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    FLEXIBLE MICROCIRCUIT SPACE TRANSFORMER ASSEMBLY
    6.
    发明授权
    FLEXIBLE MICROCIRCUIT SPACE TRANSFORMER ASSEMBLY 有权
    柔性微开关空间变压器组件

    公开(公告)号：EP1751557B1

    公开(公告)日：2012-08-15

    申请号：EP05724207.5

    申请日：2005-03-02

    申请人： Wentworth Laboratories, Inc.

    发明人： MAZZA, Dean, C. ,  SANZARI, Salvatore ,  RITELL, Jeff, P. ,  MCQUADE, Francis, T.

    IPC分类号： G01R31/319 ,  G01R1/073

    CPC分类号： G01R1/07378

    摘要： A space transformer (50) for electrically interconnecting a probe head to a printed circuit board, which includes a flexible multilayer circuit (54) with device under test contact pads (64) formed on a first side (58) and printed circuit board contact pads (66) formed on a second side (60). Electrically conductive circuit traces (62) extend between device under test contact pads (64) and printed circuit board contact pads (66). A shim plate (56) is fastened to a periphery of first side (58) of flexible multilayer circuit (54) and a bottom plate (52) is fastened to a periphery of second side (60) of flexible multilayer circuit (54). Bottom plate (52) has a plurality of internal apertures (72), which are aligned with printed circuit board contact pads (66) and separated by bottom plate stanchions (74), which are aligned with device under test contact pads (64). A plurality of interconnects (68) are bonded and electrically interconnected to printed circuit board contact pads (66) and extend through internal apertures (72).

    Elektrische Prüfeinrichtung eines elektrischen Prüflings sowie elektrisches Prüfverfahren
    7.
    发明公开
    Elektrische Prüfeinrichtung eines elektrischen Prüflings sowie elektrisches Prüfverfahren 审中-公开
    电气装置的测试和电气测试方法的电测试装置

    公开(公告)号：EP2458392A2

    公开(公告)日：2012-05-30

    申请号：EP12000464.3

    申请日：2009-06-29

    申请人： Feinmetall GmbH

    发明人： Böhm, Gunther ,  Kopilas, Bezislav ,  Ehrler, Sylvia ,  Holocher, Michael

    IPC分类号： G01R1/073

    CPC分类号： G01R1/07378 ,  G01R1/07357 ,  G01R31/2886

    摘要： Die Erfindung betrifft eine elektrische Prüfeinrichtung für die Prüfung eines elektrischen Prüflings, mit einem Leitersubstrat, das über einen Kontaktabstandstransformer mit einem Prüfkopf elektrisch verbunden ist, wobei das Leitersubstrat mit einer ersten Versteifungseinrichtung mechanisch verbunden und dadurch versteift ist. Es ist vorgesehen, dass mindestens ein das Leitersubstrat (12) durchgreifender Abstandshalter (30) mit dem Kontaktabstandstransformer (7) mechanisch verbunden ist und an der ersten Versteifungseinrichtung (26) über Neigungseinstellmittel (34) gehalten ist.

    摘要翻译： 所述装置（1）具有基板的导体（12），所有这些电性探针（2）通过接触分离变压器（7）连接，并且机械地连接到经由倾斜调节单元（34）的加强装置（26）。 交间隔件（30）被拧入通过螺纹螺钉基材。 加强装置具有内螺纹部分和无螺纹部之间具有插座台阶部分。 拧入螺纹部A具有螺纹环外螺纹位于凸缘的另一侧，以便做对抗台阶部分螺母压力机当螺钉环被锁定在适当位置。

    MODUL FÜR EINEN PARALLELTESTER ZUM PRÜFEN VON LEITERPLATTEN
    9.
    发明公开
    MODUL FÜR EINEN PARALLELTESTER ZUM PRÜFEN VON LEITERPLATTEN 有权
    模块用于并行测试仪，电路板检测

    公开(公告)号：EP2238461A1

    公开(公告)日：2010-10-13

    申请号：EP09704390.5

    申请日：2009-01-19

    申请人： ATG Luther & Maelzer Gmbh

    发明人： DEHMEL, Rüdiger ,  GÜLZOW, Andreas ,  HOLZBRECHER, Michael ,  BRUCHWALD, Edward

    IPC分类号： G01R1/073 ,  G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/2808 ,  G01R1/07378

    摘要： The invention relates to a module (1) for a parallel tester for the testing of circuit boards and a parallel tester that comprises such modules. The module comprises circuit boards (3) standing perpendicular to the plane of the base grid of the parallel tester, with contact pins (9) arranged along one side edge (4) of said circuit boards. The peripheral surfaces of the contact pins (9) lie against flat sides (5) of the circuit boards (3) and extend a bit beyond the circuit board (3) at the side edge (4).  The contact pins are electrically and mechanically connected to contact fields (6) configured on the circuit board. This arrangement of contact pins (9) can be manufactured cost-effectively, is mechanically stable, and allows the manufacture of modules with a high density of contact pins (9).