摘要:
Circuit générateur de signaux qui, en réponse à un signal d'entrée, délivre, sur ses sorties, des signaux clair complément en opposition de phase. Ce circuit comporte un bloc récepteur (REC10) recevant le signal d'entrée (VE) et délivrant des signaux d'attaque sur ses sorties (A) et (B), et deux blocs générateurs de signaux de commande (GSC11) et (GSC12) qui reçoivent respectivement les signaux d'attaque apparaissant en (A) et (B) et qui délivrent les signaux clair (S) et complément (S) sur leur sortie. Ce circuit peut être utilisé pour la recherche de lignes d'adresses dans les dispositifs décodeurs de mémoire.
摘要:
Circuit pour engendrer la valeur vraie et le complément de poids d'adresse, permettant d'éviter la sélection de plusieurs lignes à la fois par un décodeur d'adresses. Il comprend deux circuits (1) et (2), l'un fournissant la valeur vraie (Ø), l'autre son complément (Ø). Les moyens permettant d'éviter les sélections multiples comprennent dans le premier circuit un transistor (T11-1) qui retarde l'apparition du front de montée de (Ø) tant qu'il est maintenu conducteur par le niveau fourni par les résistances R11-1 et R10-2 à partir de la sortie Ø. Le transistor T11-2 dans le second circuit empêche Ø de monter tant qu'il est maintenu conducteur par le niveau fourni par R10-1, R11-2 à partir de Ø.
摘要:
The base circuit (30) comprises a self-referenced preamplifier (31) of the differential type connected between first and second supply voltages (VEE1, VC) and a push-pull output buffer stage (32) connected between second and third supply voltages (VC, VEE2). The push-pull output buffer stage (32) comprises a pull-up transistor (TUP) and a pull-down transistor (TDN) connected in series with the circuit output node (OUT3) coupled therebetween. These transistors are driven by complementary and substantially simultaneous signals S and S supplied by said preamplifier. Both branches of the preamplifier are tied at a first output node (M). A current source (I) is connected to said first output node. The first branch comprises a logic block (LB) performing the desired logic function of the base circuit that is connected through a load resistor (R1) to said second supply voltage (VC). In this instance, logic block consists of three parallel-connected input NPN transistors (T1, T2, T3), whose emitters are coupled together at said first output node (M) for NOR operation. The second branch is comprised of a biasing/coupling block (BB) connected to said second supply voltage and coupled both to said first output node (M) and to base node (B) of said pull-down transistor. In a preferred embodiment, this block consists of a diode-connected transistor (TC) and of a resistor (RC) connected in series with the base node (B) coupled therebetween. This block ensures both the appropriate polarization of said nodes (M, B) in DC without the need of external reference voltage generators and a low impedance path for fast signal transmission of the output signal (S) from node M to node B in AC, when input transistors of the logic block (LB) are ON. Optionally, the AC transmission can be improved by mounting a capacitor (C) between said first output and base nodes. An antisaturation block (AB), consisting typically of a Schottky Barrier Diode (SBD), is useful to prevent saturation of the pull down transistor (TDN) to further speed up the circuit.
摘要:
According to the present invention, a CMOS interface circuit (C2) similar to a latch made by two CMOS cross coupled inverters (INV1, INV2) is placed directly on the output node (14) of conventional BICMOS logic circuit (11) operating alone in a partial swing mode. This latch is made of four FETs P5, P6, N8, N9 cross-coupled in a conventional way with the feedback loop connected to said output node (14) The partial voltage swing (VBE to VH-VBE) naturally given by the output bipolar transistors (T1, T2) mounted in an push pull configuration is reinforced to full swing (GND to VH) by the latch at the end of each transition The state of the output node is forced by the latch because of the high driving capability due to the presence of said output bipolar transistors (T1, T2). As a result, the improved BICMOS logic circuit (D2) has an output signal (S) that ranges within the desired full swing voltage at the output terminal (15). It is a characteristic of this embodiment that the structure of CMOS interface circuit (C2) is always independent of the logic function implemented in the conventional BICMOS logic circuit (11). More generally, the CMOS interface circuit may have various physical implementations, however, it is always comprised of CMOS FETs and it becomes active at least in one of the GND to VBE or (VH - BE) to VH range.
摘要:
A high speed high sensitivity receiver comprising a latch (11) between ground and a strobe signal which provides its power supply and a controlled gating circuit (12) comprised of two transmission gates (TG1, TG2). One (TG1) is connected to the line input signal IN the other (TG2) is connected to a reference voltage REF. Supply of the latch and turning on/of of the gating device are activated by STOBE and signals. Assuming the strobe is at a low level, e.g. at the ground potential, no current is supplied to the latch composed of four transistors (T1,T2,T3,T4), but the transmission gates (TG1 and TG2) are on, connecting OUTC to REF and OUT to IN. A latching operation between the cross coupled transistors (T1,T2,T3,T4) is started as soon as the strobe is pulled up. The latching operation is then completed when transmission gates (TG1 and TG2) are turned off (after a transit time of the strobe through the inverter T5/T6). The final state depends on the initial condition found on OUT (node A) and OUTC (node B). T1 turns on first, if IN and OUT are lower than REF and OUTC, and vice-versa. The nodes A and B are pulled quickly to the levels defined by REF and IN when the strobe is switched down, since the latch supply voltage is suppressed and transmission gates (TG1 and TG2) being turned on.
摘要:
Le procédé est essentiellement caractérisé en ce qu'il comporte deux étapes d'implantation successives d'ions bore, dans un substrat typiquement de silicium de type N; la première est à forte dose et à faible énergie (1012 à 10 15 at/cm 2 -20 à 120 KeV) et la seconde est à faible dose et à forte énergie (10 11 à 10" at/cm 2 - 120 à 400 KeV). Le rapport préféré des doses est d'environ 10. Les résistances obtenues sont précises, elles ont en fait un faible TCR (coefficient de température) et une tension de claquage élevée; elles trouvent application notamment dans les circuits analogiques et les dispositifs de visualisation, à forte densité d'intégration.
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Procédé de correction du coefficient en tension de résistances semi-conductrices diffusées ou implantées et résistances ainsi obtenues. Le procédé consiste à réaliser une électrode métallique (21), au-dessus d'une région résistive (14) passivée par une couche diélectrique (15) et formée dans une portion isolée électriquement de la couche épitaxiale (12). Cette électrode métallique est reliée à un potentiel approprié, pour que le coefficient de tension causé par la couche d'appauvrissement au voisinage de la jonction PN (20') en raison des potentiels V1 et V2 soit compensé par le coefficient de tension opposé causé par l'effet d'enrichissement dû à la présence de l'électrode métallique polarisée. Dans une variante, la résistance sera divisée en une pluralité de résistances élémentaires isolées les unes des autres. Application à la fabrication de résistances linéaires formées par implantation ionique pour des circuits analogiques du type de ceux utilisés dans la commutation téléphonique.