114207421B
公开(公告)日：2023-09-26
申请号：CN202180004650.1
申请日：2021-03-24
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223
摘要： 本发明提供一种荧光X射线分析装置及荧光X射线分析装置的控制方法，即使在荧光X射线分析装置发生异常的情况下，也能够防止样品的劣化、破损、装置内部污染。荧光X射线分析装置具备：测量部，包括在待机位置和测量位置之间移动样品的移动机构、向样品照射1次X射线的X射线源、检测入射的荧光X射线的强度的检测器和控制移动机构及X射线源动作的第一控制部；以及信息处理部，其具有基于检测器测量出的荧光X射线的强度对样品进行分析的分析部、和与第一控制部进行通信并控制测量部的第二控制部，第一控制部具有退让单元，在第一控制部与第二控制部之间的通信被切断时，对移动机构进行退让控制，以使得在测量位置的样品退让至待机位置。
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公开(公告)号：CN116472452A
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202180072774.3
申请日：2021-09-10
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223
摘要： 本发明的荧光X射线分析装置所具有的排除机构(21)：对于基底层中不含测定元素的成分，针对每条相应的测定线，假定该成分单独构成薄膜来计算其附着量，将最大附着量设定为该成分的附着量的初始值；对于基底层中包含测定元素的成分，针对每条相应的测定线，基于基底层中不包含测定元素的每个成分的附着量的初始值来计算其附着量；在所有对应的测定线的计算结果均有误差的情况下，将该成分作为不能定量的成分从分析对象中排除，在除此以外的情况下，将最大的附着量设定为该成分的附着量的初始值。
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公开(公告)号：CN107076687A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201680003309.3
申请日：2016-07-01
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223
CPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207 , G01N2223/076 , G01N2223/0766
摘要： 测定线评价机构(23)根据针对薄膜而指定的组成和/或厚度，对于已指定的全部的测定线，通过理论计算而计算出推算测定强度，以规定量改变仅仅一个测定线的推算测定强度，针对每个变化的测定线，通过基本参数法，求出推算测定强度变化后的薄膜的组成和/或厚度的定量值，根据该定量值和已指定的组成和/或厚度，进行定量误差的推算和/或分析的可否的判断。
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公开(公告)号：CN102187208A
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN201080002934.9
申请日：2010-07-01
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/203
CPC分类号： G01N23/223 , G01N2223/076 , G01N2223/637
摘要： 本发明涉及一种荧光X射线分析方法，其中：对以碳、氧和氮中的至少一个元素和以氢为主成分的液体试样(3A)照射一次X射线(2)，测定：由液体试样(3A)中的原子序号9～20的各元素产生的荧光X射线(4)的强度、以及在液体试样(3A)中散射的一次X射线的连续X射线的散射线(12)的强度，根据由各元素产生的荧光X射线(4)的测定强度和一次X射线的连续X射线的散射线(12)的测定强度的比，计算液体试样(3A)的元素的浓度，一次X射线的连续X射线的散射线(12)的波长按照下述方式设定，该方式为：其短于由各元素产生的荧光X射线(4)的波长，并且在液体试样(3A)的组成的变化范围内，一次X射线的连续X射线的散射线(12)的测定强度和质量吸收系数成反比。
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公开(公告)号：CN114207421A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202180004650.1
申请日：2021-03-24
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223
摘要： 本发明提供一种荧光X射线分析装置及荧光X射线分析装置的控制方法，即使在荧光X射线分析装置发生异常的情况下，也能够防止样品的劣化、破损、装置内部污染。荧光X射线分析装置具备：测量部，包括在待机位置和测量位置之间移动样品的移动机构、向样品照射1次X射线的X射线源、检测入射的荧光X射线的强度的检测器和控制移动机构及X射线源动作的第一控制部；以及信息处理部，其具有基于检测器测量出的荧光X射线的强度对样品进行分析的分析部、和与第一控制部进行通信并控制测量部的第二控制部，第一控制部具有退让单元，在第一控制部与第二控制部之间的通信被切断时，对移动机构进行退让控制，以使得在测量位置的样品退让至待机位置。
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公开(公告)号：CN112534248A
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN201980052429.6
申请日：2019-06-06
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/2209
摘要： 本发明的荧光X射线分析装置根据多路波高分析器(13)所输出的微分曲线、与针对作为一次射线的分析射线的规定的分析波高宽度和狭于该分析波高宽度的规定的狭小波高宽度，同时地获得作为二次X射线(7)的强度相对于联动机构(10)的扫描角度(20)的分布的分析波高宽度曲线和狭小波高宽度曲线。接着，针对分析波高宽度曲线以及狭小波高宽度曲线，进行分析射线的鉴定，在于分析波高宽度曲线中鉴定的分析射线中追加仅在狭小波高宽度曲线中鉴定的分析射线，形成分析射线的鉴定结果。
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公开(公告)号：CN107923859A
公开(公告)日：2018-04-17
申请号：CN201680049794.8
申请日：2016-08-26
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207
CPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207 , G01N23/2076 , G01N23/2209 , G01N2223/076
摘要： 本发明的荧光X射线分析装置所具有的定量分析条件设定机构(13)针对多个标准试样(14)进行定性分析，根据其结果，设定在定量分析条件下的分析对象试样(1)的测定线的峰测定角度，并且将经过定性分析的多个标准试样(14)的峰形合成，求出单一的假想外形，根据假想外形和预定的峰形的半值宽度，设定在定量分析条件下的分析对象试样(1)的测定线的背景测定角度。
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