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公开(公告)号:CN118671110A
公开(公告)日:2024-09-20
申请号:CN202410777944.3
申请日:2024-06-17
申请人: 深圳综合粒子设施研究院
IPC分类号: G01N23/041 , G01N23/046
摘要: 本申请公开了一种多模式X射线相位衬度成像装置,涉及X射线成像技术领域。多模式X射线相位衬度成像装置包括:机台;X射线源组件,包括沿第一方向组并列设置的微焦斑X射线源和大焦斑X射线源;光栅组件,设置于X射线源组件的输出端,光栅组件可选择地与微焦斑X射线源或大焦斑X射线源配合工作,以调制X射线源组件产生的光线;样品台,用于放置待检测样品,样品台沿第一方向组滑动安装于机台上,样品台的滑动路径经过光栅组件的布设路径;探测器,设置于光栅组件远离所述X射线源组件的一端,探测器沿第一方向组滑动安装于机台上。本申请提供的多模式X射线相位衬度成像装置可实现多种模式的X射线相位衬度成像,满足多种使用场景需要。
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公开(公告)号:CN118647863A
公开(公告)日:2024-09-13
申请号:CN202280090698.3
申请日:2022-02-09
申请人: 耶达研究与发展有限公司
IPC分类号: G01N23/041 , G01N23/2251
摘要: 提出了一种用于确定样品的结构图像的计算机系统。该计算机系统被配置为接收和处理原始测量数据,该原始测量数据由扫描显微镜产生并且指示至少一个扫描数据集(IM)N,该至少一个扫描数据集在扫描过程中采集并且对应于位于扫描显微镜的焦平面附近的样品上的A个测量结果的序列。每个测量结果包括由与M区段检测器(M≥3)相关联的M个检测通道提供的数据。该计算机系统包括数据分析器,该数据分析器能够处理至少一个扫描数据集以补偿对于散焦平面处的样品特征的由轴外检测通道引起的图像偏移,从而获得指示样品的经视差校正的扫描图像的数据,该数据使得能够将相位信息和深度信息分离并且能够从单次扫描数据集中提取样品的深度衬度图像。
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公开(公告)号:CN111839558B
公开(公告)日:2024-07-09
申请号:CN202010213056.0
申请日:2020-03-24
申请人: 株式会社岛津制作所
IPC分类号: A61B6/40 , A61B6/42 , A61B6/00 , G01N23/041
摘要: 本发明提供一种X射线相位成像装置。在该X射线相位成像装置中,多个光栅中的至少一个光栅由沿着与第一方向及第二方向正交的第三方向排列配置的多个光栅部分构成,所述第一方向是利用移动机构使被摄体或摄像系统移动的方向,所述第二方向是X射线源、检测部以及多个光栅排列的方向。而且,多个光栅部分构成为:从第一方向观察时,相邻的光栅部分彼此重叠。
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公开(公告)号:CN112304986B
公开(公告)日:2024-05-31
申请号:CN202010590946.3
申请日:2020-06-24
申请人: 株式会社岛津制作所
IPC分类号: G01N23/041 , G01N23/083 , G01N23/20025 , G01N23/20
摘要: 本发明提供一种X射线成像装置和X射线成像方法。该X射线成像装置构成为:从体数据获取多个切片图像数据,通过进行第一处理来获取多个第一处理图像数据,通过进行第二处理来获取多个第二处理图像数据,基于获取到的多个第二处理图像数据来检测被摄体的边缘,获取包括检测到的被摄体的边缘的边缘图像数据。
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公开(公告)号:CN112270741B
公开(公告)日:2024-04-09
申请号:CN202011092226.0
申请日:2020-10-13
申请人: 南京大学
IPC分类号: G06F3/00 , G01N23/041
摘要: 本发明提供一种基于偏振的光栅相位衬度成像系统及方法,涉及领域,包括:光源装置,发射部分相干光;准直装置,将部分相干光转换为准直光;线偏振片,将准直光转换为线偏振光;光栅组件,上方放置有一样品,不同偏振角度的线偏振光分别以一预设照射角度依次照射在样品上形成折射光线,经由光栅组件处理形成强度变化的光信号;图像探测器,接收光信号以形成样品在每个偏振角度对应的相位衬度图像;三维重建系统,用于根据各相位衬度图像及对应的偏振角度进行三维重建得到样品的三维图像。有益效果是具备了无透镜成像兼具大视场和高分辨率的特点,同时降低了系统的复杂度,进一步提高了设备的集成度,可以更好地推动无透镜相位恢复系统的实用化。
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公开(公告)号:CN117796839A
公开(公告)日:2024-04-02
申请号:CN202211157523.8
申请日:2022-09-22
申请人: 上海西门子医疗器械有限公司
IPC分类号: A61B6/40 , A61B6/42 , G01N23/041
摘要: 本发明实施例中公开了一种X射线源与影像增强探测器之间的定时控制方法、系统、X射线成像系统及存储介质。其中,方法包括:系统触发单元接收到触发请求时,触发X射线源的高压发生器和影像增强探测器中的探测器同步启动;系统触发单元在所述高压发生器停止时,根据预先获取的延迟时间控制所述探测器延迟所述延迟时间后关闭;所述延迟时间根据所述影像增强探测器中的荧光体的衰减时间确定。本发明实施例中的技术方案能够实现更高的剂量利用效率和更少的暗噪声。
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公开(公告)号:CN114018961B
公开(公告)日:2023-08-18
申请号:CN202111296166.9
申请日:2021-11-03
申请人: 北京航空航天大学宁波创新研究院
IPC分类号: G01N23/041 , G01N23/083
摘要: 本发明涉及一种基于深度学习的单步X射线光栅差分相位衬度成像方法及装置,包括使用基于横向错位吸收光栅的X射线光栅差分相位衬度成像装置获取样品相位衬度图像;构建卷积神经网络模型;训练卷积神经网络模型;使用已训练的卷积神经网络对基于横向错位吸收光栅的相位衬度图像进行校正。本发明能够有效减少样品所受的辐射剂量,提高成像效率;有效消除因光栅位置近似所产生的伪影,提高最终的成像质量及空间分辨率。能够使用一次曝光实现X射线相位衬度成像,避免高精度的吸收光栅步进,降低辐射剂量,解决了错位吸收光栅因位置近似所导致的图像伪影及空间分辨率降低的问题,提高了基于横向错位吸收光栅的X射线光栅差分相位衬度成像技术的成像质量。
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公开(公告)号:CN113866195B
公开(公告)日:2023-07-18
申请号:CN202111394611.5
申请日:2021-11-23
申请人: 合肥工业大学
IPC分类号: G01N23/041
摘要: 本发明公开了一种X射线光栅干涉仪成像的多衬度信号提取方法,是应用于沿Z轴向上依次设置有光源、相位光栅、分析光栅、光强探测器所构成的X射线光栅干涉仪成像系统中,且在沿X轴向上中心对齐,在沿Y轴向上中心对齐;光源出射的X射线依次穿透相位光栅、被成像物、分析光栅后,X射线的强度分布被光强探测器测量并记录为投影数据;利用提出的多衬度信号提取方法计算光强探测器记录的投影数据,可准确提取被成像物的吸收信号、折射信号和暗场信号。本发明能够校正光栅相对位移的随机误差导致的多衬度信号的伪影,实现被成像物的吸收、折射和暗场信号的准确、定量提取。
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公开(公告)号:CN113607761B
公开(公告)日:2023-06-27
申请号:CN202110912294.5
申请日:2021-08-10
申请人: 合肥工业大学
IPC分类号: G01N23/041 , A61B6/00
摘要: 本发明公开了一种基于光栅干涉仪的X射线多模式成像新方法,是应用于沿Z轴向上依次设置有X射线源、相位光栅、吸收分析光栅、探测器所构成的X射线光栅干涉仪中,且在沿Y轴向上中心对齐;X射线源发射的X射线入射到相位光栅被空间调制,出射X射线穿透被成像物体、吸收分析光栅后入射到探测器。空间调制X射线的强度分布被探测器测量并记录;利用提出的信号计算公式处理探测器记录的光强分布数据,能够获取被成像物体的吸收信号、折射信号和暗场信号。本发明能够解决吸收分析光栅的步进位置不满足等间距要求时,被成像物体的吸收信号、折射信号、暗场信号的定量、准确提取问题。
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公开(公告)号:CN113795751B
公开(公告)日:2023-05-02
申请号:CN202080032307.3
申请日:2020-11-06
申请人: 皇家飞利浦有限公司
发明人: S·P·普雷弗尔哈尔 , T·克勒 , A·亚罗申科
IPC分类号: G01N23/041 , A61B6/00
摘要: 本发明涉及用于在X射线差分相衬成像和暗场成像中的主动光栅位置跟踪的系统和方法。通过利用光束来照射位于光栅上的反射区并探测通过反射区反射的光束的反射图案来测量被定位在X射线成像设备中的至少一个光栅的对齐。将反射图案与对应于针对X射线差分相衬成像而优化的对齐的参考图案进行比较,并且在对反射图案与参考图案的比较时控制X射线成像设备。
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