ATE TESTING SYSTEM AND METHOD FOR MILLIMETRE WAVE PACKAGED INTEGRATED CIRCUITS

    公开(公告)号:EP3373017A1

    公开(公告)日:2018-09-12

    申请号:EP17159572.1

    申请日:2017-03-07

    申请人: NXP B.V.

    IPC分类号: G01R1/04 G01R31/28

    摘要: An ATE testing system (900, 1000) for millimetre wave (mmW) packaged integrated circuits (820) includes: at least one packaged integrated circuit (820); a radio frequency, RF, socket (700) configured to receive the at least one packaged integrated circuit (820) and facilitate routing RF signals thereto via at least one input connector and at least one output connector; and at least one interface configured to couple a tester to at least one packaged integrated circuit (820). The RF socket (700) includes a mmW absorber (1010) located adjacent the at least one output connector of the RF socket (700).

    EXCHANGEABLE CONTACT UNIT AND INSPECTION JIG
    3.
    发明公开
    EXCHANGEABLE CONTACT UNIT AND INSPECTION JIG 审中-公开
    AUSWECHSELBARE KONTAKTEINHEIT UNDPRÜFVORRICHTUNG

    公开(公告)号:EP3037834A1

    公开(公告)日:2016-06-29

    申请号:EP15202446.9

    申请日:2015-12-23

    申请人: Yokowo Co., Ltd

    IPC分类号: G01R31/319 G01R31/28

    摘要: An exchangeable contact unit which can be attached to or detached from a main body of an inspection jig, includes: a flexible board which is provided with a contact part with respect to an object to be inspected; and a coaxial connector which is directly and electrically connected to the flexible board.

    摘要翻译: 可以安装在检查夹具的主体上或从检查夹具的主体拆下的可更换的接触单元包括:柔性板,其相对于待检查物体设置有接触部分; 以及直接和电连接到柔性板的同轴连接器。

    Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Bauteilelementen
    7.
    发明公开
    Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Bauteilelementen 审中-公开
    Vorrichtung zumPrüfenvon elektronischen Bauteilelementen

    公开(公告)号:EP2677326A1

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:EP12172426.4

    申请日:2012-06-18

    发明人: Lorenz, Bernhard

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: Die Erfindung geht aus von einer Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Bauteilelementen, die auf ein Substrat (9) aufgebracht sind, mit Prüfnadeln (12), die auf Kontaktflächen des Substrats (9) aufsetzbar sind. Erfindungsgemäß ist eine rahmenartige Stützstruktur (14) vorgesehen, die das Substrat (9) so abstützt, dass sich die einzelnen Bauteilelemente (10) in Freiräumen der Stützstruktur (14) befinden.

    摘要翻译: 测试装置具有可以放置在基板(9)的接触表面上的测试销和支撑基板的框架状支撑结构,使得各个部件装置(10)位于支撑结构的开放空间中 。 框架状支撑结构被布置在一组组件装置周围。 设置在支撑结构相对的夹紧元件(8a,8b,8c),使得在夹紧位置,基板垂直于基板的平面被按压到框架状支撑结构上并保持就位。