专利检索 ap:("GlobalWafers Co., Ltd.") AND inv:"MEYER, Benjamin Michael" 第 1 页

1.

发明公开
INGOT PULLER APPARATUS HAVING A COMPOUND EXHAUST TUBE AND METHODS FOR SELECTING THE LENGTHS OF LOWER AND UPPER EXHAUST TUBE PORTIONS 审中-公开

公开(公告)号：EP4298271A1

公开(公告)日：2024-01-03

申请号：EP22707300.4

申请日：2022-02-11

申请人： GlobalWafers Co., Ltd.

发明人： RYU, JaeWoo , JI, JunHwan , YUN, WooJin , MEYER, Benjamin Michael , HUDSON, Carissima Marie

IPC分类号： C30B15/00 , C30B29/06

2.

发明公开
NON-CONTACT SYSTEMS AND METHODS FOR DETERMINING DISTANCE BETWEEN SILICON MELT AND REFLECTOR IN A CRYSTAL PULLER 审中-公开

公开(公告)号：EP4248001A1

公开(公告)日：2023-09-27

申请号：EP21830552.2

申请日：2021-11-18

申请人： GlobalWafers Co., Ltd.

发明人： MEYER, Benjamin Michael , LUTER, William Lynn , RYU, JaeWoo

IPC分类号： C30B15/22 , C30B29/06 , C30B15/26

3.

发明公开
INGOT PULLER APPARATUS HAVING A HEAT SHIELD DISPOSED BELOW A SIDE HEATER AND METHODS FOR PREPARING AN INGOT WITH SUCH APPARATUS 审中-公开

公开(公告)号：EP4244412A1

公开(公告)日：2023-09-20

申请号：EP20821478.3

申请日：2020-11-12

申请人： GlobalWafers Co., Ltd.

发明人： BHAGAVAT, Sumeet S. , DAGGOLU, Parthiv , MEYER, Benjamin Michael , RYU, JaeWoo

IPC分类号： C30B15/14 , C30B29/06

4.

发明公开
CLEAVED SEMICONDUCTOR WAFER CAMERA SYSTEMS AND METHODS 审中-公开

公开(公告)号：EP4214495A1

公开(公告)日：2023-07-26

申请号：EP21790691.6

申请日：2021-09-15

申请人： GlobalWafers Co., Ltd.

发明人： MEYER, Benjamin Michael , KAYSER, Justin Scott , VALLEY, John F. , EOFF, James Dean , VANDAN, Tanna , LUTER, William L.

IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/95