摘要:
An ATE testing system (900, 1000) for millimetre wave (mmW) packaged integrated circuits (820) includes: at least one packaged integrated circuit (820); a radio frequency, RF, socket (700) configured to receive the at least one packaged integrated circuit (820) and facilitate routing RF signals thereto via at least one input connector and at least one output connector; and at least one interface configured to couple a tester to at least one packaged integrated circuit (820). The RF socket (700) includes a mmW absorber (1010) located adjacent the at least one output connector of the RF socket (700).
摘要:
An exchangeable contact unit which can be attached to or detached from a main body of an inspection jig, includes: a flexible board which is provided with a contact part with respect to an object to be inspected; and a coaxial connector which is directly and electrically connected to the flexible board.
摘要:
Die Erfindung geht aus von einer Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Bauteilelementen, die auf ein Substrat (9) aufgebracht sind, mit Prüfnadeln (12), die auf Kontaktflächen des Substrats (9) aufsetzbar sind. Erfindungsgemäß ist eine rahmenartige Stützstruktur (14) vorgesehen, die das Substrat (9) so abstützt, dass sich die einzelnen Bauteilelemente (10) in Freiräumen der Stützstruktur (14) befinden.
摘要:
Die Erfindung betrifft eine elektrische Prüfeinrichtung für die Prüfung eines elektrischen Prüflings, mit einem Leitersubstrat, das über einen Kontaktabstandstransformer mit einem Prüfkopf elektrisch verbunden ist, wobei das Leitersubstrat mit einer ersten Versteifungseinrichtung mechanisch verbunden und dadurch versteift ist. Es ist vorgesehen, dass mindestens ein das Leitersubstrat (12) durchgreifender Abstandshalter (30) mit dem Kontaktabstandstransformer (7) mechanisch verbunden ist und an der ersten Versteifungseinrichtung (26) über Neigungseinstellmittel (34) gehalten ist.