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公开(公告)号：CN102575960A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201080042130.1
申请日：2010-09-21
申请人： 沃罗泰克有限公司
发明人： S·沃罗维特切克
IPC分类号： G01J4/00
CPC分类号： G01J4/04 , G01C17/34 , G01C21/02 , G01J2004/005
摘要： 一种装置，该装置包括：偏振光滤光器单元阵列，各个单元包括具有第一偏振方向的第一偏振滤光器和具有第二偏振方向的第二偏振滤光器，所述第二偏振方向不同于所述第一偏振方向；光学系统，其将光引导到偏振光滤光器阵列上；以及第一光传感器和第二光传感器，其分别从通过所述第一偏振滤光器和所述第二偏振滤光器接收到的光产生数据。另外，一种方法，该方法将光引导到偏振光滤光器单元阵列上，各个单元包括具有第一偏振方向的第一偏振滤光器和具有不同于所述第一偏振方向的第二偏振方向的第二偏振滤光器；由第一光传感器和第二光传感器分别从通过所述第一偏振滤光器和所述第二偏振滤光器接收到的光产生数据；以及基于所述数据得到偏振图案。
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公开(公告)号：CN106456070A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201580027058.8
申请日：2015-06-17
申请人： 索尼公司
发明人： 小泽谦
IPC分类号： A61B5/1455 , G01J3/02 , G01J4/04 , G01J3/453 , G01J3/28
CPC分类号： G01J1/42 , A61B5/0075 , A61B5/14532 , A61B5/14546 , A61B5/14551 , A61B5/14552 , A61B5/14558 , A61B5/681 , G01J1/0411 , G01J1/0429 , G01J1/0488 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0224 , G01J3/027 , G01J3/2823 , G01J3/4531 , G01J4/04 , G01J2004/005 , G01N21/314 , G01N21/359 , G01N2021/3595 , A61B5/1455
摘要： 本发明提供了一种成像装置和成像方法。将来自被摄体的光作为多个光束集提供至具有多个元件的相位差阵列。所述相位差阵列被配置成针对多个光束集中的至少一些光束集内所包括的光提供不同的光路。在成像元件阵列处接收来自所述相位差阵列的光。所述成像元件阵列包括多个成像元件。可以显示基于所述成像元件阵列的输出信号根据高光谱成像数据所获得的信息。
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公开(公告)号：CN102706539B
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201210199435.4
申请日：2012-06-15
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC分类号： G01M11/02
CPC分类号： G01N21/21 , G01J9/00 , G01J2004/005 , G01M11/02 , G01N21/23 , G01N2021/216
摘要： 一种用于双折射器件的相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置和方法，该装置由准直光源、圆起偏器、衍射分束元件、四分之一波片、检偏器阵列、CCD图像传感器和具有图像采集卡的计算机组成，本发明可以实时测量双折射器件的相位延迟量分布和快轴方位角分布，测量结果不受光源光强波动的影响，而且具有较大的测量范围。
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公开(公告)号：CN108088564A
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201711350438.2
申请日：2017-12-15
申请人： 哈尔滨工业大学
CPC分类号： G01J4/04 , G01J4/00 , G01J2004/005 , G01N21/21
摘要： 本发明提出一种快照式光场-偏振成像仪及成像方法，其结构为：沿光线方向依次设置的物镜、视场光阑、准直镜、微透镜阵列一、波片阵列、偏振片阵列、微透镜阵列二以及光电探测器及信号处理部件；目标物的光线经过物镜汇聚到视场光阑上，经过准直镜准直达到微透镜阵列一；再经过波片阵列和偏振片阵列并在微透镜阵列一的后焦面上生成一系列子图像；所述子图像经过微透镜阵列二成像到光电探测器及信号处理部件上。在成像方法上，在不同波长的子区域内分别做目标物的图像以及深度重建，并计算其偏振；本发明可以在探测器一次积分时间内获取目标物的图像、偏振以及深度四维信息；同时，通过平均所有波段的目标物深度，可以大幅提高目标物深度的精度。
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公开(公告)号：CN107356337A
公开(公告)日：2017-11-17
申请号：CN201710572125.5
申请日：2017-07-13
申请人： 西安交通大学
发明人： 穆廷魁
CPC分类号： G01J4/00 , G01J2004/005 , G01N21/17 , G01N21/23 , G01N2021/1772 , G01N2021/178 , G01N2021/1789 , G01N2021/1793
摘要： 本发明公开一种紧凑微型快照式通道调制全偏振成像探测装置及探测方法，包括沿入射光向依次设置的物镜、全偏振调制模块和面阵探测器；全偏振调制模块包括沿入射光向依次设置的第一双折射棱镜、第一半波片、第二双折射棱镜、第二半波片、第三双折射棱镜、第三半波片、第四双折射棱镜和线偏振片，它们均互相紧贴放置；线偏振片紧贴面阵探测器的感光面放置；面阵探测器的感光面垂直于探测装置光轴并置于物镜的像面位置。本发明采用了组合棱镜分光的全偏振调制模块，快照一帧图像便可得到被测二维目标在某一时刻的经通道调制的干涉强度信息，利用傅里叶解调算法进行处理便可得到全部Stokes偏振参数对应的二维空间偏振图。
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公开(公告)号：CN105705935A
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201480060875.9
申请日：2014-10-27
申请人： 康宁股份有限公司
CPC分类号： G01J4/02 , G01J2004/005 , G01N21/23 , G01N21/43 , G01N2021/4126 , G01N2021/434 , G02B5/04 , G02B5/06 , G02B6/34
摘要： 揭示了用于测量具有陡峭折射率区域的离子交换玻璃基材的模谱的设备和方法。在耦合棱镜和玻璃基材之间提供界面化流体。对界面化流体厚度进行选择从而使得随着流体厚度的模式双折射的变化降低至可接受水平。耦合棱镜可以在耦合表面上包含棱镜涂层，从而基材-棱镜界面包括棱镜涂层。耦合棱镜还可包括远离化元件，其作用是限定界面化流体的厚度。
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公开(公告)号：CN102575960B
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201080042130.1
申请日：2010-09-21
申请人： 沃罗泰克有限公司
发明人： S·沃罗维特切克
IPC分类号： G01J4/00
CPC分类号： G01J4/04 , G01C17/34 , G01C21/02 , G01J2004/005
摘要： 一种装置，该装置包括：偏振光滤光器单元阵列，各个单元包括具有第一偏振方向的第一偏振滤光器和具有第二偏振方向的第二偏振滤光器，所述第二偏振方向不同于所述第一偏振方向；光学系统，其将光引导到偏振光滤光器阵列上；以及第一光传感器和第二光传感器，其分别从通过所述第一偏振滤光器和所述第二偏振滤光器接收到的光产生数据。另外，一种方法，该方法将光引导到偏振光滤光器单元阵列上，各个单元包括具有第一偏振方向的第一偏振滤光器和具有不同于所述第一偏振方向的第二偏振方向的第二偏振滤光器；由第一光传感器和第二光传感器分别从通过所述第一偏振滤光器和所述第二偏振滤光器接收到的光产生数据；以及基于所述数据得到偏振图案。
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公开(公告)号：CN102706539A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201210199435.4
申请日：2012-06-15
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC分类号： G01M11/02
CPC分类号： G01N21/21 , G01J9/00 , G01J2004/005 , G01M11/02 , G01N21/23 , G01N2021/216
摘要： 一种用于双折射器件的相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置和方法，该装置由准直光源、圆起偏器、衍射分束元件、四分之一波片、检偏器阵列、CCD图像传感器和具有图像采集卡的计算机组成，本发明可以实时测量双折射器件的相位延迟量分布和快轴方位角分布，测量结果不受光源光强波动的影响，而且具有较大的测量范围。
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