虚拟现实镜片色散检测的方法及装置

    公开(公告)号:CN107702894A

    公开(公告)日:2018-02-16

    申请号:CN201710543865.6

    申请日:2017-07-05

    发明人: 党少军 姜燕冰

    IPC分类号: G01M11/02

    CPC分类号: G01M11/0242

    摘要: 本发明提供一种虚拟现实镜片色散检测的方法及装置,包括测试单元、观察单元、图像单元和处理单元,所述测试单元包括待测试镜片、固定结构和显示屏,所述图像单元和所述观察单元、所述处理单元分别电性连接。与现有技术相比,本发明利用测试单元、观察单元、图像单元和处理单元的组合简单而有效地解决了色散验证和调整的问题。在固定结构上设置镜片安装部可以方便更换待测试镜片,方便本发明的重复使用。

    高精度大口径光学镜头畸变标定装置及标定方法

    公开(公告)号:CN106017871A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201610458351.6

    申请日:2016-06-23

    发明人: 金辉 马洪涛

    IPC分类号: G01M11/02

    CPC分类号: G01M11/0242

    摘要: 高精度大口径光学镜头畸变标定装置及标定方法,涉及光学测量方法领域,解决了现有标定装置和方法存在的精度不高、无法直接输出二维镜头畸变图像的问题。该方法主要为:以基准尺为基准,通过两台经纬仪的互瞄建立测量站,测量基准尺建立两台经纬仪的空间位置关系模型从而算出两台经纬仪的空间坐标;通过两台经纬仪分别记录标准网格板上各个特定点的空间坐标;利用二维网格图拟合软件根据各个特定点的空间坐标及两台经纬仪的空间坐标自动拟合出二维网格图并绘制出二维镜头畸变图像,同时计算出被测镜头不同视场角的畸变值。本发明结构简单、测量过程简便,通过两台经纬仪的使用提高了测量精度,并且能够直接输出二维镜头畸变图像。

    一种精确测量光源平行性的方法及装置

    公开(公告)号:CN105606039A

    公开(公告)日:2016-05-25

    申请号:CN201510967508.3

    申请日:2015-12-22

    IPC分类号: G01B11/26 G01M11/02

    CPC分类号: G01B11/26 G01M11/0242

    摘要: 一种精确测量光源平行性的方法及装置,属于光电测量领域,为了解决现有技术无法实现光源平行性的精确测量问题,第一步,将待测光源放置标准光栅的上方,将标准光栅固定件的上面,光电探测器固定在固定件底部,且待测光源、标准光栅和光电探测器同轴设置,光电探测器与信号处理模块连接,示波器及电脑分别与信号处理模块相连;第二步,待测光源发出的光先入射到标准光栅,再入射光电探测器上,光电探测器将所得到的光信号转化为电信号,通过信号处理模块的处理,信号输入到示波器及电脑中;第三步,电脑根据示波器的波形图计算待测光源的平行性参数;该测量装置测量精度高,数据直观可靠。

    眼镜镜片光学性能的表示方法

    公开(公告)号:CN100552403C

    公开(公告)日:2009-10-21

    申请号:CN03817169.4

    申请日:2003-07-15

    申请人: HOYA株式会社

    发明人: 山梶哲马

    IPC分类号: G01M11/02 G02C7/02

    摘要: 一种眼镜镜片光学性能的表示方法,其对非轴对称眼镜镜片也能恰当适用。其首先使用评价眼镜镜片光学性能的评价函数来决定该眼镜镜片的明视区域,然后在具有与从眼球的旋转中心盯住看决定的明视区域的立体角相等的立体角,且假设在眼镜镜片的光轴周围是轴对称的球部分时,计算依赖于与该球部分的顶角相当的所述明视区域大小的明视视角。然后以度的单位表示计算出的明视视角。

    共焦自准直中心偏和曲率半径测量方法与装置

    公开(公告)号:CN107843213A

    公开(公告)日:2018-03-27

    申请号:CN201710991322.0

    申请日:2017-10-23

    摘要: 本发明属于光学精密加工检测技术领域,涉及一种共焦自准直中心偏和曲率半径测量方法与装置。该方法利用共焦层析定焦方法对被测镜的球心和顶点进行定焦、借助位置探测系统测得定焦点的位置、计算得到被测镜的曲率半径,利用自准直方法探测被测镜旋转过程中反射光在探测面上的路径从而获得被测镜的偏心量,然后综合偏心量和曲率半径计算得出中心偏。本发明首次将共焦层析定焦原理应用到中心偏测量领域中,改进了传统的自准直中心偏测量方法,并且发明了共焦自准直中心偏和曲率半径测量装置,测量结果表明,该方法具有测量精度高、量程大、效率高、无需重复装卡的优点,可用于光学元件中心偏和曲率半径的精密加工检测。