脉冲整形装置和脉冲整形方法

    公开(公告)号:CN103904545B

    公开(公告)日:2017-11-17

    申请号:CN201310700813.7

    申请日:2013-12-18

    申请人: 索尼公司

    IPC分类号: H01S3/10

    摘要: 本发明提供了脉冲整形装置和脉冲整形方法,该脉冲整形装置包括脉冲生成器,其被配置为通过使用用于发射预定波长的光的半导体激光器产生脉冲光;和光学构件,被设置在所述脉冲生成器的后级并被配置为压缩所述脉冲光的脉冲时间宽度。所述脉冲光具有第一频率分散状态。所述光学构件将第二频率分散状态赋给所述脉冲光,所述第二频率分散状态是与所述第一频率分散状态相反的频率分散状态。

    一种用于检测自身回光对激光器影响的方法及检测设备

    公开(公告)号:CN105043726B

    公开(公告)日:2016-07-27

    申请号:CN201510585296.2

    申请日:2015-09-15

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种用于检测自身回光对激光器影响的方法及检测设备,方法包括:接收激光器输入的输入光;将输入光分割成第一检测光和第二检测光,并分别向第一光功率计和可调反射镜输出第一检测光和第二检测光;接收可调反射镜所反射的部分第二检测光,并将可调反射镜所反射的部分第二检测光分割成第一回光和第二回光,并分别向激光器和第一光功率计回传第一回光和第二回光;通过第一光功率计检测第一检测光的功率,通过第二光功率计检测第二回光的功率;计算激光器的输入光的功率和第一回光的功率,并建立第一回光的功率与激光器的输入光的功率之间的功率对应关系。通过上述方式,本发明可检测回光的功率与激光器的输入光的功率之间的对应关系。

    具有抑制的反馈的激光单元

    公开(公告)号:CN102998281A

    公开(公告)日:2013-03-27

    申请号:CN201210340418.8

    申请日:2012-09-14

    IPC分类号: G01N21/39

    摘要: 激光单元1,优选地用于气体检测,具有半导体激光器芯片2,并可选地具有对在半导体激光器芯片2处所发射的激光束9进行成形的束成形元件4,全部优选地被封装在具有用于激光束9的出射窗的封闭的密封外壳中。根据本发明,布置了减少自混合的光学元件3在半导体激光器芯片2的出射区域10处直接物理接触,并且至少在出射区域10中与激光器芯片确实地连接或借助于光学介质连接。在替代的实施例中,输出反射镜6可以首先被应用于减少自混合的光学元件3,并且然后,在随后的步骤中,优选地借助于晶片接合来与VCSEL半激光器芯片相连接。

    波长转换器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN101884009B

    公开(公告)日:2013-01-23

    申请号:CN200880119254.8

    申请日:2008-10-23

    IPC分类号: G02F1/355 G02F1/377

    摘要: 本发明的特定实施方式一般涉及一种制造波长转换器件的方法。根据本方法,波长转换器件是这样制造的:提供非线性光学材料;以及对非线性光学材料进行极化以形成多个周期性反转的极化畴,这些畴是按照防回射周期Λ排列的。极化非线性材料的几何结构以及防回射周期Λ被选定,使得极化非线性光学材料的相位匹配波长λΦ与极化非线性光学材料的布拉格波长λBRAGG之差大于1nm。

    一种用于检测自身回光对激光器影响的方法及检测设备

    公开(公告)号:CN105043726A

    公开(公告)日:2015-11-11

    申请号:CN201510585296.2

    申请日:2015-09-15

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种用于检测自身回光对激光器影响的方法及检测设备,方法包括:接收激光器输入的输入光;将输入光分割成第一检测光和第二检测光,并分别向第一光功率计和可调反射镜输出第一检测光和第二检测光;接收可调反射镜所反射的部分第二检测光,并将可调反射镜所反射的部分第二检测光分割成第一回光和第二回光,并分别向激光器和第一光功率计回传第一回光和第二回光;通过第一光功率计检测第一检测光的功率,通过第二光功率计检测第二回光的功率;计算激光器的输入光的功率和第一回光的功率,并建立第一回光的功率与激光器的输入光的功率之间的功率对应关系。通过上述方式,本发明可检测回光的功率与激光器的输入光的功率之间的对应关系。