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公开(公告)号：CN107966211A
公开(公告)日：2018-04-27
申请号：CN201710979474.9
申请日：2017-10-19
申请人： 迈来芯科技有限公司
发明人： L·拜登斯
CPC分类号： G01J5/0875 , G01J5/0003 , G01J5/0096 , G01J5/0265 , G01J5/027 , G01J5/045 , G01J5/0887 , G01J2005/068 , G01K1/18 , G01J5/10
摘要： 本申请提供了用于测量环境空气温度的红外传感器。描述了用于测量电子设备的环境(51)的环境温度(T空气)的电子设备(1)。电子设备(1)包括至少一个集成红外传感器(2)和盲窗口(20)，该盲窗口(20)阻止红外辐射直接地照射在集成红外传感器上，并且与环境以及与设备的外壳(50)热接触，从而导致盲窗口(20)处于表面温度(T表面)。至少一个集成红外传感器适用于感测盲窗口的温度(T表面)。设备还包括：用于测量至少一个红外传感器的温度(T传感器)本身的至少一个绝对温度传感器，以及用于确定感测的表面温度(T表面)与红外传感器的温度(T传感器)之间的温度差(ΔT)并且用于基于此计算环境温度(T空气)的处理装置。
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公开(公告)号：CN102313608A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201110127938.6
申请日：2011-05-17
申请人： 贺利氏电子耐特国际股份公司
IPC分类号： G01K1/12
CPC分类号： G01J5/041 , G01J5/004 , G01J5/046 , G01J5/048 , G01J5/08 , G01J5/0821 , G01J5/0887
摘要： 本发明涉及一种传感器装置，其用于以温度传感器对熔体、特别是熔点在600℃以上的金属或冰晶石熔体进行温度测量；以及涉及一种用于以该传感器装置进行测量的方法。
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公开(公告)号：CN108007579A
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201711178565.9
申请日：2017-11-23
申请人： 北京环境特性研究所
发明人： 郭聚光
CPC分类号： G01J5/0887 , G01J1/00
摘要： 本发明公开了一种超高温材料光谱发射率测量系统及其使用方法，测量系统包括红外光谱辐射测量设备、计算机控制系统、黑体辐射源、温度控制系统和辅助光路系统；温度控制系统上设置样品槽和黑体腔孔，将样品槽内的样品加热到设定的温度，计算机控制系统控制辅助光路系统，将此时样品的辐射和放在黑体腔孔内的黑体辐射源的辐射反射至红外光谱辐射测量设备，进行辐射测量，通过计算机控制系统计算得到样品的光谱发射率。本发明可以通过一体化的设计实现超高温材料的光谱发射率测量，与此同时，采用降低背景辐射技术极大地提高被测样品的光谱发射率测量精度。
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公开(公告)号：CN107702817A
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201710670942.4
申请日：2017-08-08
申请人： 安萨尔多能源瑞士股份公司
CPC分类号： G01J5/0088 , G01J5/0014 , G01J5/041 , G01J5/042 , G01J5/046 , G01J5/048 , G01J5/0806 , G01J5/0821 , G01J5/0887 , G01N25/72 , G01K11/32 , G01J5/0003 , G01J5/0862 , G01K2205/04
摘要： 本发明涉及一种用于燃气涡轮机动力设备的温度检测装置和一种包括所述温度检测装置的燃气涡轮机动力设备。一种用于燃气涡轮机动力设备(20)的温度检测装置设置有被配置成检测指示温度的参数的至少一个光学探针(2)并设置有被配置成限定内部容纳所述光学探针(2)的暗室(4)的至少一个囊(3)。
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公开(公告)号：CN105103205A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201480012394.0
申请日：2014-02-10
申请人： 西门子瑞士有限公司
CPC分类号： G08B17/12 , G01J5/0014 , G01J5/025 , G01J5/041 , G01J5/0806 , G01J5/0821 , G01J5/0887 , G01J5/12 , G01J5/20 , G01J5/58 , G01J5/602
摘要： 本发明涉及一种设计为点式探测器的危险探测器（1），包括具有报警器盖（21）的报警器壳体（2）、对在红外范围内的热辐射（W）敏感的非接触式热辐射传感器（4a）以及处理单元（4b），其至少用于确立并输出所述危险探测器的环境中的从所探测的热辐射（W）导出的环境温度（T）的温度值（TEMP）并且/或者如果当前确立温度值（TEMP）超过预定温度比较值则确立并输出消息（ALARM）。所述热辐射传感器（4a）被设置在所述报警器壳体（2）中并在光学上对准到所述报警器盖（21）的内侧（IS）以用于获取所述环境温度（T）。所述热辐射传感器（4a）优选地是被设计为SMD部件的热电堆。
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公开(公告)号：CN103968951A
公开(公告)日：2014-08-06
申请号：CN201410043522.X
申请日：2014-01-29
申请人： AP系统股份有限公司
发明人： 池尙炫
IPC分类号： G01J5/00
CPC分类号： G01J5/522 , G01J5/0007 , G01J5/0887
摘要： 本发明揭示一种校准设备，其用于除去高温计的测量偏差，且更特定来说，涉及一种用于校准高温计的设备，其校准参考值用以除去在高温计中测得的温度中的偏差。所述用于校准高温计的设备包含：黑体，其包含辐射空间，辐射能量从所述辐射空间辐射；主体外壳，其经配置以在其中接纳所述黑体，且包含光输出壁，所述光输出壁具有与所述辐射空间连接的光输出端口；光输出壁保护盖，其经配置以与所述主体外壳的所述光输出壁耦合，用以界定将所述主体外壳的所述光输出壁与外部环境进行连接的通道；以及固定部件，其经配置以将所述光输出壁保护盖固定到所述主体外壳的所述光输出壁。
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公开(公告)号：CN100351615C
公开(公告)日：2007-11-28
申请号：CN02819422.5
申请日：2002-09-26
申请人： 维苏维尤斯·克鲁斯布公司
CPC分类号： G01J5/08 , B22D2/006 , G01J5/004 , G01J5/0044 , G01J5/041 , G01J5/046 , G01J5/0815 , G01J5/0887 , G01J5/0893 , G01K1/105 , G01K1/125
摘要： 本发明提供了一种用于测量熔池温度的装置，该装置包括：a)耐火材料安装套筒(1、1′)，该耐火材料安装套筒有用于与熔池接触的外表面(2)以及内腔(3)，所述内腔有内表面(4)、外侧开口(6)和内侧封闭端(5)；以及b)光学高温计(7)，该光学高温计安装在安装套筒上，并用于测量由位于安装套筒内腔(3)内部且在熔池液面以下的测量区域(10)发出的热辐射。内腔的外侧开口(6)用于牢固安装光学高温计(7)。该装置的特征在于：安装板(8)用于插入位于安装套筒(1、1′)的内腔外侧开口(6)处的互补凹口内。因此，材料的准确性和可重复性大大提高。
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公开(公告)号：CN101059371A
公开(公告)日：2007-10-24
申请号：CN200710109714.6
申请日：2007-04-20
申请人： 科维迪恩股份公司
发明人： J·E·普赖斯
CPC分类号： G01J5/02 , G01J5/0022 , G01J5/0025 , G01J5/021 , G01J5/0265 , G01J5/08 , G01J5/0887 , G01J2005/068
摘要： 本发明涉及红外温度计及其探针罩。一种具有红外传感器的电子温度计为适于获取患者口中温度的类型。该温度计可以直接观测身体组织或者具有可快速加热以与身体组织的温度平衡的尖端。该尖端由红外传感器观测。本发明还公开了用于间接测量温度的具有金属化尖端的探针罩。
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公开(公告)号：CN104969044B
公开(公告)日：2018-07-20
申请号：CN201380072493.3
申请日：2013-12-13
申请人： 斯考拉股份公司
CPC分类号： G01J5/0022 , G01J5/0096 , G01J5/0887 , G01J5/0896 , G01J2005/0051 , G01J2005/0077
摘要： 本发明涉及一种用于非接触式地确定具有未知热辐射系数的运动的物体的温度的方法，所述物体特别是被沿其纵轴线输送的金属丝，所述方法包括以下步骤：引导所述物体通过至少一个发出热辐射的辐射源，其中所述物体大部分或完全由所述至少一个辐射源包围；利用至少一个辐射检测器在引导所述物体通过辐射源时物体(10)所穿过的区域中进行空间分辨的热辐射测量；以及以所述空间分辨的热辐射测量为基础确定所述运动物体的温度。本发明还涉及一种相应的装置。
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公开(公告)号：CN102313608B
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201110127938.6
申请日：2011-05-17
申请人： 贺利氏电子耐特国际股份公司
IPC分类号： G01K1/12
CPC分类号： G01J5/041 , G01J5/004 , G01J5/046 , G01J5/048 , G01J5/08 , G01J5/0821 , G01J5/0887
摘要： 本发明涉及一种传感器装置，其用于以温度传感器对熔体、特别是熔点在600℃以上的金属或冰晶石熔体进行温度测量；以及涉及一种用于以该传感器装置进行测量的方法。
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