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公开(公告)号：CN116817759B
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202310658070.5
申请日：2023-06-06
申请人： 苏州英示测量科技有限公司
摘要： 本发明实施例公开了一种光栅尺及其测量方法、系统，其中该方法包括：获取光栅尺输出的原始波形、光栅尺读数头的当前温度参数和/或当前振动参数；根据当前温度参数及温度补偿系数得到温度补偿数据；和/或，根据当前振动参数及振动补偿系数得到振动补偿数据；根据温度补偿数据和/或振动补偿数据对原始波形进行误差补偿，得到补偿后的补偿波形；计算补偿波形与根据历史数据进行拟合得到的预测输出波形之间的波形参数差，当波形参数差大于对应的预设阈值时，调整温度补偿系数或振动补偿系数，根据调整后的温度补偿系数或振动补偿系数重新进行补偿后，输出重新补偿的波形。提高了测量
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公开(公告)号：CN116400491B
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN202310672701.9
申请日：2023-06-08
申请人： 苏州英示测量科技有限公司
IPC分类号： G02B23/24
摘要： 本发明公开一种工业内窥镜及缺陷取像方法。其中，该内窥镜包括镜头线，其头端连接有可弯折的软管，软管的头端设有摄像头；镜头线的尾端连接有手柄，手柄上设有显示屏，还设有控制器，用于控制软管的前进、后退、弯折转向；显示屏位于控制器的顶部；调节组件，套设于镜头线上，包括第一套件和第二套件；爬行组件，包括粗调爬行组件和微调爬行组件；粗调爬行组件包括第一运动杆、第二运动杆；第一运动杆与第一套件铰接；第二运动杆两端分别与第一运动杆的中部和第二套件铰接；第一运动杆的活动端设有第一滚轮以及驱动该第一滚轮转动的第一驱动机构。该工业内窥镜结构简单，体积小，可进入狭小腔道内探测，且能精准的确定腔道内缺陷位置进行拍摄。
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公开(公告)号：CN114593693A
公开(公告)日：2022-06-07
申请号：CN202210185461.5
申请日：2022-02-16
申请人： 苏州英示测量科技有限公司
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 本发明公开了一种光学偏折检测方法，包括步骤如下：搭建一光学偏折检测系统模型；设置参考面，对参考面进行光线追迹得到其在第一成像平面上的第一光斑点分布；设置系统结构误差，和一自由曲面作为被测面；对被测面进行光线追迹得到其在第二成像平面上的第二光斑点分布；根据第一光斑点分布和第二光斑点分布计算得到光斑点分布偏差；根据光斑点分布偏差计算得到被测面的表面斜率；搭建神经网络模型，通过将被测元件的表面斜率输入至神经网络模型，得到被测元件的面形。本发明能在精确重构面形的同时消除了系统结构误差的影响，为面形检测提供了一种高效率、高精度、高稳定性的方法。本发明还提供了使用上述方法的电子设备及光学偏折检测系统。
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公开(公告)号：CN114187362B
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202210135992.3
申请日：2022-02-15
申请人： 苏州英示测量科技有限公司
摘要： 本申请公开了一种点衍射干涉三维定位方法，包括步骤如下：搭建神经网络模型；采集被测目标的干涉图像；根据干涉图像重构出被测目标所在位置的相位差矩阵；将相位差矩阵输入进神经网络模型中进行计算处理，得到被测目标的空间三维坐标。该方法解决了由测量设备的误差导致测量准确率低、测量精度不够高、测量效率低下等问题，且具有很好的通用性。本申请还公开了能够实现上述方法的电子设备及点衍射干涉装置，能够实现高精度、高效率的三维定位。
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公开(公告)号：CN109443149A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811524642.6
申请日：2018-12-13
申请人： 苏州英仕精密机械有限公司
IPC分类号： G01B5/02
CPC分类号： G01B5/02
摘要： 本发明公开了一种用于测量槽宽的装置，包括支座、测量机构、测量表、拨动机构以及弹性机构，所述支座包括支架和设置在所述支架上的基座，所述弹性机构的一端固定连接于所述基座的一侧，所述弹性机构的另一端与所述拨动机构固定连接，所述测量机构贯穿所述基座，所述测量机构的一部分设置于所述基座的一侧且与所述拨动机构连接，所述测量机构的另一部分设置于所述基座的另一侧，所述测量表固定于所述支座上，且所述测量表的测头与所述拨动机构一直保持接触。本发明所述的用于测量槽宽的装置，可以适用于过小过轻的工件的凹槽的测量，操作十分简便，测量结果可以直接通过测量表读数可得，无需进一步计算。
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公开(公告)号：CN116817700B
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202311078762.9
申请日：2023-08-25
申请人： 苏州英示测量科技有限公司
IPC分类号： G01B3/20 , G06F18/214 , G06N3/0499 , G06N3/084
摘要： 本发明公开了一种卡尺质量检测方法及系统，涉及卡尺检测领域，其中，所述方法包括：对第一卡尺上的数显模块进行传感识别，确定预设传感速率；基于所述第一卡尺的量测精度，生成质量检测样本数据组，质量检测样本数据组包括第一样本数据组和第二样本数据组，以第一样本数据组和第二样本数据组输入质量检测装置对第一卡尺进行测试，输出第一测试数据集，以及第二测试数据集；将第一测试数据集和第二测试数据集传输至质量检测通道中，输出第一传感质量和第一响应质量，生成第一质量检测报告。解决了现有技术中针对卡尺的质量检测精准度低的技术问题。达到了提高卡尺的质量检测精准度，提升卡尺的质量检测效果的技术效果。
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公开(公告)号：CN116772701A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202311073073.9
申请日：2023-08-24
申请人： 苏州英示测量科技有限公司
IPC分类号： G01B7/02 , G06F16/23 , G06F16/27 , G06F16/583 , G06F16/587
摘要： 本发明提供了一种容栅传感器数据采集方法及系统，涉及数据采集技术领域，方法包括：采集获得容栅传感器的基础信息，构建环境特征集合读取待测件的位移波动范围进行环境控制数据库的数据库初始化，并将环境特征集合和基础信息同步至初始化完成的环境控制数据库，得到环境控制寻优结果进行待测环境进行环境控制，根据进行标准位移距离测量生成第一测量数据、进行位移距离测量生成第二测量数据和标准位移距离进行距离转换，生成数据采集结果，本发明解决了现有技术中缺乏对容栅传感器进行数据采集时的管控，导致数据采集效率低的技术问题，实现了对容栅传感器进行数据采集时进行合理化精准管控，进而提高数据采集效率。
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公开(公告)号：CN114964054B
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202210893739.4
申请日：2022-07-27
申请人： 苏州英示测量科技有限公司(CN)
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 本发明公开了一种面形检测系统及方法。激光器出射的光经过偏振光栅被分为左旋圆偏振光和右旋圆偏振光后经反射镜反射进入光纤耦合器，再耦合至亚波长孔径单模光纤产生点衍射球面波前，点衍射球面波前经测量探头内准直镜组产生平面波W1和W2，平面波W1和W2产生的干涉条纹投射至被测物体表面并随被测物体表面产生形变，由偏振相机实时拍摄被测物体表面的干涉条纹，获取四幅相位差为π/2的瞬态移相干涉图，采用四步移相算法实现被测物体表面面形测量。通过本发明提供了一种测量速度快、高精度、可大动态范围测量复合表面面形的瞬态移相装置。
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公开(公告)号：CN114543749B
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210262816.6
申请日：2022-03-17
申请人： 苏州英示测量科技有限公司
摘要： 本发明涉及一种测量多目标景深的光学系统，包括扭曲光栅和变焦镜头，扭曲光栅具有扭曲的光栅条纹，该扭曲光栅的扭曲偏移量被配置为对不同景深的至少两个目标物体以不同的光栅级次聚焦在同一像平面上；变焦镜头设置在扭曲光栅的成像光路上，变焦镜头具有可调节的焦距；光学系统的整体焦距受变焦镜头焦距的变化而变化，使得位于不同景深的至少两个目标物体通过光学系统后被同时焦距在同一像平面上。本发明提出的测量多目标景深的光学系统及方法采用扭曲光栅与变焦镜头构成基本机器视觉传感装置，利用单个机器视觉传感装置即可实现视场范围内多个目标物体的一次成像，得到多个目标物体的景深信息，具有结构简单、使用便携以及信息获取快速的优点。
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公开(公告)号：CN114577111A
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202210263969.2
申请日：2022-03-17
申请人： 苏州英示测量科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种面形检测系统，包括光耦合单元、米勒偏振干涉单元和检测计算单元，光耦合单元包括合束组件和扩束系统，米勒偏振干涉单元包括显微物镜、偏振分光板和参考反射镜，检测计算单元包括四分之一波片、彩色偏振相机和计算模块。本发明通过将RGB三色光耦合进入米勒偏振干涉物镜，并采用彩色偏振相机完成RGB三个波长通道的分离和提取，同时利用彩色偏振相机中四个相邻的微偏振片阵列对各个波长通道的干涉图实现步长为π/2的四步移相，不仅能实现多波长移相干涉测量，增大动态测量范围，且通过单次采图即可计算得到RGB三个波长通道的四幅瞬态移相干涉图，具有很强的抗干扰能力，具有高精度、快速测量、低成本的优点。
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