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公开(公告)号:CN103904545B
公开(公告)日:2017-11-17
申请号:CN201310700813.7
申请日:2013-12-18
申请人: 索尼公司
IPC分类号: H01S3/10
CPC分类号: H01S5/0057 , H01S5/0064 , H01S5/0657 , H01S5/141 , H01S5/4006 , H01S5/50
摘要: 本发明提供了脉冲整形装置和脉冲整形方法,该脉冲整形装置包括脉冲生成器,其被配置为通过使用用于发射预定波长的光的半导体激光器产生脉冲光;和光学构件,被设置在所述脉冲生成器的后级并被配置为压缩所述脉冲光的脉冲时间宽度。所述脉冲光具有第一频率分散状态。所述光学构件将第二频率分散状态赋给所述脉冲光,所述第二频率分散状态是与所述第一频率分散状态相反的频率分散状态。
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公开(公告)号:CN103348610B
公开(公告)日:2016-10-05
申请号:CN201080070893.7
申请日:2010-12-22
申请人: 骁阳网络有限公司
IPC分类号: H04B10/548 , H01S5/50
CPC分类号: H01S5/0085 , H01S5/0064 , H01S5/50 , H04B10/516 , H04B10/548
摘要: 提供了一种光网络部件,其包括具有输入和输出的半导体光放大器,其中该输入被连接到光源,其中该输出被连接到幅度调制器,其中该半导体光放大器将来自幅度调制器的幅度调制信号变换成相位调制信号,并在其输出处提供该相位调制信号。此外,提出了一种包括至少一个这样的光网络部件的发射机。
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公开(公告)号:CN105043726B
公开(公告)日:2016-07-27
申请号:CN201510585296.2
申请日:2015-09-15
申请人: 深圳市创鑫激光股份有限公司
IPC分类号: G01M11/02
CPC分类号: H01S5/0064 , H01S5/0014 , H01S5/0071 , H01S5/0656
摘要: 本发明公开了一种用于检测自身回光对激光器影响的方法及检测设备,方法包括:接收激光器输入的输入光;将输入光分割成第一检测光和第二检测光,并分别向第一光功率计和可调反射镜输出第一检测光和第二检测光;接收可调反射镜所反射的部分第二检测光,并将可调反射镜所反射的部分第二检测光分割成第一回光和第二回光,并分别向激光器和第一光功率计回传第一回光和第二回光;通过第一光功率计检测第一检测光的功率,通过第二光功率计检测第二回光的功率;计算激光器的输入光的功率和第一回光的功率,并建立第一回光的功率与激光器的输入光的功率之间的功率对应关系。通过上述方式,本发明可检测回光的功率与激光器的输入光的功率之间的对应关系。
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公开(公告)号:CN102998281A
公开(公告)日:2013-03-27
申请号:CN201210340418.8
申请日:2012-09-14
申请人: 阿克塞特里斯股份公司
IPC分类号: G01N21/39
CPC分类号: H01S5/0064 , H01S5/005 , H01S5/026 , H01S5/183
摘要: 激光单元1,优选地用于气体检测,具有半导体激光器芯片2,并可选地具有对在半导体激光器芯片2处所发射的激光束9进行成形的束成形元件4,全部优选地被封装在具有用于激光束9的出射窗的封闭的密封外壳中。根据本发明,布置了减少自混合的光学元件3在半导体激光器芯片2的出射区域10处直接物理接触,并且至少在出射区域10中与激光器芯片确实地连接或借助于光学介质连接。在替代的实施例中,输出反射镜6可以首先被应用于减少自混合的光学元件3,并且然后,在随后的步骤中,优选地借助于晶片接合来与VCSEL半激光器芯片相连接。
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公开(公告)号:CN101884009B
公开(公告)日:2013-01-23
申请号:CN200880119254.8
申请日:2008-10-23
申请人: 康宁股份有限公司
CPC分类号: G02F1/3558 , G02F1/3775 , G02F2201/307 , H01S5/0064
摘要: 本发明的特定实施方式一般涉及一种制造波长转换器件的方法。根据本方法,波长转换器件是这样制造的:提供非线性光学材料;以及对非线性光学材料进行极化以形成多个周期性反转的极化畴,这些畴是按照防回射周期Λ排列的。极化非线性材料的几何结构以及防回射周期Λ被选定,使得极化非线性光学材料的相位匹配波长λΦ与极化非线性光学材料的布拉格波长λBRAGG之差大于1nm。
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公开(公告)号:CN101441301A
公开(公告)日:2009-05-27
申请号:CN200810125477.7
申请日:2008-06-18
申请人: 古河电气工业株式会社
CPC分类号: H01S5/02208 , H01S5/0064 , H01S5/02284 , H01S5/0687 , H01S5/12 , H01S5/4012 , H01S5/4031 , H01S5/50 , H01S2301/02
摘要: 本发明提供一种光模块(10),至少具有:激光光源(20);使从激光光源(20)出射的激光中一部分激光透过并且使另一部分激光分路的光分路模块(24);接受由光分路模块(24)分路的另一部分激光的受光部(30P);以及收置激光光源(20)和光分路模块(24)和受光部(30P)的封装(11),在封装(11)内设置用于减少在封装内产生的杂散光的杂散光减少模块(200、201、202)。
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公开(公告)号:CN106165315A
公开(公告)日:2016-11-23
申请号:CN201480074724.9
申请日:2014-12-01
申请人: 株式会社秀利得
发明人: 罗基云
CPC分类号: G01M11/3127 , H01S5/0064 , H01S5/0687 , H01S5/146 , H04B10/07 , H04B10/071 , H04B10/503
摘要: 本发明公开一种将可调谐利用聚合物光栅的光信号的波长的聚合物波长可调谐激光器作为光源的光时域反射仪。本发明的光时域反射仪可调谐输出一定光信号的聚合物波长可调谐激光器的波长,并将从光缆线路回归的光信号通过具有特定中心波长的光过滤器分离,从而,检测光缆线路的切断、反射、损耗。本发明具有如下效果,因利用固定的光强度的光源,而减少在光缆线路发生的非线性效应。
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公开(公告)号:CN105043726A
公开(公告)日:2015-11-11
申请号:CN201510585296.2
申请日:2015-09-15
申请人: 深圳市创鑫激光股份有限公司
IPC分类号: G01M11/02
CPC分类号: H01S5/0064 , H01S5/0014 , H01S5/0071 , H01S5/0656
摘要: 本发明公开了一种用于检测自身回光对激光器影响的方法及检测设备,方法包括:接收激光器输入的输入光;将输入光分割成第一检测光和第二检测光,并分别向第一光功率计和可调反射镜输出第一检测光和第二检测光;接收可调反射镜所反射的部分第二检测光,并将可调反射镜所反射的部分第二检测光分割成第一回光和第二回光,并分别向激光器和第一光功率计回传第一回光和第二回光;通过第一光功率计检测第一检测光的功率,通过第二光功率计检测第二回光的功率;计算激光器的输入光的功率和第一回光的功率,并建立第一回光的功率与激光器的输入光的功率之间的功率对应关系。通过上述方式,本发明可检测回光的功率与激光器的输入光的功率之间的对应关系。
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公开(公告)号:CN104885315A
公开(公告)日:2015-09-02
申请号:CN201380067151.2
申请日:2013-10-23
申请人: 索尼公司
IPC分类号: H01S5/14
CPC分类号: H01S5/141 , H01S3/1055 , H01S5/0064 , H01S5/02248 , H01S5/0265 , H01S5/0267 , H01S5/028 , H01S5/0657 , H01S5/4006 , H01S5/50 , H01S2301/02
摘要: 提供了一种激光发射装置,该装置包括:半导体激光器;光栅,相对于半导体激光器被定位成在其之间形成谐振器结构;以及光学系统,定位在半导体激光器和光栅之间。光学系统被配置和布置为使得共焦点形成在半导体激光器的发光表面和光栅的反射表面上。
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公开(公告)号:CN104570218A
公开(公告)日:2015-04-29
申请号:CN201410528597.7
申请日:2014-10-09
申请人: 住友电气工业株式会社
CPC分类号: G02F1/093 , G02B5/3083 , G02B27/283 , G02F1/21 , G02F2001/212 , H01S5/0064 , H01S5/02216 , H01S5/02248 , H01S5/02415 , H01S5/4012 , H01S5/4025 , H04B10/50
摘要: 本发明公开一种用于发射偏振组合光束的发射机光学组件。发射机光学组件包括光源、光隔离器和偏振合束器(PBC),每个光源都发射具有彼此大致相同的偏振态的光束。光隔离器通过接收光束将偏振态彼此垂直的光束输出到偏振合束器。
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