可见光检测半导体辐射检测器

    公开(公告)号:CN101356646B

    公开(公告)日:2012-08-15

    申请号:CN200680050446.9

    申请日:2006-12-29

    IPC分类号: H01L27/146 H01L31/112

    摘要: 一种半导体辐射检测器装置,包括半导体材料的本体层(103),并且在本体层(303)的第一表面上按以下顺序包括:第二导电类型的半导体材料的改进的内部栅极层(104)、第一导电类型的半导体材料的阻挡层(305),以及第二导电类型的半导体材料的像素掺杂部(131,132,133),这些像素掺杂部用于连接到至少一个像素电压以创建对应于像素掺杂部的像素,其特征在于,该装置包括第一导电类型的第一接触部,像素电压被限定为像素掺杂部和第一接触部之间的电势差。

    预闪时间调整电路及使用其的影像感测器

    公开(公告)号:CN106561048B

    公开(公告)日:2019-07-05

    申请号:CN201610028513.2

    申请日:2016-01-15

    发明人: 林炜绩

    IPC分类号: H04N5/369 H04N5/351

    摘要: 本发明提供一种预闪时间调整电路。所述预闪时间调整电路包括第一预闪时间调整单元。第一预闪时间调整单元耦接于影像感测阵列。影像感测阵列包括多个像素单元。所述第一预闪时间调整单元包括连结切换模块以及储能电容。当影像感测阵列感测到光束时,连结切换模块选择性地导通其第一开关与储能电容,使储能电容开始向第一像素群中的多个第一像素单元充电,直至所述多个第一像素单元的多个双极性晶体管的基极‑射极电压达稳态。

    预闪时间调整电路及使用其的影像感测器

    公开(公告)号:CN106561048A

    公开(公告)日:2017-04-12

    申请号:CN201610028513.2

    申请日:2016-01-15

    发明人: 林炜绩

    IPC分类号: H04N5/369 H04N5/351

    摘要: 本发明提供一种预闪时间调整电路。所述预闪时间调整电路包括第一预闪时间调整单元。第一预闪时间调整单元耦接于影像感测阵列。影像感测阵列包括多个像素单元。所述第一预闪时间调整单元包括连结切换模块以及储能电容。当影像感测阵列感测到光束时,连结切换模块选择性地导通其第一开关与储能电容,使储能电容开始向第一像素群中的多个第一像素单元充电,直至所述多个第一像素单元的多个双极性晶体管的基极-射极电压达稳态。

    光学半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN101449389A

    公开(公告)日:2009-06-03

    申请号:CN200780018744.4

    申请日:2007-04-03

    发明人: 岩井誉贵

    摘要: 一种光学半导体器件,其被提供有被形成在低浓度p型硅衬底(1)上的低掺杂浓度的n型外延层(第二外延层)(24);通过离子注入或类似方法被选择性地形成在n型外延层(24)中的低掺杂浓度的p型阳极层(第一扩散层)(25);被形成在阳极层(25)上的高浓度n型阴极层(第二扩散层)(9);包括阳极层(25)和阴极层(9)的光接收元件(2);以及被形成在n型外延层(24)上的晶体管(3)。对于短波长光具有高速度和高光接收灵敏度的光电二极管以及高速度晶体管可以被混合安装在同一半导体衬底上。

    光学传感器
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108352392A

    公开(公告)日:2018-07-31

    申请号:CN201680045171.3

    申请日:2016-05-31

    发明人: Y·尼

    IPC分类号: H01L27/146

    摘要: 本发明涉及一种光学传感器,该光学传感器包括:一个或多个电荷转移像素(10),每个电荷转移像素包括在照明时生成光电荷的掩埋式光电二极管(11);转换元件(12),该转换元件接收所述光电荷的至少一部分且趋向于将满足与光电荷的生成强度的非线性关系的电势强加于光电二极管上;以及电荷转移元件(14),该电荷转移元件用于读取由光电二极管(11)存储的电荷,从而通过转移,在读取之后,在该光电二极管中剩余的电荷为零。