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公开(公告)号：CN118896971A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202411138153.2
申请日：2024-08-19
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 深圳精测光电有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号： G01N21/958 , G01N21/01
摘要： 本申请涉及一种玻璃均匀性检测系统及检测方法，玻璃均匀性检测系统包括：支撑座，支撑座具有玻璃承载面，且于玻璃承载面设有贯穿玻璃承载面的通光孔；光源和相机，光源与相机分布于玻璃承载面的相对两侧，且光源、相机与通光孔共轴线，光源发出的光穿过通光孔照射至相机。本申请通过设置光源和相机，光源可以在玻璃承载面上待测玻璃的一侧发出光线，光线穿过通光孔和待测玻璃在相机中接收成像，相机拍摄待测玻璃获得的图像能够直接反应待测玻璃的均匀性，无需使用到昂贵的设备或者复杂的算法，能够大大降低成本，提高检测效率，解决了相关技术中需要昂贵的设备或臃肿的光学系统配合复杂的算法对封装玻璃进行检测和筛选，成本较高的技术问题。
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公开(公告)号：CN118731430A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202411035074.9
申请日：2024-07-31
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 深圳精测光电有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种可垂直升降的压接机构，属于显示面板测试领域。所述压接机构包括载板和压接件；载板上具有用于容置机台上转接探针模组的第一通孔；压接件包括模芯安装板、PCB板和导通探针模组，模芯安装板上具有第二通孔，PCB板位于模芯安装板上方，PCB板上具有多个转接测试点，多个转接测试点、第二通孔和第一通孔在第一方向上依次相对布置，导通探针模组插装在模芯安装板上，且导通探针模组的一导通部与PCB板导通，导通探针模组的另一导通部用于与显示面板的连接器压接导通，模芯安装板和载板之间夹设有弹性件。本发明实施例提供的一种可垂直升降的压接机构，不仅可以极大地降低了测试成本，同时降低了信号转接过程中的传递损耗。
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公开(公告)号：CN118527970A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410380322.7
申请日：2024-03-30
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 深圳精测光电有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种自动开扣的装配上料结构及测试设备，属于显示面板测试领域。所述装配上料结构包括活动板和开扣组件；开扣组件包括驱动件和至少一个驱动模块，驱动件位于活动板上，驱动模块包括支撑块、活动杆、推块和弹性件，驱动件的输出轴与支撑块传动连接，以驱动支撑块沿第一方向移动，活动杆沿第二方向可活动地插装在支撑块中，且贯穿支撑块，活动杆的一端具有与支撑块相抵的限位凸起，活动杆的另一端与推块连接，弹性件套设在活动杆上，且弹性件的两端分别与支撑块和推块相抵。本发明实施例提供的一种自动开扣的装配上料结构，可以使得驱动模块中的推块与压设端便捷紧贴，降低了位移模块的精度要求。
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公开(公告)号：CN117241006A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202311163505.5
申请日：2023-09-08
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 深圳精测光电有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明提供一种相机亮度校正方法、装置、设备及可读存储介质，其包括：获取标准相机和待测相机分别在标准条件下拍得的标准图像和待校正图像；根据设定校正精度，得到标准图像和待校正图像对应的单元比对区域；根据标准图像和待校正图像在各相对应的单元比对区域的平均灰阶，得到待测相机拍摄图像时在各单元比对区域的亮度校正系数；根据各区域的亮度校正系数校正所述待测相机。通过根据在标准条件下拍摄获得的标准图像对待测相机在相同条件下得到的待校正图像进行比对和计算，得到对构成完整图像的各单元比对区域的进行亮度校正的亮度校正系数，实现待测相机可借助亮度校正系数对拍摄所得的图像进行处理，进而得到与标准相机一致性更好的图像。
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公开(公告)号：CN118893049A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202411145561.0
申请日：2024-08-20
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 深圳精测光电有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本申请涉及一种吹扫吸附清洁机构，包括：吹扫吸附机构，该吹扫吸附机构包括底部设有吸尘口的吹扫吸尘罩，吹扫吸尘罩内部设有吹风口朝向吸尘口的风刀，风刀的一端设有压缩气体进气口，风刀另一端设有连通吹扫吸尘罩内腔的灰尘吸附口；高度调节结构，该高度调节结构包括安装板，安装板上连接有用于固定吹扫吸附机构的高度调节板，安装板上设有调节高度调节板沿竖直方向上下运动的竖向调节机构。本申请的吹扫吸附清洁机构利用吹扫吸附机构和高度调节结构相互配合对进行清洁作业。该吹扫吸附机构无需停机清洁，可重复长期使用，且防止灰尘四处飘散，提高了生产车间的洁净等级。
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公开(公告)号：CN118858771A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202411327868.2
申请日：2024-09-24
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 深圳精测光电有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种接触电阻的批量测量方法及装置，属于电子检测技术领域。本申请将所有接触电阻的一端连接包括一个电源端口和一个电压测量端口的测量端口对，多个接触电阻作为一个接触电阻大组，短接同一接触电阻大组内各接触电阻的另一端，根据接触电阻大组中待测接触电阻的连接位置，控制选定的电源端口之间施加电流或电压，控制选定的电压测量端口之间测量电压，由此基于四线法计算得到待测接触电阻的阻值；采用本申请技术方案且无需飞线，也无需切换单元即可实现大量接触电阻的测量。
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公开(公告)号：CN118736993A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202411208924.0
申请日：2024-08-30
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 深圳精测光电有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本申请属于缺陷检测技术领域，具体公开了一种显示面板缺陷检测设备及缺陷检测方法，该显示面板缺陷检测设备，包括：信号发生器、电源模块和透明导电膜，透明导电膜覆盖在显示面板的屏幕上，电源模块与透明导电膜电连接；电源模块用于向透明导电膜供电；信号发生器用于生成图像信号并输出图像信号至显示面板，以点亮显示面板的屏幕。本申请，通过信号发生器点亮显示面板，电源模块提供高电压至透明导电膜，进而透明导电膜带有静电荷，在显示面板的屏幕周围形成静电场，静电场作为静电干扰施加在显示面板上，进而通过观测显示面板的屏幕的亮度变化，能够判断显示面板是否存在Mura缺陷，实现检测显示面板在静电场中Mura缺陷。
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公开(公告)号：CN118515084A
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202410762168.X
申请日：2024-06-13
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 深圳精测光电有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本申请涉及一种微小显示模组的搬运机构，包括：显示模组夹取机构，其包括用于对显示模组的背面进行吸附的卡爪组件，以及位于卡爪组件的一侧用于对显示模组的柔性电路板进行吸附的吸附组件；显示模组移送机构，其通过Z向浮动组件连接卡爪组件和吸附组件并驱动卡爪组件和吸附组件分别沿X轴、Y轴和Z轴方向直线运动。本申请利用显示模组移送机构驱动显示模组夹取机构运动，将显示模组由供料工位搬运至检测工位。显示模组夹取机构的卡爪组件对显示模组的背面进行吸附夹紧，显示模组夹取机构的吸附组件对显示模组的柔性电路板进行吸附拾取。解决了常规机械手难以对微小LED模组夹取的问题，提高了产品移栽的效率。
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公开(公告)号：CN118219309A
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202410373421.2
申请日：2024-03-29
申请人： 深圳精测光电有限公司
摘要： 本发明涉及一种用于显示面板的间隔纸及空箱搬运机械手和搬运方法，其包括基架，所述基架上设置有多个相互平行布置的安装架，每个安装架沿第一轴向延伸布置，所述基架上设置有用于驱动相邻两个安装架沿第二轴向靠近或远离的驱动单元，每个安装架上设置有至少一个可沿第一轴向滑动锁止的间隔纸吸盘组件和一个可沿第一轴向滑动锁止的抓取组件，每个间隔纸吸盘组件沿第三轴延伸布置，每个抓取组件沿第二轴延伸布置。本发明有效地降低机械手的制造成本。
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公开(公告)号：CN118047199A
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202410380318.0
申请日：2024-03-30
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 深圳精测光电有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种装配上料装置及方法，属于显示面板测试领域。所述装配上料装置包括底座、开扣组件、关扣组件和位移组件；底座用于支撑载板；开扣组件包括第一驱动件和至少一个驱动模块，第一驱动件用于驱动驱动模块沿第一方向移动，以使得驱动模块推动载板上卡扣翻转打开；关扣组件包括第二驱动件和至少一个连杆，连杆的中部铰接在底座上，第二驱动件用于驱动连杆的一端转动，连杆的另一端用于驱动卡扣翻转关闭，以压设载板上的显示模组；位移组件用于驱动第一驱动件沿第二方向和第三方向移动。本发明实施例提供的一种装配上料装置，可以通过开扣组件和关扣组件分别自动实现卡扣的打开和关闭，提高了装配效率。
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